阻抗元件自动分选检测评估系统技术方案

本发明专利技术公开了一种阻抗元件自动分选检测评估系统，该系统包括阻抗元器件自动分选检测部分，还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。解决了对阻抗元器件的检测参数进行分析和处理，形成可使用户能直接评估阻抗元器件质量的评估报告。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及阻抗元件自动分选检测系统，特别涉及具有评估模块的阻抗元件自动分选检测评估系统。
技术介绍
在电子元件中最基础是的阻抗元件，如电容器、电阻器在国内大规模生产并大量出口，随着阻抗元件用途的拓展，要求的提高，生产规模的扩大，对其检测要求也更高。目前高品质阻抗元件的发展趋势是朝着“三高”即高温、高频、高压方向，有些阻抗元器件须在频率IkHz--IOOkHz,电压4kV条件下的测试，并且生产厂家需要在测试后对阻抗元件的质量有一个评估，查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。在阻抗元件生产检测技术方面领先的意大利、日本例如阿可、TOWA公司等的设备，近年即使阻抗元件生产大量转向中国而它们的检测设备由于价格等因素却难以进入国内，造成生产和检测的脱节，限制了阻抗元件生产向高水平发展。而且，国内尚无适合此要求的阻抗元件批量生产专用检测设备可提供市场，如果使用进口设备不仅在于高昂的价格，而且很重要的是难以得到及时的售后服务，特别当整机中有部分仪器或零件损坏，整台设备就有可能报废。所以为了满足国内的要求研制高精度的阻抗元件自动分选检测评估系统是非常必要的。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种阻抗元件自动分选检测评估系统，能够对阻抗元器件的检测分选并对参数进行分析和处理，形成可使用户能评估阻抗元器件质量的评估报告。为了解决上述的技术问题，本专利技术的技术方案如下一种阻抗元件自动分选检测评估系统，包括一用来精确定位被测阻抗元件的 LCR分选设备；用来测量阻抗元件参数的LCR测量仪；用来控制LCR分选设备精确定位，从而协助测试单元和LCR测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元，其特征在于，所述系统还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据并通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。进一步特征为，所述的数据采集模块包括用来获取可编程控制器数据和LCR测量仪数据同步信号的采集分选设备同步信号模块，采集LCR测量仪数据模块，采集可编程控制器数据模块，用来查看数据是否异常的分析数据模块。进一步特征为，所述数据评估模型实现读入至少100个LCR元器件的参数；将读入的数据进行分组，每5个一组，不满5个的不参与统计；计算各子组样本的平均数Xi =(Xil+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5 ；计算各子组样本极差Ri = max (xi j)-min (xi j)；计算各样本子组平均值的总平均值X与各样本子组极差值的总平均值R ；计算控制图的上限UCLR，中心值 CLR,下限LCLR ；计算过程能力指数Cp，偏移过程能力指数Cpk。进一步特征为，所述数据评估模块读入100个LCR元器件的参数，找出所有数据中的最大值Xmax和最小值Xmin;算出所有数据中最大值与最小值之间的差值R = Xmax-Xmin ；计算分组组距h = R/k，k为分组数；计算各分组数据范围；计算各分组数据范围内的包含数据个数；计算每组数据；计算样本标准偏差值S ；计算过程能力指数Cp和偏移过程能力指数Cpk。进一步特征为，所述LCR分选设备包括机械传动机构，给机械传动机构中的分度机构采用间歇分度机构，所述控制单元包括可编程控制器、可编程角度计数器、旋转编码器，在机械传动部分主轴上设置传感器，该传感器输出电脉冲信号给旋转编码器，该旋转编码器发出信号触发可编程角度计数器，根据拟定好的时序图输出低电平信号给可编程控制ο进一步特征为，所述的间歇分度机构为马歇尔间歇机构。进一步特征为，所述测量阻抗原件数据的检测单元要完成包括低电平开路容量检测单元、直流跳火单元、直流耐压单元、交流耐压检测单元、绝缘电阻测试单元；LCR测量仪要完成损耗检测及容量分选单元的测试。并且所述LCR分选设备包括测试夹具，该测试夹具的测试触点采用合金材料，LCR 测量仪在IOOkHz下，通过处理器对经计量的标准件的参数进行运算、分段校正、设计补偿表；可编程控制器利用时序严格控制，错时启动在4kv高压下测量；可编程控制器为PLC控制器。本专利技术的优点为不仅能分析其电参数检测的共性需求，结合对电容器、电阻、电感检测的研究，使其能对阻抗元件的生产起更大的作用。进行检测数据的采集后，建立数据库，管理检测数据的记录、统计，并绘制相应图形，通过数据模型处理后得出质量评估报告， 方便质量检查，跟踪。还能精确测量阻抗元器件的电性能参数，并且在高频、高压的情况下也能精确测量。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。