托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置制造方法及图纸

技术编号:6231042 阅读:229 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术属于光谱空间分辨测量装置领域,具体涉及一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置。它包括真空壳体、密封顶盖、转轴固定板、主动齿轮、过度齿轮、从动齿轮、狭缝组件、转轴、密封螺钉、密封圈、调节旋钮和定位螺钉。实现等离子体中各种杂质的空间分布测量,系统操作简单,在不破坏真空条件下,很容易实现从杂质的纯光谱测量切换到杂质的空间分布测量,对光谱强度的衰减小,可实现最小空间分辨2mm,时间分辨5.6ms,光谱分辨(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光谱空间分辨测量装置领域,具体涉及一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置
技术介绍
真空紫外波段的光谱测量不能采用可见光谱普遍采用的光纤成像技术,其半径为米量级的球面光栅更是真空紫外波段光谱成像的技术难点。国际上有采用视线扫描方式实现空间分布测量的,也有用单入射狭缝借助于模拟计算得到空间分布测量的,或用多组入射狭缝联合实现极向环向分布测量的。因带动整个系统扫描的频率有限,真空条件下快速移动庞大的抽气系统,容易造成系统的真空破坏而存在安全隐患,而且系统庞大复杂。单入射狭缝模拟方法假设太多,结果误差较大。多组入射狭缝造成光强损失大,严重影响信号质量,系统结构也比较复杂,加工精度要求高。
技术实现思路
本技术的目的是:为了解决由于真空紫外波段的光谱测量不能采用可见光谱普遍采用的光纤成像技术,其半径为米量级的球面光栅更是真空紫外波段光谱成像的技术问题,提供一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置。实现本技术的技术方案是:托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置,它包括真空壳体、密封顶盖、转轴固定板、主动齿轮、过度齿轮、从动齿轮、狭缝组件、转轴、密封螺钉、密封圈、调节旋钮和定位螺钉;所述的密封顶盖通过密封螺钉和密封圈固定在真空壳体上;所述的密封顶盖的下部设有转轴固定板,所述的转轴固定板上通过转轴设置有从动齿轮,所述的密封顶盖的外部设置有调节旋钮,在调节旋钮的内侧连接有主动齿轮,主动齿轮连接设置在转轴固定板上的过度齿轮,过度齿轮连接从动齿轮;在所述的从动齿轮上开有若干个圆孔,在所述的圆孔上设置有狭缝组件;在所述的各个圆孔之间设置有定位螺钉。所述的狭缝组件包括狭缝圆板、狭缝片和固定螺钉;在所述的狭缝圆板上开有槽孔,所述的狭缝片上开有滑动槽孔;所述的狭缝片分别通过固定螺钉固定在槽孔的上下两侧上。所述的调节旋钮上设置有刻度标示;所述的狭缝片之间的间隙调节范围为30~500um。本技术的效果是:实现等离子体中各种杂质的空间分布测量,装置操作简单,在不破坏真空条件下,很容易实现从杂质的纯光谱测量切换到杂质的空间分布测量,对光谱强度的衰减小,可实现最小空间分辨2mm,时间分辨5.6ms,光谱分辨使用本技术,可同时得到等离子体光谱随时间、空间和光谱的变化波形,和国际同类光谱空间分布测量系统相比,本技术设计结构简单,易操作,对光强影响小,视场范围大,以及空间分辨率高等优势,可以观测从中心到边缘的多种杂质光谱分布,为等离子体中杂质输运和控制提供重要依据,为未来聚变装置ITER提供宝贵的实验数据。-->附图说明图1为本技术所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置的示意图;图2为本技术的主动齿轮、过度齿轮和从动齿轮的示意图;图3为本技术所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置的侧面示意图;图4为本技术所述的狭缝组件的示意图;图5为本技术所述的狭缝片的示意图。