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一种用于微量分光光度计的取样测量装置及其使用方法制造方法及图纸

技术编号:6636297 阅读:228 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开一种用于微量分光光度计的取样测量装置,属于微量分光光度计领域。其包括距离可调的上测量平台与下测量平台;上测量平台上设置有投射光纤座或接收光纤座,下测量平台上设置有接收光纤座或投射光纤座,所述投射光纤座以及接收光纤座上下对正且内部插有光纤;上测量平台上设置有第一顶丝,下测量平台上与所述第一顶丝相对应的位置设置有可以上下移动的升降座,和套设在所述升降座外与所述下测量平台固定的电磁铁磁缸;所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座相连接的检测单元,所述检测单元包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块。本发明专利技术通过加入数值校正模块对光程长度进行校正,可以使普通使用者在不用精确调整光程长度的情况下实现精确测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于分光光度计领域,尤其涉及一种微量分光光度计。
技术介绍
分光光度法是常用的生化测试方法之一,广泛应用于糖、核酸、酶或者蛋白等样品的快速定量检测;分光光度法的测试仪器为分光光度计,传统设备中放置检测样品的容器为比色皿,但是比色皿的内容量较大,所以对待检样品进行分光光度检测时,一方面需要耗费较大量的待检样品,造成珍贵的核酸、蛋白等样品的浪费,另一方面在进行不同待检样品的检测时,还需要反复清洗比色皿,给实验工作带来很多额外工作量。微量分光光度计的出现有效地解决了上述技术问题,在使用微量分光光度计对样品进行检测时,其主要利用微量液体的张力牵引形成光通路,所以只需要很微量的待检样品即可以获得准确的检测数据,从而可以完全替代比色皿,极具创新性和实用性。自从首款微量分光光度计面世以来,受到全球分子生物学实验室的一致追捧和好评。现有技术中,微量分光光度计的液体取样一般采用如图6所示的方式,在上下对置且具有一定间隙的上测量平台(30)和下测量平台(32)之间桥接着待测样品(31),由于待测样品具有一定的表面张力,所以桥接的待测样品不会出现断层,这样设置在上测量平台的投射光纤射出的测量光穿过待测液体样品,并由设置在下测量平台的接收光纤进行接收后进入测量机构进行测量。美国专利US2002154299就公开了一种应用液体表面张力取样的微量分光光度计,其取样机构包括由一个中心轴连接的底座和旋转臂,一个固定于旋转臂的投射光纤座, 一个固定于底座上的接收光纤座,被测样品桥接在所述投射光纤座和所述接收光纤座之间。在旋转臂上还连接设置有顶丝,在所述底座上设置有一个带有活塞的电磁铁,其中,所述活塞的上表面和顶丝的下底面接触。工作时,该技术所述的微量分光光度计通过控制电磁铁的电通断来调节微量分光光度计的光程长度,即翻转旋转臂使投射光纤座与接收光纤座相对时,通过调节顶丝的上下移动调整光程长度为1. 0mm,此时,接通电路对所述电磁铁进行通电,电磁铁通电后在其磁力作用下,顶丝受到向下的吸力,从而推动所述活塞下降, 进而将光程长度调整到0. 2mm。这种微量分光光度计的两个光程长度之间的转换是通过活塞上下移动的精确距离进行控制,通常在出厂之前经过严格的标定,出厂后一般将不再进行变动。在利用上述现有技术中的微量分光光度计对不同待检样品进行测定时,为了获得准确的对比效果,则需要在完全相同的光程长度下进行比对测定。而在实际应用时,经过多次取样后,上下测量平台之间的距离会由于旋转臂的不断打开和闭合以及顶丝的长期使用磨损而产生微量变化,也就是说光度计的光程长度发生变化,此时为保证测量结果准确需要重新调节上、下测量平台之间的距离,而由于上下测量平台之间的距离最多也只有Imm 左右的距离,利用手动技术进行微量调节不仅需要花费很多时间和精力,而且精确度完全没有保障,所以就不可避免地影响实验结果的准确度。如果要在长期使用后仍保证检测准确性,用户就不得不寻求厂家进行出厂设置的恢复。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中的微量分光光度计由于长期使用,很容易造成测量时光程长度的微量变化,利用手动调节很难完全对该微量变化进行校正,如果为了保证实验结果的准确度就不得不进行出厂设置的恢复,进而提供一种可自身进行光程长度校正的微量分光光度计。为实现上述目的,本专利技术提供的微量分光光度计的取样测量机构包括通过中心轴连接在一起的下测量平台和上测量平台,所述上测量平台可沿所述中心轴转动打开;在所述上测量平台上固定设置有投射光纤座,在所述下测量平台上设置有接收光纤座,所述投射光纤座以及所述接收光纤座分别与光纤相连接;所述上测量平台闭合时,所述投射光纤座以及所述接收光纤座上下对正,形成容纳待检样品的样品槽;在所述上测量平台上,垂直于所述上测量平台纵向贯通设置有第一顶丝,在所述下测量平台上与所述第一顶丝相对应的位置纵向设置有可沿纵向上下移动的升降座,和套设在所述升降座外的磁缸;所述上测量平台闭合时,所述第一顶丝的底端和所述升降座的顶端相接触;所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座相连接的检测单元,所述检测单元包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块;所述光电转换模块和所述接收光纤座通过光栅相连接,所述光电转换模块和所述数据接收模块相连接,将经光电转换后的电信号输入至所述数据接收模块;所述数据接收模块还分别和所述检测计算模块、数值校正模块以及光程长度选择模块相连接,所述检测计算模块接收所述数据接收模块输出的检测数据并对其进行计算,所述数值校正模块与所述检测计算模块连接,所述数值校正模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定校正系数,并将该校正系数输入至所述数据接收模块,检测计算模块根据确定的校正系数进行吸光值计算;所述光程长度选择模块与所述检测计算模块连接,所述光程长度选择模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定光程长度,并将选择的光程长度输入至所述数据接收模块,检测计算模块再根据相应所述光程长度进行计算;所述检测数据输出模块将所述检测计算模块计算得到的检测数值输出。