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本实用新型公开了一种相位检测电路，包括一检测芯片，所述检测芯片的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端，光耦U1的集电极输出端连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端接地，所述光耦U1的第一输入端连接电阻R2，所述电阻R2连接电...
该专利属于苏州合欣美电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州合欣美电子科技有限公司授权不得商用。

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