直流保护测试装置以及直流保护装置的测试方法制造方法及图纸

技术编号:6405671 阅读:122 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
直流保护测试装置及直流保护装置的测试方法,该装置包括:与直流保护装置连接的IO装置,与上位PC机、直流保护装置连接的主板装置,连接于主板装置与IO装置之间的FPGA,IO装置接收直流保护装置的激光能量信号,分离接收到的激光能量信号,得到时钟信号和低电压信号后向FPGA发送,FPGA将默认信息数据与低电压信号根据编码格式叠加后通过IO装置发送给直流保护装置,形成闭环回路,主板装置接收上位PC机发送的测试数据,并将该测试数据通过FPGA发送给IO装置,经过IO装置发送给直流保护装置。本发明专利技术可以精确设置测试数据,实现对直流保护装置的准确、严格的检测,为常规测试提供了方便的实验手段,具有很高的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高压直流输电系统测试领域,特别涉及一种直流保护测试装置、以及 一种直流保护装置的测试方法。
技术介绍
南方电网直流工程的控制保护系统通常是以高速数字式可编程控制器SIMADYND 系统为基础来实现的,直流控制系统分为互相冗余的两套系统,两套系统互为备用,在直流 系统运行期间,两套系统之间可以进行无扰动的切换。直流保护系统采用了三取二配置方 式,三套配置完全相同的直流保护装置,分别放在三个独立的机柜中,测量的直流运行量通 过光纤直接取自一次回路,直流滤波器保护采用完全冗余的两套保护,交流滤波器保护部 分采用了 SIMADYND系统。由于直流保护装置中采用光纤进行能量和数据传输的特殊性,决定了其测试手段 的特殊性,现有技术中对直流保护装置的测试方式,以直流保护装置为SIMADYND装置为 例,是将光纤测试盒的激光输入端通过电光转换器与SIMADYND装置的103模块相连接,将 光纤测试盒(内装有0PT0DYN)的电压输入端子与可调直流电源盒连接,通过万用表测量可 调直流电源盒的电压,通过分别加入要测试的直流电压值,实现对直流保护装置的测试。现有技术中的这种直流保护装置的测试方式,需要手动调整直流电源盒,并利用 万用表来测量电压,因此,每次将电压调整到实验值时,都需要进行一个细心的调整过程, 且输出电压值的精度控制比较困难。另外现有技术中每次试验仅能实现对一个通道进行加 量,因此无法同时输出多个光纤量。
技术实现思路
针对上述现有技术中存在的问题,本专利技术的目的在于提供一种直流测试保护测试 装置以及直流保护装置的测试方法,其可以实现对直流保护装置的准确、严格的检测,为其 常规测试提供方便的试验手段,具有很高的实用性。为达到上述目的,本专利技术采用以下技术方案—种直流保护测试装置,包括与直流保护装置相连接的IO装置,与上位PC机、所 述直流保护装置相连接的主板装置,以及连接于所述主板装置与所述IO装置之间的FPGA, 所述IO装置接收所述直流保护装置的激光能量信号并对接收的激光能量信号进行分离, 分离出时钟信号和低电压信号后向所述FPGA发送,FPGA将默认信息数据与所述低电压信 号根据预设编码格式叠加后通过所述IO装置发送给所述直流保护装置,形成闭环回路,所 述主板装置接收所述上位PC机发送的测试数据,并将该测试数据通过FPGA发送给IO装 置,通过IO装置发送给所述直流保护装置。一种直流保护装置的测试方法,包括步骤接收直流保护装置发送的激光能量信号,并在对该激光能量信号进行分离,分离 出低电压信号和时钟信号,并将默认信息数据与所述低电压信号根据预设编码格式叠加后发送给所述直流保护装置,形成闭环回路;接收PC机下发的初始测试数据,并将该初始测试数据发送给所述直流保护装置。根据上述本专利技术方案,其在直流保护测试装置启动后,首先识别直流保护装置的 激光能量信号,并通过对激光能量信号进行分离,得到时钟信号和低电压信号,然后将默认 信息数据与该低电压信号根据预设编码格式叠加后反馈给直流保护装置,使得直流保护装 置可以稳定地对外输出能量,并在直流保护测试装置与直流保护装置之间建立起稳定的连 接,形成闭环回路,此后,可以通过上位PC机来设定测试数据,并通过直流保护测试装置发 送给直流保护装置,实现直流保护的测试过程。本专利技术的直流保护测试方式,在直流保护装 置与本专利技术的直流保护测试装置之间形成了闭环回路,且可以通过上位PC机来设置相应 的测试数据,并将该测试数据传递给直流保护装置,可以实现精确的测试数据的设置,实现 对直流保护装置的准确、严格的检测,为其常规测试提供了方便的实验手段,具有很高的实 用性。