在所述上测量平台上,垂直于所述上测量平台还纵向贯通设置有第二顶丝,相对于所述上测量平台朝向所述下测量平台的一端,所述第一顶丝的底端低于所述第二顶丝的底端。在所述升降座的底部设置有可朝向所述升降座施加偏压力的偏压力部件,所述偏压力部件的另一端与所述磁缸内部的底端相抵触。所述磁缸得电时,得到最小光程长度;所述磁缸失电时,得到最大光程长度;所述最小光程长度为0. 2mm,最大光程长度为1. 0mm。在所述上测量平台关闭时,在所述上测量平台和所述下测量平台相对的两个平面的对应位置处分别开设凹槽,在所述凹槽内部放置磁铁,通过所述磁铁的磁力实现对所述上测量平台和所述下测量平台的锁定。所述检测单元还包括光程长度选择模块,用于判断待检样品的浓度大小以决定待检样品的光程长度。所述光电转换模块为光电探测器。本专利技术同时提供一种上述用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法,其包括以下步骤(1)翻转并关闭所述上测量平台,使其与所述下测量平台上下对正,对空白样品进行测量,测量得到入射光强Itl;(2)翻转并打开所述上测量平台,将微量标准溶液滴加到所述下测量平台上的接收光纤座或投射光纤座的上表面上,关闭所述上测量平台使其与下测量平台上下对正,被测标准溶液桥接于所述投射光纤座和所述接收光纤座之间;(3)通过调节所述第一顶丝,使所述投射光纤座与所述接收光纤座之间的距离接近最大光程长度;对所述磁缸进行通电,在所述磁缸的磁力作用下,所述第一顶丝下压所述升降座,达到平衡时,使得所述投射光纤座与所述接收光纤座之间的距离接近最小光程长度;(4)上述距离调节完毕后,所述光栅对所述接收光纤座内光纤接收到合成光信号进行分光,将不同波长的光信号分成单色光,所述光电转换模块接收所述单色光并分别将其光强值I转化为电信号,所述数据接收模块接收上述电信号并对所述电信号进行处理,并将所述处理后的信号传输至所述检测计算模块,在所述检测计算模块根据转换后的被测样品光强值I以及空白光强值Itl得到吸光值A=-Ig(IAtl),最后将计算得到的吸光值输入至所述数值校本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种用于微量分光光度计的取样测量装置,其包括上测量平台(4)和下测量平台(5),所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)之间的距离可调;    在所述上测量平台(4)上设置有投射光纤座(3)或接收光纤座(6),在所述下测量平台(5)上设置有接收光纤座(6)或投射光纤座(3),所述投射光纤座(3)以及所述接收光纤座(6)分别与光纤相连接;所述投射光纤座(3)以及所述接收光纤座(6)上下对正,用于容纳待检样品;在所述上测量平台(4)上,设置有用于调节所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)之间距离的第一顶丝(1),在所述下测量平台(5)上与所述第一顶丝(1)相对应的位置设置有可以上下移动的升降座(7),和套设在所述升降座(7)外与所述下测量平台(5)固定的电磁铁磁缸(9);所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)上下对正时,所述第一顶丝(1)的底端和所述升降座(7)的顶端相接触;其特征在于:所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座(6)相连接的检测单元(20),所述检测单元(20)包括光电转换模块、数据接收模块、检测计算模块、数值校正模块、光程长度选择模块和检测数据输出模块;所述光电转换模块和所述接收光纤座(6)通过光栅相连接,所述光电转换模块和所述数据接收模块相连接,将经光电转换后的电信号输入至所述数据接收模块;所述数据接收模块还分别和所述检测计算模块、数值校正模块以及光程长度选择模块相连接,所述检测计算模块接收所述数据接收模块输出的检测数据并对其进行计算,所述数值校正模块与所述检测计算模块连接,所述数值校正模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定校正系数,并将该校正系数输入至所述数据接收模块,检测计算模块根据确定的校正系数进行吸光值计算;所述光程长度选择模块与所述检测计算模块连接,所述光程长度选择模块接收所述检测计算模块输出的计算结果并对该结果进行比对确定光程长度,并将选择的光程长度输入至所述数据接收模块,检测计算模块再根据相应所述光程长度进行计算;所述检测数据输出模块将所述检测计算模块计算得到的检测数值输出。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵景琪
申请(专利权)人:赵景琪
类型:发明
国别省市:11

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