当前位置: 首页 > 专利查询>梁红专利>正文

偏振光干涉法测量拉锥光纤直径的方法技术

技术编号:6865201 阅读:303 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种偏振光干涉法测量拉锥光纤直径的方法,它是选用半导体激光器发出单色光,经过起偏器和两个柱状凸透镜后成为平行带状线偏振光;线偏振光带照射在被测光纤上发生干涉衍射;干涉衍射条纹图谱被接收屏接收;CCD照相机可以高频率获取干涉衍射图谱并输入计算机;计算机读取光强极值与数据库对比,输出被测光纤直径数值,实现光纤拉制过程中对光纤直径的实时、快速、准确测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量光纤直径的方法,尤其是用偏振光非接触精密测量拉锥光纤直径的方法。
技术介绍
随着纤维光学的发展,光纤作为一种低损耗、容量大、抗干扰能力强的传输介质, 在光学通讯系统、医学、传感器等领域获得了越来越广泛的应用;许多重要的光纤结构,例如方向耦合器和光束放大器都基于单模锥形光纤;锥形过渡区在非锥形光纤锥腰中将局部的基模从核模转换为覆层模式,是许多应用的基础;在锥形光纤中的群速色散强烈的依赖于光纤的半径;耦合效率与其拉伸的距离和锥型光纤腰部的半径有密切关系。因此,在锥型光纤的拉制过程中,必须对其外径进行精确的控制;两根光纤连接时,通常利用它们的外部边界作为共同的基准,因此光纤直径必须具有很高的准确度;由于测量光纤直径的主要目的之一是对拉丝过程进行监控,因此生产对测量方法提出的要求是能实时采集和处理数据,即具有快速测量的特点;测量直径的方法必须是非破坏性和非接触,因为与光纤表面的任何接触都会减小拉制光纤的强度。公知的测量光纤直径的方法有扫描阴影法和投影放大法、前向近轴远场干涉法及回音波模式测量法。“光纤参数检测及分析”第十一届全国光电技术与系统学术会议论文集 2005-本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏振光干涉法测量拉锥光纤直径的方法,包括建立数据库输入计算机;线偏振光带照射拉锥光纤;使用CCD照相技术获取拉锥光纤干涉衍射图谱;计算机读取数据、输出被测光纤直径数值;其特征在于所述的数据库是基于偏振光干涉衍射理论导出光纤半径与光强极值的关系,通过计算而建立;所述的线偏振光带是激光经过起偏器和两个柱状凸透镜而获得;所述的拉锥光纤干涉衍射图谱由接收屏接收,CCD照相机从接收屏获取拉锥光纤干涉衍射图谱;所述的计算机读取数据是计算机分析拉锥光纤干涉衍射图谱读取光强极值数据;所述的输出被测光纤直径数值是计算机读取光强极值数据与数据库进行对比,输出被测光纤直径数值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:梁红
申请(专利权)人:梁红
类型:发明
国别省市:11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1