附图说明图1是本专利技术的直流保护测试装置实施例的结构示意图;图2是本专利技术的直流保护测试方法实施例的流程示意图。具体实施例方式以下对本专利技术的直流保护测试装置以及直流保护测试方法的其中一个具体实施 方式为例对本专利技术方案进行详细说明。本专利技术方案的根本目的,是能够提高对直流保护装置进行测试时的测试精度,且 能够提高对直流保护装置进行测试时的便利性,为此,本专利技术方案考虑到设定直流保护测 试装置,该直流保护测试装置可以与要测试的直流保护装置形成闭环回路,从而可以将测 试信息直接发送给直流保护装置,该直流保护测试装置还可以接收上位PC机下发的相应 的测试数据,比如电压值、电流值,并将PC机下发的测试数据,发送给直流保护装置,从而 可以通过PC机设置数字式的测试数据,测试、调整方便,实现对直流保护装置进行测试时 的测试精度的提高。参见图1所示,是本专利技术的直流保护测试装置实施例的结构示意图,如图所示,本 专利技术的直流保护测试装置包括有与直流保护装置相连接的IO装置,与上位PC机、直流保 护装置相连接的主板装置,以及连接于所述主板装置与所述IO装置之间的FPGA (可编程逻 辑器件),所述IO装置接收直流保护装置的激光能量信号,并对接收到的激光能量信号进 行分离,分离出时钟信号和低电压信号后发送给FPGA,FPGA接收后将默认信息数据与低电 压信号根据预设编码格式叠加后反馈给直流保护装置,形成闭环回路,随后,主板装置接收 上位PC机发送的测试数据,并将该测试数据通过FPGA发送给IO装置,由IO装置将该测试 数据发送给直流保护装置。其中,在IO装置在接收到激光能量信号后,还可以先对该激光能量信号进行第一 处理操作后,该第一处理操作包括光电转换操作,然后对第一操作处理后的激光能量信号 进行分离。另外,IO装置将叠加后的信号、测试数据发送给直流保护装置时,可先对测试数 据进行第二处理操作,该第二处理操作包括电光转换操作,然后将第二操作处理后的测试4数据发送给直流保护装置。此外,IO装置包括有光接收器和光发送器,所述光接收器与直流保护装置的LM模 块相连接,实现对从直流保护装置发出的光信号的接收,所述光发送器与所述直流保护装 置的IO模块相连接,以将转换后的光信号发送给直流保护装置。上述IO装置,还可以包括有光电转换电路、电光转换电路、比较电路、驱动电路以 及指示灯状态显示模块,主要是完成光功率信号的光电转换、时钟提取及整形、完成光功率 输入电压的判定并形成对直流保护装置的能量输出的闭环反馈,完成数据信号的发送和光 电转换的功能。在进行具体的处理时,光电转换电路通过光接收器接收的光信号转换为电信号, 转换后的电信号被送至比较电路,比较电路包括有两部分,一部分为时钟提取电路,另一部 分为低电压判断电路,时钟提取电路采用了跟随比较电路,可以随着外部电压的变化正确 地提取时钟信号,而低电压判断电路采用了迟滞比较电路,通过设定门槛控制电路较好的 反映外部电压的变化情况,并产生对应的低电压信号,时钟信号和低电压信号经过驱动电 路的整形和驱动被传输给FPGA。其中,上述主板装置,具体包括ARM (Advanced RISC Machines)处理器和DSP (数 字信号处理器),ARM处理器与上述上位PC机相连接,DSP与ARM处理器、以及FPGA相连接, 通过DSP来实现与直流保护装置之间的模拟量、开关量之间的交互。其中,ARM处理器内部 集成有以太网,用于DSP和上位PC机之间的数据通讯,所有的控制信息、状态信息等都通过 ARM处理器来实现下载、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种直流保护测试装置,其特征在于,包括:与直流保护装置相连接的IO装置,与上位PC机、所述直流保护装置相连接的主板装置,以及连接于所述主板装置与所述IO装置之间的FPGA,所述IO装置接收所述直流保护装置的激光能量信号并对接收的激光能量信号进行分离,分离出时钟信号和低电压信号后向所述FPGA发送,所述FPGA将默认信息数据与所述低电压信号根据预设编码格式叠加后通过所述IO装置发送给所述直流保护装置,形成闭环回路,所述主板装置接收所述上位PC机发送的测试数据,并将该测试数据通过所述FPGA发送给所述IO装置,通过所述IO装置发送给所述直流保护装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈立向前
申请(专利权)人:中国南方电网有限责任公司超高压输电公司
类型:发明
国别省市:81[中国|广州]

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