一种测试设备制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种测试设备，包括：与待测电源板相连接的有源电阻，其作为待测电源板的负载；与MCU和有源电阻相连接DAC，用于对MCU发送的数字的负载调节指令进行数模转换并发送至有源电阻，使有源电阻根据模拟的负载调节指令自动调整待测电源板的负载状态；与DAC相连接的MCU，用于根据预设的测试参数，生成数字的负载调节指令并发送至DAC；与MCU和待测电源板相连接的ADC，用于对待测电源板当前负载状态下的输出电压进行采样和模数转换，获得输出电压信号，并将所述输出电压信号传送至所述MCU进行测试。采用本实用新型专利技术，可自动调节电源板的负载状态，一次性获得电源板在各种负载状态下的测试结果，提高测试效率，提高实用性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电源板测试
，尤其涉及一种测试设备。
技术介绍
一般地，电子产品(如DVB (Digital Video Broadcasting，数字视频广播)、DVD (Digital Versatile Disc，数字多功能光盘)等)均包括电源板，根据电子产品的工作情况， 其电源板存在多种负载状态，如空载状态、轻载状态、典型负载状态和满载状态等。各种负载状态下，电源板的输出电压存在较大变化，为了保证电子产品的可靠性，需要对电源板在各种负载状态下的输出电压进行有效测试。现有的测试方案主要为使用电压测量工具，分别测试电源板在各种负载状态下的输出电压值。专利技术人发现，现有的测试方案一次仅能对电源板的一种负载状态进行测试， 如若电源板当前负载状态为空载状态，则使用电压测量工具可测量出空载状态下电源板的输出电压值；若要测试电源板在满载状态下的电压，则需要测试者手动调整电源板的负载状态，使其处于满载状态下，然后再使用电压测量工具测量满载状态下电源板的输出电压值；由于现有的测试方案无法自动调节电源板的负载状态，因此无法一次性得到电源板各种负载状态下的测试结果，导致测试效率较低，实用性较低。
技术实现思路
本技术实施例所要解决的技术问题在于，提供一种测试设备，可自动调节电源板的负载状态，一次性获得电源板在各种负载状态下的测试结果，提高测试效率，提高实用性。为了解决上述技术问题，本技术实施例提供了一种测试设备，包括有源电阻、DAC (Digital to Analog Converter，数模转换器)、MCU (Micro Control Unit，微控制器)和 ADC (Analog to Digital Converter，模数转换器)；所述有源电阻，与待测电源板相连接，作为所述待测电源板的负载；所述DAC，与所述MCU和所述有源电阻相连接，用于对所述MCU发送的数字的负载调节指令进行数模转换，并向所述有源电阻发送模拟的负载调节指令，使所述有源电阻根据所述模拟的负载调节指令自动调整所述待测电源板的负载状态；所述MCU，与所述DAC相连接，用于根据预设的测试参数，生成数字的负载调节指令，并向所述DAC发送所述数字的负载调节指令；所述ADC，与所述MCU和所述待测电源板相连接，用于对所述待测电源板当前负载状态下的输出电压进行采样处理和模数转换，获得输出电压信号，并将所述输出电压信号传送至所述MCU进行测试。其中，所述有源电阻包括 运算放大器，与所述DAC相连接，用于对所述DAC发送的负载调节指令进行运算放大处理，获得待测电源板的负载参数；MOS (Metal-Oxide-Semiconductor，金属-氧化物-半导体)管，与所述运算放大器和所述待测电源板相连接，用于根据所述运算放大器获得的所述待测电源板的负载参数进行自身阻值的调节，并将调整后的阻值反馈至所述待测电源板，作为所述待测电源板的负载。其中，所述MCU对所述ADC传送的输出电压信号进行运算处理，获得所述待测电源板当前负载状态下的输出电压值，将所述输出电压值与预设的测试参数进行比较，确定所述待测电源板的测试结果。其中，所述测试设备还包括存储器，与所述MCU相连接，用于存储预设的测试参数，所述测试参数包括待测电源路数、负载参数和电压规格参数；以及，存储所述MCU获得的所述待测电源板各种负载状态下的输出电压值和测试结果。其中，所述存储器为 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)存储器。