图2为本专利技术中数据采集原理示意图。图3为本专利技术数据采集模块的工作流程图。图4为本专利技术数据采集模块算法示意图。图5为本专利技术中评估报告模块输出的元器件标准差和极差控制图样图。图6为本专利技术中评估报告模块输出的元器件电容量直方图样图。图7为本专利技术中机械传动结构分度机构在转动时的结构示意图。图8为本专利技术中机械传动结构分度机构在静止时的结构示意图。图9为本专利技术中机械传动结构示意图。图10为本专利技术LCR分选设备中测试单元中直流跳火测试单元电路原理图。图11为本专利技术LCR分选设备中测试单元中直流耐压测试单元电路原理图。图12为本专利技术LCR分选设备中测试单元中交流耐压测试单元电路原理图。图13为本专利技术LCR分选设备中测试单元中绝缘电阻测试单元电路原理图。具体实施例方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。如图1所示，阻抗元件自动分选检测评估系统包括LCR分选设备1，用来测量阻抗元件参数的LCR测量仪6 ；用来控制LCR分选设备正确定位，从而协助测试单元和LCR测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元5 ；数据处理单元；所述的LCR分选设备包括测试单元 2、机械传动机构4和测试夹具3，所述的数据处理单元包括数据采集模块、可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块、用来保存被测阻抗元件数据的存储模块、负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块、以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。在LCR分选设备1完成各个测试单元2包括低电平开路容量检测单元(CO)、直流跳火单元(FO)、直流耐压单元(DCTV)、交流耐压检测单元(ACTV)、绝缘电阻测试单元的测试(IR)，每个元器件经过测试后所得合格或不合格的信号传输给PLC控制器5，如图2所示，PLC控制器5通过RS232通讯协议输入给处理单元中的数据采集模块；同时LCR测量仪 6测试各个元器件损耗检测参数(主参数C)及容量分选单元参数(副参数D)还有LCR元器件等级品参数(ACl，AC2)，这些参数检测合格与否的信号传输给PLC控制器5，通过PLC 控制器5输入给数据采集模块，参数的具体数值LCR测量仪6通过RS232通讯协议输入给数据采集模块，也就是说数据采集模块负责实时监控阻抗元器件和LCR测量仪测试结果。处理单元的数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种阻抗元件自动分选检测评估系统，包括：一用来精确定位被测阻抗元件的ＬＣＲ分选设备，用来测量阻抗元件参数的ＬＣＲ测量仪；用来控制ＬＣＲ分选设备正确定位，从而协助测试单元和ＬＣＲ测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元，其特征在于，所述系统还设有一采集并结合ＬＣＲ测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据并通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。

【技术特征摘要】
1.一种阻抗元件自动分选检测评估系统，包括一用来精确定位被测阻抗元件的LCR 分选设备，用来测量阻抗元件参数的LCR测量仪；用来控制LCR分选设备正确定位，从而协助测试单元和LCR测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元，其特征在于，所述系统还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据并通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。2.根据权利要求1所示的阻抗元件自动分选检测评估系统，其特征在于，所述的数据采集模块包括用来获取可编程控制器数据和LCR测量仪数据同步信号的采集分选设备同步信号模块，采集LCR测量仪数据模块，采集可编程控制器数据模块，用来查看数据是否异常的分析数据模块。3.根据权利要求1所示的阻抗元件自动分选检测评估系统，其特征在于，所述数据评估模型实现读入至少100个LCR元器件的参数；将读入的数据进行分组，每5个一组，不满5 个的不参与统计；计算各子组样本的平均数Xi = (Xil+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5 ；计算各子组样本极差Ri =max (xij)-Hiin(Xij)；计算各样本子组平均值的总平均值X与各样本子组极差值的总平均值R ；计算控制图的上限UCLR，中心值CLR，下限LCLR ；计算过程能力指数Cp， 偏移过程能力指数Cpk。4.根据权利要求1所示的阻抗元件自动分选检测评估系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：滕华强，韩之文，黄永庆，陈德宏，
申请(专利权)人：上海仪器仪表研究所，
类型：发明
国别省市：31