样本分析仪制造技术

本发明专利技术提供一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种样本分析仪，特别是涉及一种配置有带有电子标签的试剂容器的样本分析仪，所述电子标签上记录着试剂信息。
技术介绍
人们已经知道，历来有一种样本分析仪配置带有记录着试剂信息的电子标签的试剂容器。比如日本专利公报No. 2009/210444上公开了一种自动分析装置，其包括固定数支带无线IC标签的试剂容器的试剂容器固定部件，其中所述无线IC标签上记录有试剂信息；从无线IC标签接收电波的天线部件；从天线部件接收无线IC标签返回的电波的信息读取及存储部件；探测在天线部件正面位置有无试剂容器的传感器。此自动分析装置中，当试剂容器位于天线部件正面位置时实施试剂信息读取作业，当试剂容器不在天线部件正面位置时信息读取及存储部件不向天线部件发送信号，不实施试剂信息读取作业。在数支试剂容器并列固定的分析仪中，一次读取作业可能从数个电子标签读取试剂信息，此时很难判断哪个试剂信息是从读取目标电子标签读取的信息。比如，日本专利公报No. 2009/210444上公开的自动分析装置中，如果从与天线部件正面位置的试剂容器相邻的试剂容器的无线IC标签读取了试剂信息，很难辨别哪个试剂信息是从天线部件正面位置的试剂容器的电子标签读取的信息。为避免这种情况发生， 必须确保试剂容器之间有很大的配置间隔，因此存在仪器体积相应增大的问题。
技术实现思路
本专利技术的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节
技术实现思路
的陈述所限。S卩，本专利技术提供(1) 一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括试剂容器固定部件， 用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。(2) (1)所述的样本分析仪，其中，所述限制部件包含带间隙的金属部件，所述间隙用于让所述天线部件发射的所述电波通过。(3) (2)所述的样本分析仪，其中，所述间隙一直延伸到所述金属部件的末端。(4) (2)所述的样本分析仪，其中，所述间隙的垂直方向长度大于所述间隙的水平方向长度。(5) (1)所述的样本分析仪，包括移动所述试剂容器固定部件和所述天线部件中的至少其中之一的驱动部件。4(6) (5)所述的样本分析仪，其中，所述限制部件相对于所述天线部件的位置是固定的。(7) (6)所述的样本分析仪，其中，所述驱动部件移动所述试剂容器固定部件，使读取目标试剂信息的电子标签位于所述天线部件的正面位置；及所述限制部件用于限制所述天线部件发射的电波到达与所读取的目标电子标签相邻的电子标签。(8) (6)所述的样本分析仪，其中，所述天线部件包含发射电波的天线基板和固定所述天线基板的天线固定部件；及所述限制部件安装在所述天线固定部件上。(9) (8)所述的样本分析仪，包括收纳所述试剂容器固定部件和所述天线部件的收纳部件；及冷却所述试剂的冷却部件，其中所述天线固定部件在可透过电波的状态下覆盖所述天线基板。(10)⑴所述的样本分析仪，其中，所述复数支试剂容器包括复数支带第一电子标签的第一试剂容器和复数支带第二电子标签的第二试剂容器；所述试剂容器固定部件包含固定所述复数支第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述复数支第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；所述天线部件包含向所述第一电子标签发射电波的第一天线部件和向所述第二电子标签发射电波的第二天线部件；及所述限制部件包含设置在所述第一电子标签和所述第一天线部件之间的第一限制部件，以及设置在所述第二电子标签和所述第二天线部件之间的第二限制部件。(11) (1)所述的样本分析仪，其中，所述复数支试剂容器包含带第一电子标签的第一试剂容器和带第二电子标签的第二试剂容器；所述试剂容器固定部件包含固定所述第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；所述天线部件配置在所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件之间；及所述限制部件设在所述第一电子标签和所述天线部件之间以及所述第二电子标签和所述天线部件之间这两个位置中的至少其中一处。(12) (11)所述的样本分析仪，其中，所述第一试剂容器固定部件从平面看呈圆环形，固定复数支第一试剂容器；所述第二试剂容器固定部件从平面看在所述第一试剂容器固定部件内侧呈圆环形，固定复数支第二试剂容器；及所述限制部件设在所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器的第二电子标签和所述天线部件之间。(13) 一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括试剂容器固定部件，用于固定复数支带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的试剂容器；向所述电子标签发射电波的天线部件，其中所述天线部件向所述电子标签发射的电波范围受到限制。(14) (13)所述的样本分析仪，其中，所述天线部件包含限制向所述电子标签发射电波的范围的限制部件。根据上述(1)或(13)的结构，可以防止误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。因此，即使不加大相邻试剂容器之间的配置间隔，也可以防止误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。从而可以抑制仪器本身体积增大。根据上述⑵的结构，可以用金属部件间隙以外的部分遮挡不需要的电波，从而可以方便地将天线部件发射的电波范围限制在所希望的范围内。根据上述(3)的结构，可以使间隙不被金属部件包围，从而避免金属部件产生涡电流。如此可以防止通过间隙的电波输出减弱。如果间隙完全被金属部件包围，通过间隙的电波就会在间隙周围的金属部件产生涡电流，电波的输出会因这种涡电流而削弱。根据上述的结构，可以防止在试剂容器水平方向相邻配置的状态下，误读取无需读取试剂信息的电子标签上记录的试剂信息。根据上述(5)的结构，可以用天线部件切实读取数支试剂容器各自附带的电子标签的试剂信息。根据上述(6)的结构，即使天线部件移动，限制部件和天线部件的相对位置关系不变，不必进行相互间的对位，因此可以用天线部件更切实地读取数支试剂容器各自所附带的电子标签的试剂信息。又因为不必为数支试剂容器逐个设置限制部件，以此可以控制零部件数量的增加。根据上述(8)的结构，可以将限制部件固定地安装在天线固定部件上，可以切实保持限制部件和天线部件的相对位置关系。根据上述(9)的结构，当用冷却部件冷却试剂时，可以用覆盖天线基板的天线固定部件防止因结露而产生的水滴附着在天线基板上。以此还可以防止因天线基板上附着水滴而引起构成天线基板的线路短路。根据上述(10)的结构，可以用更短的时间获取记录在数个电子标签中的试剂信息。根据上述(11)的结构，可以共用一个天线部件来获取第一电子标签和第二电子标签上记录的试剂信息，从而得以相应地控制零部件数量的增加。根据上述(1 的结构，在第一试剂容器固定部件内环一侧的、基本上为圆环状的第二试剂容器固定部件，其外环周长小于第一试剂容器固定部件，因此，数支第二试剂容器往往会比数支第一试剂容器更紧凑地配置。即使如此，也可以避免天线部件发射的电波误到达无需读取试剂信息的电子标签。附图说明图1为本专利技术第一实施方式涉及的免疫分析仪的整体结构斜视图；图2为图1所示第一实施方式涉及的免疫分析仪的整体结本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：元津和典，
申请(专利权)人：希森美康株式会社，
类型：发明
国别省市：JP