【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于在制造过程中调节电子称量装置的校准结构的方法，所述电子称量装置包括校准结构和力测量装置。本专利技术还涉及一种校准称量装置的方法以及一种执行该方法的装置。
技术介绍
称量装置的灵敏度通常会由于环境影响因素例如温度和大气压力的波动以及由于构件的老化而随时间变化。因此，称量装置应定期地重新进行校准。在许多情况下，电子称量装置借助于内部校准重量体校准。为了执行校准，确定质量的校准重量体被使得与力传递装置或与力测量单元的力接收部件力传递接触，且确定参考值，其中，所述力传递装置设置在称量装置的力测量单元中。基于该参考值，可调节称量装置的其他称量参数。在已成功地完成校准之后，校准重量体再次与力传递装置或力接收部件脱开，且固定在空悬位置。在该校准过程中，转移机构将校准重量体从空悬位置移动到校准位置并返回到空悬位置。在校准位置，校准重量体与力测量单元力传递接触、特别是与力测量单元的力接收部件力传递接触。在空悬位置，不产生力传递接触。校准重量体的运动范围在两个方向上均受机械元件限制。这些元件可例如在转移机构如EP 1873504A1 中所述地借助于螺纹轴驱动时...
【技术保护点】
１．一种用于在制造过程中调节电子称量装置的校准结构（４０）的方法，所述电子称量装置包括校准结构（４０）和力测量装置（１），所述校准结构（４０）包括转移机构（４４），所述转移机构具有驱动系统（４３），其中，校准结构（４０）将至少一个校准重量体（４１）耦合到力测量装置（１），所述耦合通过使校准重量体（４１）在空悬位置（５８）与校准位置（５７）之间被引导地运动的转移机构（４４）实施，其中，所述方法包括以下步骤：－将校准重量体（４１）移动到第一端部止挡（４５）；－然后将校准重量体（４１）移动到第二端部止挡（４５）；－借助于计数系统（５６）测量两个端部止挡（４５）之间的行进距离，其中...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：M·于斯泰尔，
申请(专利权)人：梅特勒托利多公开股份有限公司，
类型：发明
国别省市：CH
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