LED辐射波长测试定位装置制造方法及图纸

一种LED辐射波长测试定位装置，包括导轨(1)，在所述导轨(1)上设有LED支架滑块(2)和探头支架滑块(3)，在所述LED支架滑块(2)上设有LED支架(21)，在所述LED支架(21)上设有用于固定LED的LED夹(22)；在所述探头支架滑块(3)上设有探头支架(31)，在所述探头支架(31)上设有探头夹(32)。本实用新型专利技术具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠的优点。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种LED辐射波长测试定位装置，尤其是一种具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠特点的LED辐射波长测试定位装置。
技术介绍
随着节能降耗的理念被越来越多的人所接收，用能耗低的LED发光器件作为照明光源必然会代替现有的白炽灯。作为评价LED发光器件的光度学参数与辐射度学参数主要有一是光通量Φ ν (Luminous Flux)通过发光二极管的正向电流为规定值时，器件光学窗口发射的光通量。二是发光强度Iv(Luminous Intensity)光源在单位立体角内发射的光通量，可表示为IV = Φ/ Ω ；三是相对光谱能量(功率)分布PO (RelativeSpectral Distributions)在光辐射波长范围内，各个波长的辐射能量分布情况；四是峰值发射波长ρ (Peak-emission Wavelength)光谱辐射功率最大的值所对应的波长；五是光谱半波宽Δ (Full Width HalfMaximum, FWHM)峰值发射波长的辐射功率的1/2所对应两波长的间隔。其中，LED的峰值波长ρ和光谱半波宽Δ是LED发光器件很重要的参数之一。LED 相对光谱能量分布曲线的重要参数用峰值波长P和光谱半波宽△这两个参数表示。无论什么材料制成的LED，都有一个相对光辐射最强处，与之相对应有一个波长，此波长为峰值波长，它由半导体材料的带隙宽度或发光中心的能级位置决定。光谱半波宽△定义为相对光谱能量分布曲线上，两个半极大值强度处对应的波长差，它标志着光谱纯度，同时也可以用来衡量半导体材料中对发光有贡献的能量状态离散度，LED的发光光谱的半宽度一般为 30-100nm,光谱宽度窄意味着单色性好，发光颜色鲜明，清晰可见。目前，用于测试LED峰值辐射波长的方法，均是使用光频谱仪进行测试的。一般做法是用一只手紧握正在发光的LED发光器件，另一只手紧光频谱仪的探头，不断调整LED发光器件与光频谱仪的探头位置关系，观察光频谱仪的波形，当波长达到是大波值时，记录下相应波长值，从而得出LED峰值辐射波长值。用这种方法测试测试LED峰值辐射波长存在如下问题，一是人的双手极易幌动，容易使LED发光器件脱离光频谱仪探头的探测区域，而无法检测；二是人的双手之间的距离不稳定，造成LED发光器件与光频谱仪探头之间的距离也不稳定，所测试的结果也不稳定，与实际数值有偏差，不得不多次测定后，取其平均值， 造成不必要的重复劳动。
技术实现思路
本技术的目的是克服以上缺点，向社会提供一种与光频谱仪配套使用的LED 辐射波长测试定位装置，该LED辐射波长测试定位装置具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠的特点。本技术的技术方案是设计一种LED辐射波长测试定位装置，包括导轨，在所述导轨上设有LED支架滑块和探头支架滑块，在所述LED支架滑块上设有LED支架，在所述 LED支架上设有用于固定LED的LED夹；在所述探头支架滑块上设有探头支架，在所述探头支架上设有探头夹。作为对本技术的改进，在所述LED支架上部设有LED通槽，在所述LED通槽内有LED夹滑块，所述LED夹与所述LED夹滑块固定连接，所述LED夹滑块与伸进于LED通槽的螺杆下端固定连接，所述螺杆的上端向上伸出于LED支架之上。作为对本技术的进一步改进，在所述探头支架31上部设有探头通槽，在所述探头通槽内有探头夹滑块，所述探头夹与所述探头夹滑块固定连接，所述探头夹滑块与伸进于探头通槽的螺杆下端固定连接，所述螺杆的上端向上伸出于探头支架之上。作为对本技术的更进一步改进，在所述LED支架外侧设有用于定位LED支架的LED支架定位装置。作为对本技术的更进一步改进，所述LED支架定位装置是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨，所述LED支架被固定不动。