一种在位式吸收光谱气体分析系统技术方案

本发明专利技术公开了一种在位式吸收光谱气体分析系统，包括光发射单元、光接收单元和信号分析单元；所述光发射单元包括光源、会聚透镜；特点是：所述会聚透镜背对光源的一端为弧面；在会聚透镜的弧面端设置一端开口、一端封闭的标定腔室，开口端与会聚透镜密封连接；所述会聚透镜的中间部分的A-A截面为任意几何形状；所述光源发出的光通过所述会聚透镜、标定腔室后进入被测介质。本发明专利技术具有能实时在线标定、测量精度和测量灵敏度较高、结构简单可靠、易于实现隔爆功能、无需吹扫、密封要求低以及制造方便等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱分析，特别涉及一种在位式吸收光谱气体分析系统。
技术介绍
在位式气体分析系统与传统采样方式气体分析系统不同，它不需要采样和预处理 过程，克服了传统采样方式气体分析系统的很多缺陷，具有系统简单，可靠性高，测量响应 速度快，分析精度高，可以测量气体的浓度和速度等优点，在现代工业，科研，环保等领域获 得了越来越广泛的应用。在位式气体分析系统可以采用多种吸收光谱技术来实现，如非 分光红外光谱(NDIR)技术，差分光学吸收光谱(D0AQ技术，可调谐半导体激光吸收光谱 (TDLAS)技术。如图1所示，一种半导体激光吸收光谱气体分析系统，包括光发射单元1、光接收 单元2和信号分析单元3，所述光发射单元1和光接收单元2安装在被测气体4的两侧。所 述光发射单元包括半导体激光器11、会聚透镜12和玻璃窗片13 ；所述光接收单元2包括会 聚透镜20、光接收器件21和玻璃窗片22。当所述分析系统需要防爆时，所述玻璃窗片13、 22使用钢化玻璃，而且为了满足隔爆面大小的需要，钢化玻璃13、22的直径较大；同时很多 在位测量应用也需要大孔径的光束来降低被测气体中颗粒物散射对测量光产生的不均本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种在位式吸收光谱气体分析系统，包括光发射单元、光接收单元和信号分析单元；所述光发射单元包括光源、会聚透镜；其特征在于：所述会聚透镜背对光源的一端为弧面；在会聚透镜的弧面端设置一端开口、一端封闭的标定腔室，开口端与会聚透镜密封连接；所述会聚透镜的中间部分的Ａ－Ａ截面为任意几何形状；所述光源发出的光通过所述会聚透镜、标定腔室后进入被测介质。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张文艳，周新，吴国凯，俞大海，马海波，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：86