外延片生产用承载盘制造技术

技术编号:6322585 阅读:226 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种外延片生产用承载盘,其特征在于,包括盘体,盘体表面设置有承载衬底的第一凹槽,所述第一凹槽边缘设置有第二凹槽,第一凹槽与第二凹槽联通。本实用新型专利技术中的外延片生产用承载盘,放置衬底时,可方便地将真空吸笔抽出。取出衬底时,可方便地将真空吸笔插到衬底背面。取放衬底均方便,且使用安全,不会损坏单晶薄膜。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种外延片生产用承载盘
技术介绍
外延片的生产方法,是在衬底上生长单晶硅薄膜。如图1所示为一种衬底的俯视 图,衬底4具有一参考面41。化学气相法生产外延片时,使气态的硅单晶沉积在衬底表面。 单晶硅的沉积是在石英罩内进行。为保证衬底表面沉积的硅单晶薄膜均勻,沉积过程中,衬 底放置在承载盘上并随承载盘不断的旋转。承载盘表面设置有第一凹槽,与衬底形状相适 应,可防止衬底在旋转过程偏离位置。放置衬底时,使用真空吸笔吸住衬底背面,将衬底放 入第一凹槽内,再将真空吸笔抽出。沉积完成后,采用真空吸笔插入衬底背面,吸住沉底背 面,将衬底取出。由于现有技术中的承载盘的第一凹槽,侧面为直面,在放置衬底后,第一凹 槽的侧面会阻挡真空吸笔,真空吸笔无法顺利取出。沉积完成后需要取出衬底时,由于衬 底较薄,且与承载盘之间接触紧密,真空吸笔无法顺利插到衬底背面。因此,现有技术中的 承载盘,取放衬底不方便,影响生产效率,严重时甚至会损坏衬底或衬底表面沉积的单晶薄 膜。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术中的不足,提供一种取放衬底方便的外延 片生产用承载盘。为实现以上目的,本技术通过以下技术方案实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
外延片生产用承载盘,其特征在于,包括盘体,盘体表面设置有承载衬底的第一凹槽,所述第一凹槽边缘设置有第二凹槽,第一凹槽与第二凹槽联通。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:高璇
申请(专利权)人:上海晶盟硅材料有限公司
类型:实用新型
国别省市:31[]

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