一种PLC型光分路器测试方法，它的光源由一根光源线输出，输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准，测试初始值p0即可；后光源线与待测PLC的单纤连接起来，PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器，每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式，由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作，可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。本发明专利技术提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单，测试效率，节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理，从而提高企业的生产效率和竞争力。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种PLC型光分路器的测试方法
技术介绍
随着光纤到户(FTTH)的逐渐发展，市场对均分宽带型多分路分路器的需求在迅速地增长。与传统的拉锥型分路器相比，平面波导型(PLC)器件材料和封装技术不断提高， 使得PLC分路器不仅在技术指标上，而且在生产成本和规模上，都越来越体现出它的优势。在图1典型的E/GP0N接入解决方案中，ODN处为光分路器1:N即PLC型光分路器。传统的PLC型光分路器的测试方法参见图2，这是一种单通道单项指标单个波长逐次测量方法。测试步骤为先将3波长(例如，1310nmU550nmU490nm的光源通过光开关分别对这3个波长的光源校零，后将待测PLC型光分路器(DUT)接入如图所示光路中，对每通道的每个波长分别测试其插入损耗IL，偏振相关损耗PDL。这种测试方法的缺点就是测试时间长，测试效率极低。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种操作步骤简单且测试效率高的PLC型光分路器测试方法，实现多通道多项指标多个波长一次完成测量。为实现上述目的，本专利技术提供的一种PLC型光分路器测试方法它包括以下步骤将光开关集成到3波长光源并经8通道功率计连起来，将偏振控制器集成到8通道功率计，由电脑统一控制。光源由一根光源线输出，输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准，测试初始值PO即可；后光源线与待测PLC的单纤连接起来，PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入8通道光功率计中进行测试，PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器，每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式，由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作，可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。本专利技术提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单，测试效率，节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理，从而提高企业的生产效率和竞争力，可适用不同光分路数的光分路器既适用于所有的PLC型光分路器，又适用于熔融拉锥型(FTB) 光分路器的产品测试。另外，降低人为测试误差，使结果更具科学性，有效性。附图说明图1是本专利技术的PLC型光分路器的使用状态图。图2是现有技术的PLC型光分路器的测试方法的原理框图。图3是本专利技术的PLC型光分路器的测试方法的原理框图。下面结合附图对本专利技术作详细说明。具体实施例方式参见图3，本专利技术的实施例是8通道光功率计(8CH PM)，此台设备整合了传统测试设备的3台光源，例如，波长为1310、1550、1490纳米(nm)、l台3向切换光开关和1台偏振控制器和8台单通道光功率计，而8通道光功率计与电脑(图中未示出)相连接，测试数据可以在测试结束后按实际需要选定。本专利技术提供的方法是将上述3向切换光开关集成到上述3波长光源上并经上述 8通道功率计连起来，将偏振控制器集成到8通道功率计，由电脑统一控制。光源由一根光源线输出，输出的光源线经上述8通道功率计的8个探测口分别校准，并测试初始值p0即可；后光源线与待测PLC的单纤连接起来，PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入到上述8通道光功率计中进行测试，PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器，每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL 模式，由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作，这样可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。从而节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理，从而提高企业的生产效率和竞争力。以上显示和描述了本专利技术的基本原理和主要特征和本专利技术的优点。本领域的技术人员应该了解，本专利技术不受上述具体实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。权利要求1.一种PLC型光分路器测试方法，其特征在于，将3波长光源经8通道功率计连起来，由一根光源线输出；将输出的上述光源线进上述8通道功率计的8个探测口分别校准，测试初始值即可； 将后光源线与待测PLC的单纤连接起来，带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，上述带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入上述8通道光功率计中进行测试，上述 PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器，每根连接器分别与8通道光功率计连接；以及然后选择PDL模式，可以对8通道对应三个波长的插入损耗和偏振相关损耗一次测试完成。2.如权利要求所述的PLC型光分路器测试方法，其特征在于，所述3波长光源的三种波长为 1310、1550、1490nm。全文摘要一种PLC型光分路器测试方法，它的光源由一根光源线输出，输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准，测试初始值p0即可；后光源线与待测PLC的单纤连接起来，PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器，每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式，由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作，可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。本专利技术提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单，测试效率，节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理，从而提高企业的生产效率和竞争力。文档编号G01M11/02GK102192830SQ20101058174公开日2011年9月21日 申请日期2010年12月10日 优先权日2010年12月10日专利技术者乐志强, 侯戟, 李德红, 王承波, 骆升 申请人:上海霍普光通信有限公司 本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种ＰＬＣ型光分路器测试方法，其特征在于，将３波长光源经８通道功率计连起来，由一根光源线输出；将输出的上述光源线进上述８通道功率计的８个探测口分别校准，测试初始值即可；将后光源线与待测ＰＬＣ的单纤连接起来，带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来，上述带纤分支器的８个连接器分别按顺序插入上述８通道光功率计中进行测试，上述ＰＬＣ成品测试则是选择匹配的８根连接器，每根连接器分别与８通道光功率计连接；以及然后选择ＰＤＬ模式，可以对８通道对应三个波长的插入损耗和偏振相关损耗一次测试完成。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李德红，骆升，王承波，侯戟，乐志强，
申请(专利权)人：上海霍普光通信有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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