作为对本技术的更进一步改进，在所述探头支架外侧设有用于定位探头支架的探头支架定位装置。作为对本技术的更进一步改进，所述探头支架定位装置是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨，所述探头支架被固定不动。作为对本技术的更进一步改进，在所述导轨的下方还设有主导轨，所述导轨通过两个主滑块与所述主导轨滑动连接。本技术具有结构简单，且测试出来的LED辐射波长值稳定、准确和可靠的优点ο附图说明图1是本技术一种实施例的结构示意图。具体实施方式请参见图1，图1所揭示的是一种LED辐射波长测试定位装置，包括导轨1，在所述导轨1上设有LED支架滑块2和探头支架滑块3，在所述LED支架滑块2上设有LED支架 21，在所述LED支架21上设有用于固定LED的LED夹22 ；在所述探头支架滑块3上设有探头支架31，在所述探头支架31上设有探头夹32。在所述LED支架21上部设有LED通槽 23，在所述LED通槽23内有LED夹滑块M，所述LED夹22与所述LED夹滑块M固定连接， 所述LED夹滑块M与伸进于LED通槽23的螺杆25下端251固定连接，所述螺杆25的上端252向上伸出于LED支架21之上。在所述探头支架31上部设有探头通槽33，在所述探头通槽33内有探头夹滑块34，所述探头夹32与所述探头夹滑块34固定连接，所述探头夹滑块34与伸进于探头通槽33的螺杆35下端351固定连接，所述螺杆35的上端352向上伸出于探头支架31之上。本实施例中，在所述LED支架21外侧设有用于定位LED支架21的LED支架定位装置26。所述LED支架定位装置沈是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨1，所述LED支架21被固定不动。在所述探头支架31外侧设有用于定位探头支架 31的探头支架定位装置36。所述探头支架定位装置36是一螺杆，当螺杆被向下旋时，所述螺杆的下端顶在所述导轨1，所述探头支架31被固定不动。在所述导轨1的下方还设有主导轨4，所述导轨1通过两个主滑块41、42与所述主导轨4滑动连接。这样，可以使用本用新型中的探头支架31和LED支架21作为一个整体滑动。 本技术在使用时，先将与光频谱仪连接的控制头夹在探头夹上，然后，再将要测试的LED夹在LED夹上，通过与探头夹滑块34相连接的螺杆设节探头夹的上下高度，使之与位于LED夹滑块M上的LED处于同一直线上；或者通过与LED夹滑块M连接的螺杆设节LED的高度，使之与探头处在同一直线上，也是一样。滑动探头支架31或/和滑动LED 支架21，同时观察光频谱仪上的波形，达到最佳波形时，记录波长值。本技术可以一次测试出准确可靠的LED峰值幅射波长值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种ＬＥＤ辐射波长测试定位装置，其特征在于：包括导轨（１），在所述导轨（１）上设有ＬＥＤ支架滑块（２）和探头支架滑块（３），在所述ＬＥＤ支架滑块（２）上设有ＬＥＤ支架（２１），在所述ＬＥＤ支架（２１）上设有用于固定ＬＥＤ的ＬＥＤ夹（２２）；在所述探头支架滑块（３）上设有探头支架（３１），在所述探头支架（３１）上设有探头夹（３２）。

【技术特征摘要】
1.一种LED辐射波长测试定位装置，其特征在于包括导轨(1)，在所述导轨(1)上设有LED支架滑块( 和探头支架滑块( ，在所述LED支架滑块( 上设有LED支架Ql)， 在所述LED支架上设有用于固定LED的LED夹0 ；在所述探头支架滑块C3)上设有探头支架(31)，在所述探头支架(31)上设有探头夹(32)。2.根据权利要求1所述的LED辐射波长测试定位装置，其特征在于在所述LED支架 (21)上部设有LED通槽(23)，在所述LED通槽内有LED夹滑块(M)，所述LED夹Q2) 与所述LED夹滑块04)固定连接，所述LED夹滑块Q4)与伸进于LED通槽的螺杆 (25)下端051)固定连接，所述螺杆05)的上端052)向上伸出于LED支架Ql)之上。3.根据权利要求1或2所述的LED辐射波长测试定位装置，其特征在于在所述探头支架(31)上部设有探头通槽(33)，在所述探头通槽(3 内有探头夹滑块(34)，所述探头夹(3 与所述探头夹滑块(34)固定连接，所述探头夹滑块(34)与伸进于探头通槽(33)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张栋，谢晋雄，蔡屹，
申请(专利权)人：深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心，
类型：实用新型
国别省市：94