图中:1、真空壳体;2、密封顶盖;3、转轴固定板;4、主动齿轮;5、过度齿轮;6、从动齿轮;7、狭缝组件;8、转轴;9、密封螺钉;10、密封圈;11、调节旋钮;12、圆孔;13、定位螺钉;14、狭缝圆板;15、狭缝片;16、固定螺钉;17、槽孔;18、滑动槽孔;具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术所述的一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置作进一步的详细描述。如图1、图2和图3所示:托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置,它包括真空壳体1、密封顶盖2、转轴固定板3、主动齿轮4、过度齿轮5、从动齿轮6、狭缝组件7、转轴8、密封螺钉9、密封圈10、调节旋钮11和定位螺钉13;所述的密封顶盖2通过密封螺钉9和密封圈10固定在真空壳体1上;所述的密封顶盖2的下部安装转轴固定板3,所述的转轴固定板3上通过转轴8设置有从动齿轮6,所述的密封顶盖2的外部设置有调节旋钮11,在调节旋钮11的内侧连接有主动齿轮4,主动齿轮4连接设置在转轴固定板3上的过度齿轮5,过度齿轮5连接从动齿轮6;在所述的从动齿轮6上开有5个圆孔12,在所述的圆孔12上设置有狭缝组件7;在所述的各个圆孔12之间设置有定位螺钉13。如图4和图5所示:所述的狭缝组件7包括狭缝圆板14、狭缝片15和固定螺钉16;在所述的狭缝圆板14上开有槽孔17,所述的狭缝片15上开有滑动槽孔18;所述的狭缝片15分别通过固定螺钉16固定在槽孔17的上下两侧上。所述的调节旋钮11上设置有刻度标示;所述的狭缝片15之间的间隙调节范围为30~500um。在使用时可转动调节旋钮11使所需的狭缝组件7转动到水平位置。使用本技术,可同时得到等离子体光谱随时间、空间和光谱的变化波形,和国际同类光谱空间分布测量系统相比,本技术设计结构简单,易操作,对光强影响小,视场范围大,以及空间分辨率高等优势,可以观测从中心到边缘的多种杂质光谱分布,为等离子体中杂质输运和控制提供重要依据,为未来聚变装置ITER提供宝贵的实验数据。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置,其特征在于:它包括真空壳体(1)、密封顶盖(2)、转轴固定板(3)、主动齿轮(4)、过度齿轮(5)、从动齿轮(6)、狭缝组件(7)、转轴(8)、密封螺钉(9)、密封圈(10)、调节旋钮(11)和定位螺钉(13);所述的密封顶盖(2)通过密封螺钉(9)和密封圈(10)固定在真空壳体(1)上;所述的密封顶盖(2)的下部设有转轴固定板(3),所述的转轴固定板(3)上通过转轴(8)设置有从动齿轮(6),所述的密封顶盖(2)的外部设置有调节旋钮(11),在调节旋钮(11)的内侧连接有主动齿轮(4),主动齿轮(4)连接设置在转轴固定板(3)上的过度齿轮(5),过度齿轮(5)连接从动齿轮(6);在所述的从动齿轮(6)上开有若干个圆孔(12),在所述的圆孔(12)上设置有狭缝组件(7);在所述的各个圆孔(12)之间设置有定位螺钉(13)。

【技术特征摘要】
1.托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置,其特征在于:它包括真空壳体(1)、密封顶盖(2)、转轴固定板(3)、主动齿轮(4)、过度齿轮(5)、从动齿轮(6)、狭缝组件(7)、转轴(8)、密封螺钉(9)、密封圈(10)、调节旋钮(11)和定位螺钉(13);所述的密封顶盖(2)通过密封螺钉(9)和密封圈(10)固定在真空壳体(1)上;所述的密封顶盖(2)的下部设有转轴固定板(3),所述的转轴固定板(3)上通过转轴(8)设置有从动齿轮(6),所述的密封顶盖(2)的外部设置有调节旋钮(11),在调节旋钮(11)的内侧连接有主动齿轮(4),主动齿轮(4)连接设置在转轴固定板(3)上的过度齿轮(5),过度齿轮(5)连接从动齿轮(6)...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔正英傅柄忠
申请(专利权)人:核工业西南物理研究院
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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