【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测设备,尤其是用于LED的分光分色设备。
技术介绍
随着中国逐渐成为世界的LED封装加工中心及LED应用领域对LED分光分色质量的不断提高;全自动的LED分光分色测试分选设备已逐渐成为LED封装生产线的必备设备。 目前LED的分光分色设备中一般包括一个光学探测头和一个色度学探测头,测量时,光学探测头用于测量LED的光强等光学特性,而色度学探测头则用于测量LED的色温、色品坐标等色度学参数。而LED由于在生产制造过程中导致的荧光粉分布不均勻等原因,导致LED左右发光区域光色不一致,即为LED制造过程中出现的阴阳色问题,这种有阴阳色问题的LED 光源,属于不良品,但在分光分色过程中单个色度学探头并不能检测出其差异,流入应用领域后,降低了照明质量。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种分光分色设备,多点测量,测量出LED 不同发光方向上的色品坐标,多点参数对比,剔除有阴阳色问题的不良品,保证LED的质量。为解决上述技术问题,本技术的技术方案之一是一种分光分色设备用探测部分,包括支架、探测头、探测平台,所述探测头包括光学探测头和色度学探测头;所述支架上设有一个光学探测头和若干色度学探测头,形成色度学参数的多点测量作为改进,所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成,所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。作为改进,所述光学探测头设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处,色度学探测头分布在光学探测头的四周。为解决上述技术问题,本技术的技术方案之二是一种分光分色设备的探测部分,包括支架、探测头、探测平台,所述探测头包括光学探测头和色度学探测头 ...
【技术保护点】
1.一种分光分色设备,其探测部分包括支架、探测头、探测平台,所述探测头包括光学探测头和色度学探测头;其特征在于:所述支架上设有一个光学探测头和若干色度学探测头,形成多点测试。
【技术特征摘要】
1.一种分光分色设备,其探测部分包括支架、探测头、探测平台,所述探测头包括光学探测头和色度学探测头;其特征在于所述支架上设有一个光学探测头和若干色度学探测头,形成多点测试。2.根据权利要求1所述的一种分光分色设备,其特征在于所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成,所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。3.根据权利要求2所述的一种分光分色设备,其特征在于所述探测部分的光学探测头设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处,色度学探测头分布在光学探测头的四周。4.一种分光分色设备,其探测部分包括支架、探测头、探测平台,所述探测头包括光学探测头和色度学探测头;其特征在于所述支架上设有一个光学探测头和一个色度学探测头,所述支架上设有供探测头滑动的轨道,所述色度学探测头与所述轨道滑动连接,形成多点测试。5.根据权利要求4所述的一种分光分色...
【专利技术属性】
技术研发人员:彭学斌,李泽锋,洪琴,李国平,
申请(专利权)人:广州市鸿利光电股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:81
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