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本发明公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统，包括去除铜基的μm级纯超导丝材，以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本发明所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统，可以克服...
该专利属于兰州大学所有，仅供学习研究参考，未经过兰州大学授权不得商用。

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