其中，所述测试设备还包括PC (Personal Computer，个人计算机)机，与所述MCU相连接，用于接收用户预设的测试参数，并将所述预设的测试参数传送至MCU，由所述MCU控制所述存储器存储所述预设的测试参数；以及用于显示所述MCU获得所述待测电源板当前负载状态下的输出电压值和测试结果。其中，所述测试设备还包括串口通信模块，与所述PC机和所述MCU相连接，用于实现所述PC机与所述MCU之间的通信。其中，所述串口通信模块为RS232通讯接口。其中，所述测试设备还包括报警器，与所述MCU相连接，用于当所述MCU获得的测试结果异常时，输出报警信息。其中，所述测试设备还包括数码显示模块，与所述MCU相连接，用于显示所述MCU 获得的所述待测电源板当前负载状态下的输出电压值。实施本技术实施例，具有如下有益效果本技术实施例采用阻值可调的有源电阻作为电源板的电子负载，测试者可根据测试需要预先设定待测电源路数、各种负载状态下的参数以及对应负载状态下的电压规格参数，MCU根据预设的测试参数，通过DAC对有源电阻的阻值进行调节，从而实现了对电源板的负载状态的自动调节；采用ADC对电源板在各种负载状态下的输出电压进行采样转换，由MCU根据ADC的采样结果进行运算处理，得到电源板在各种负载状态下的测试结果， 一次性完成了电源板在各种负载状态下的测试，提高了测试效率，同时提高了实用性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的测试设备的第一实施例的结构示意图；图2为本技术的测试设备的第二实施例的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参见图1，为本技术的测试设备的第一实施例的结构示意图；所述测试设备包括=PCiil 101、MCU102、存储器103、DAC104、有源电阻105、ADC106和报警器107。所述PC机101为用户(如测试者)提供参数设置界面，用户可在该参数设置界面上设置测试参数，其中，所述测试参数包括待测电源路数、负载参数和电压规格参数。所述待测电源路数指所述待测电源板待测的负载状态的类型数量；负载参数指所述待测电源板待测的各种负载状态下的参数值；所述规格参数指各种负载状态下所述待测电源板正常的电压范围。当用户完成测试参数的设置后，所述PC机101接收所述用户设置的测试参数， 将该测试参数传送至所述MCU102。另外，所述PC机101还用于显示所述MCU102获得的待测电源板当前负载状态下的输出电压值及测试结果。所述MCU102，与所述PC机101相连接。所述MCU102为整个测试设备的核心部件， 对测试设备的其他功能部件进行调度和控制。具体实现中，所述MCU102为单片机，优选采用89C516芯片。当接收到所述PC机101传送的预设的测试参数后，所述MCU102将所述预设的测试参数存入所述存储器103中进行保存。具体实现中，所述MCU102与所述PC机101通过串口通信模块(图中未示出)相连接，优选地，所述串口通信模块为R本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测试设备，其特征在于，包括：有源电阻、数模转换器ＤＡＣ、微控制器ＭＣＵ和模数转换器ＡＤＣ；所述有源电阻，与待测电源板相连接，作为所述待测电源板的负载；所述ＤＡＣ，与所述ＭＣＵ和所述有源电阻相连接，用于对所述ＭＣＵ发送的数字的负载调节指令进行数模转换，并向所述有源电阻发送模拟的负载调节指令，使所述有源电阻根据所述模拟的负载调节指令自动调整所述待测电源板的负载状态；所述ＭＣＵ，与所述ＤＡＣ相连接，用于根据预设的测试参数，生成数字的负载调节指令，并向所述ＤＡＣ发送所述数字的负载调节指令；所述ＡＤＣ，与所述ＭＣＵ和所述待测电源板相连接，用于对所述待测电源板当前负载状态下的输出电压进行采样处理和模数转换，获得输出电压信号，并将所述输出电压信号传送至所述ＭＣＵ进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：熊伟，方南生，
申请(专利权)人：深圳创维数字技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94