一种相位检测电路制造技术

技术编号:6691824 阅读:217 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种相位检测电路,包括一检测芯片,所述检测芯片的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端,光耦U1的集电极输出端连接一上拉电阻R3,所述光耦U1的发射极输出端接地,所述光耦U1的第一输入端连接电阻R2,所述电阻R2连接电阻R1,所述电阻R1连接二极管D1,所述二极管D1连接检测端N,所述光耦U1的第二输入端接地。本实用新型专利技术的电路结构简单,使用方便。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应用电路,具体的涉及一种相位检测电路
技术介绍
现有的相位检测电路形形色色种类繁多,但大多结构复杂,功能复杂,而在一些只 需要功能单一的应用场合下,往往是采用复杂电路结构的相位检测电路来完成单一功能的 相位检测功能,这样一方面成本会有所提高,另外一方面,电路结构一旦复杂化后,其背后 的不稳定因素也在增加,如此便在无形之中降低了产品合格率。
技术实现思路
为克服现有技术中的不足,本技术的目的在于提供一种结构简单的相位检测 电路。为了解决上述技术问题,实现上述目的,本技术采用了如下技术方案一种相位检测电路,包括一检测芯片,所述检测芯片的检测端口 A/D连接在一光 耦Ul的集电极输出端,光耦Ul的集电极输出端连接一上拉电阻R3,所述光耦Ul的发射极 输出端接地,所述光耦Ul的第一输入端连接电阻R2,所述电阻R2连接电阻R1,所述电阻Rl 连接二极管D1,所述二极管Dl连接检测端N,所述光耦Ul的第二输入端接地。进一步的,所述光耦Ul的集电极输出端与发射极输出端之间跨接有一滤波电容 C2。进一步的,所述光耦Ul的第一输入端与第二输入端之间跨接有一滤波电容Cl。进一步的,所述光耦U本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种相位检测电路,包括一检测芯片(5),其特征在于:所述检测芯片(5)的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端(4),光耦U1的集电极输出端(4)连接一上拉电阻R3,所述光耦U1的发射极输出端(3)接地,所述光耦U1的第一输入端(1)连接电阻R2,所述电阻R2连接电阻R1,所述电阻R1连接二极管D1,所述二极管D1连接检测端N,所述光耦U1的第二输入端(2)接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:胡国良魏王江
申请(专利权)人:苏州合欣美电子科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:32

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