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本发明公开了一种阻抗元件自动分选检测评估系统，该系统包括阻抗元器件自动分选检测部分，还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件...
该专利属于上海仪器仪表研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海仪器仪表研究所授权不得商用。

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