能谱分辨的X射线成像装置制造方法及图纸

技术编号:5492631 阅读:219 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种X射线成像装置(100),尤其是一种CT扫描器,包括 a)用于发射具有在既定的观测周期(T)期间连续变化的能谱(P(E,t))的X射线(X)的X射线源(10); b)用于生成多个,即m≥2个辐射采样值(i↓[k])的探测器( 20,30),所述辐射采样值表示在所述观测周期(T)内的不同采样间隔(I↓[k])期间由所述探测器的传感器单元(22)测得的X辐射的量; c)用于确定所述X射线源(10)的与所述m个采样间隔(I↓[k])相关的有效能谱(Φ↓[k](E ))的能谱估计单元(51)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:C博伊默R斯特德曼布克G福格特米尔T谢尔C勒夫
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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