【技术实现步骤摘要】
本技术涉及到一种检测装置，尤其涉及到一种用于磁头架顶针关键尺寸的检 测装置。
技术介绍
图1中示出了磁头架顶针的结构，该磁头架顶针通常用于银行系统中。磁头架顶 针是通过压铆的方法压铆在磁头架上的，而磁头架顶针压铆前后，图中关键尺寸D会改变， 而银行系统中对磁头架顶针压铆前后的尺寸D又有严格的误差范围要求，但是很多工作人 员在没对磁头架顶针中D尺寸进行检测的情况下，就将磁头架安装到银行系统中，再用磁 卡测试磁头架顶针安装是否到位，这样就会浪费人力和生产成本。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种用于磁头架顶针关键尺寸的检测装 置，该检测装置能快速检测多个磁头架顶针的关键尺寸是否符合生产要求。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为一种用于磁头架顶针关键 尺寸的检测装置，其整体呈H形，由两呈长方体状的基块及设置在两基块之间的呈长方体 状的测量块组成，测量块底面离基块底面的距离与测量块顶面离基块顶面的距离两者不寸。本技术的有益效果是采用上述用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置后，能 快速删选出安装合格的磁头架顶针。附图说明图1是磁头架顶针的结构图；图2是本技术所述用...
【技术保护点】
一种用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置，其特征在于：其整体呈Ｈ形，由两呈长方体状的基块及设置在两基块之间的呈长方体状的测量块组成，测量块底面离基块底面的距离与测量块顶面离基块顶面的距离两者不等。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱国强，
申请(专利权)人：江苏银河电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[]
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