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提供了一种用于在制造过程中调节电子称量装置的校准结构(40)的方法，其中，所述校准结构(40)包括转移机构(44)，所述转移机构具有驱动系统(43)，且校准结构(40)将至少一个校准重量体(41)耦合到力测量装置(1)，所述耦合通过转移机构...该专利属于梅特勒-托利多公开股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过梅特勒-托利多公开股份有限公司授权不得商用。
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