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一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统技术方案

技术编号:6943939 阅读:247 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本发明专利技术所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,可以克服现有技术中测量角度准确性差、实验可靠性低与低温下测量误差大等缺陷,以实现测量角度准确性好、实验可靠性高与低温下测量误差小的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超导材料测量技术,具体地,涉及一种μ m级超导丝材低温下光电联合测量系统。
技术介绍
铌钛(NbTi)超导复合丝,属于多尺度复合材料,主要由纯NbTi超导丝和铜基组成;其中,纯NbTi超导丝的量级为μπι级。在现有的技术中,对μ m级丝材的测量,一般将引伸计直接夹在纯超导细丝上进行测量。通常,因为常规引伸计的质量远大于纯NbTi超导丝的质量,会拉拽ym级细丝,使其弯曲,从而极大的影响对μ m级超导丝材实验测量的角度。具体地,在现有技术中,对于μπι级超导丝材的测量有大致两种不同的方法一种是基于电学原理的应变计测量法,另一种是基于光学原理的光学探测器测量法。但是,这两种方法只适合在常温下进行,在极低温区下(如77Κ),这两种方法测量均存在一定的误差。另外,引伸计夹到μ m级细丝上,引伸计的刀口很容易将超导细丝切断,造成实验无法进行。综上所述,在实现本专利技术的过程中,专利技术人发现现有技术中至少存在以下缺陷(1)测量角度准确性差常规引伸计的质量远大于纯NbTi超导丝的质量,会拉拽 ym级细丝,使其弯曲,从而极大的影响对μ m级超导丝材实验测量的角度;(2)实验可靠性低引本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种                                                级超导丝材低温下光电联合测量系统,其特征在于,包括去除铜基的级纯超导丝材,以及分别与所述级纯超导丝材配合设置的级超导丝材光学测量装置、及级超导丝材电学测量装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王省哲关明智周又和
申请(专利权)人:兰州大学
类型:发明
国别省市:62

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