【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法，该方法不仅精确度高，而且量 测速度快。影像量测主要用于零件或者部件的尺寸误差和形位误差的量测，对保证产品质量 起着重要的作用。但是，现有影像量测系统给出的误差只是笼统的误差范围，不能直观的表达各个量测点 的误差范围，同时，现有影像量测系统的轮廓度计算很单一，不能根据用户不同的需求进行 不同基准的轮廓度计算。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种轮廓度分析系统，可以根据用户的不同需求进行不同的 轮廓度计算，并直观的表达出每一量测点的误差状况。此外，还有必要提供一种轮廓度分析方法，可以根据用户的不同需求进行不同的轮廓度 计算，并直观的表达出每一量测点的误差状况。一种轮廓度分析系统，包括计算机及与该计算机相连的数据库，该计算机包括获取模 块，用于从该数据库中获取需进行轮廓度计算的物件的所有理论轮廓数据和量测点数据；设 置模块，用于设置轮廓度计算的公差及精确度；平移模块，用于当所述获取的量测点需要向 理论轮廓平移时，根据设置的精确度依次将各量测点向理论轮廓平移，并记录平移后的各量 测点...
【技术保护点】
一种轮廓度分析系统，包括计算机及与该计算机相连的数据库，其特征在于，该计算机包括： 获取模块，用于从该数据库中获取需进行轮廓度计算的物件的所有理论轮廓数据和量测点数据； 设置模块，用于设置轮廓度计算的公差及精确度； 平移模 块，用于当所述获取的量测点需要向理论轮廓平移时，根据设置的精确度依次将各量测点向理论轮廓平移，并记录平移后的各量测点相对于理论轮廓平移的距离； 所述设置模块还用于当所述获取的量测点不需要向理论轮廓平移时，将各量测点相对于理论轮廓的平移 距离设置为零； 旋转模块，用于当所述获取的量测点需要向理论轮廓旋转时，根据设...
【技术特征摘要】
1.一种轮廓度分析系统，包括计算机及与该计算机相连的数据库，其特征在于，该计算机包括获取模块，用于从该数据库中获取需进行轮廓度计算的物件的所有理论轮廓数据和量测点数据；设置模块，用于设置轮廓度计算的公差及精确度；平移模块，用于当所述获取的量测点需要向理论轮廓平移时，根据设置的精确度依次将各量测点向理论轮廓平移，并记录平移后的各量测点相对于理论轮廓平移的距离；所述设置模块还用于当所述获取的量测点不需要向理论轮廓平移时，将各量测点相对于理论轮廓的平移距离设置为零；旋转模块，用于当所述获取的量测点需要向理论轮廓旋转时，根据设置的精确度依次将各量测点向理论轮廓旋转，并记录各量测点相对于理论轮廓旋转的角度；所述设置模块还用于当所述量测点不需要向理论轮廓旋转时，将各量测点相对于理论轮廓的旋转角度设置为零；及计算模块，用于根据所述各量测点相对于理论轮廓平移的距离及旋转的角度依次计算各量测点平移和旋转后的点的坐标，根据所述平移和旋转后的点到理论轮廓的距离计算各量测点的最小误差距离，根据所述所有量测点的最小误差距离计算该被测物件的轮廓度及残差。2.如权利要求l所述的轮廓度分析系统，其特征在于，该系统还包括判断模块，用于根据所设置的公差判断所计算的轮廓度是否合格。3.如权利要求l所述的轮廓度分析系统，其特征在于，所述轮廓度计算的方式包括无基准要求的计算方式、基于轴的计算方式及基于平面的计算方式。4.如权利要求l所述的轮廓度分析系统，其特征在于，所述轮廓度为所有量测点的最小误差距离中的最大值与最小值的绝对值之和，所述残差为所有量测点的最小误差距离的绝对值之和。5.如权利要求1至4任一权利要求所述的轮廓度分析系统，其特征在 于，所述平移模块将各量测点向理论轮廓平移依据如下步骤执行将量测点到理论轮廓的距 离进行等分，计算等分后每一部分到理论轮廓的距离，将量测点平移到距离最小的部分；再 将该距离最小的部分进行等分，计算等分后每一部分到理论轮廓的距离，将量测点平移到再 次等分后的距离最小的部分；重复上述平移步骤直到量测点到理论轮廓的距离足够小以达到 所设置的精确度要求。6.如权利要求1至4任一权利要求所述的轮廓度分析系统，其特征在 于，所述旋转模块将各量测点向理论轮廓旋转依据如下步骤执行将量测点作为圆心，将量 测点到理论轮廓中心点的距离作为半径；将量测点按旋转一周的角度进行等分，计算等分后 每一...
【专利技术属性】
技术研发人员：张旨光，丁勇红，蒋理，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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