光学组件和磨损传感器制造技术

一种磨损测量设备，包括：主体，在第一端具有可磨损部分；在所述主体内部的导光区域，所述导光区域在可磨损部分内具有反射部分。反射部分被配置为使被引导经过导光部分并且在反射部分处的光沿着导光部分向后反射。由反射部分反射的光的一个或更多个特性与可磨损部分的磨损程度有关。一种光学组件，包括纵向轴线以及沿着所述纵向轴线分隔开的多个反射元件。所述反射元件被布置为反射被引导在与所述纵向轴线基本对齐的方向上的光。反射的量是在沿着组件的长度的方向上组件的物理退化、剥落或磨损的函数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学组件以及磨损传感器。所述光学组件可以不专用在用于测 量磨损的设备中。具体而言，但并非排他性地，所述设备用于就地Gn-Situ)测量磨损板 上的磨损。
技术介绍
硬化材料的板常常用于使对一个装备的结构元件的磨损效应最小化。磨损板的 材料被选择为抗磨损。磨损板充当牺牲元件，使得板而不是装备的结构元件受到磨损。在监控并确定磨损板的磨损程度时出现难题，例如因为板处于难以接近的位 置。因此，难以确定磨损板更换的确切时间，这是因为期望使用磨损板来使得其寿命而 不是故障程度最大化。因此，需要一种用于经受磨损的系统的磨损传感器。磨损还发生在其它机械组件上，尤其是在严苛条件下工作的机械组件。一般不 能在组件故障或停机期间的拆解/检查之前确定某些组件的磨损程度。在申请人的在先申请(例如W02006/081610和W02007/128068)中，描述了用 于测量系统经受的磨损的量的各种设备。显然应当理解，虽然在此引用了现有技术使用和公布，但这种引用并不意味着 引用中的任一种在澳大利亚或任何其它国家形成本领域公知常识的一部分。
技术实现思路
在本专利技术的陈述以及接下来的本专利技术的描述中，除了上下文因表述语言或必要 内涵而另外需要之外，词语“包括”或变化形式(诸如“包含”或“含有”)是在包括 的意义上使用的，也就是说，指定所陈述的特征的存在性，但不排除本专利技术各个实施例 中其它特征的存在性和附加性。根据本专利技术的第一方面，提供一种用于测量磨损的设备，所述设备包括主体，在第一端处具有可磨损部分；以及主体的导光区域，其中，导光区域在可磨损部分内具有反射部分，其中，反射部分被配置为使被引导经过所述导光部分并且在所述反射部分处的 光沿着所述导光部分向后反射，其中，由反射部分反射的光的一个或更多个特性与可磨 损部分的磨损的程度有关。在一个实施例中，所述特性中的一个是所反射的光的量。在一个实施例中，所述设备包括用于发射光的光源，所述光被引导为经过所述 导光部分朝向所述反射部分行进。在实施例中，所述设备包括用于测量所反射的光的量的检测器。在又一实施例中，反射部分包括朝向主体的第一端变窄的渐缩形状。在又一实施例中，主体为紧固件的形式。在另一实施例中，主体为探针的形式。在另一实施例中，主体还包括外螺纹，使得可被固定在磨损板系统的磨损板的 孔内。在实施例中，反射部分由一个或更多个反射元件形成，所述一个或更多个反射 元件随着所述可磨损部分磨损而剥落(ablation)，使得所述一个或更多个反射元件的剥落 减少反射部分的反射量。在另一实施例中，所述一个或更多个反射部分包括圆锥形金属表面。在实施例中，导光区域包括光学组件。在实施例中，光学组件包括一个或更多个反射元件。在实施例中，所述一个或更多个反射元件被布置为围绕所述主体的纵向轴线至 少部分地轴向延伸。在实施例中，所述一个或更多个反射元件被布置为围绕所述主体的长度弓形地 延伸。在实施例中，所述一个或更多个反射元件包括沿着主体的长度以间隔开的关系 延伸的多个面，其中，当从与第一端相对的第二端观看主体时，反射元件中的两个或更 多个共同形成合成反射区域。在实施例中，所述一个或更多个反射元件的每一个都纵向分隔开，并且具有不 同尺度的孔洞或空隙。在实施例中，所述一个或更多个反射元件中的每一个都形成所述反射部分的至 少部分边界。在实施例中，所述反射部分的孔随着反射部分的长度被缩减而扩大，使得所述 反射区域相应减小。在实施例中，所述反射元件相对于主体的纵向轴线纵向地并且横向地分隔开。在实施例中，所述反射元件与反射性相对较弱的元件形成对比。 在实施例中，所述反射性相对较弱的元件是标记，所述反射元件是标记之间的空白。在实施例中，所述一个或更多个特性包括反射部分中剩余的反射元件的数量， 或者与该数量有关。在实施例中，反射部分包括多个标记，所述多个标记沿着可磨损部分的长度并 且与可磨损部分的长度交叉地分隔开，使得从主体的第二端能够看见每个标记，所述标 记被布置为使得随着可磨损部分的长度由于所述对象的磨损而磨损，所述标记相继磨 损。根据本专利技术第二方面，提供一种磨损传感器，包括光源；光接收机，被配置为测量入射光；主体，在第一端处具有可磨损部分；以及所述主体内的导光区域，其中，所述光源被布置为将光投射到导光区域，所述 光接收机被布置为从导光区域接收光，其中，所述导光区域具有可磨损部分内的反射部 分，其中，所述反射部分被配置为从光源朝向光接收机反射光，以及其中，由所述反射部分反射并且然后由所述光接收机接收到的光与所述可磨损 部分的磨损程度有关。根据本专利技术的第三方面，提供了一种测量磨损传感器经受的磨损的量的方法， 所述方法包括将光引导到磨损传感器的透光主体中，所述主体包括反射部分，所述反射部分 被配置为使被引导经过所述导光部分并且在所述反射部分处的光沿着所述导光部分向后 反射；测量由所述反射部分反射的光的一个或更多个特性。根据本专利技术的第四方面，提供了一种确定磨损传感器经受的磨损的量的方法， 所述方法包括基于上述方法的所测量的一个或更多个特性来计算磨损的量。根据本专利技术的第五方面，提供了一种光学组件，包括纵向轴线；以及多个反射元件，沿着所述纵向轴线分隔开，其中，所述反射元件被布置为反射被引导在与所述纵向轴线基本对齐的方向上 的光，其中，所述反射的量是在沿着所述组件的长度的方向上所述组件的物理退化或 磨损的函数。在实施例中，所述反射元件包括多个饼形、楔形、尖形、圆形、三角形、截头 圆锥形或截头棱椎形段。在实施例中，所述反射元件沿着所述纵向轴线规则地分隔开。在实施例中，每个反射元件相对于所述纵向轴线基本上径向延伸。在实施例中，所述反射元件螺旋地位于所述纵向轴线周围。在实施例中，每个反射元件围绕所述纵向轴线基本上轴向延伸。在实施例中，所述光学组件由光学传导材料形成，反射元件布置于光学传导材 料内。根据本专利技术的第六方面，提供了一种测量对象的磨损的量的方法，所述方法包 括在所述对象中提供光学组件，其中，所述光学组件具有反射部分，其通过受光 学组件的磨损程度影响的方式反射被引导到组件的第一端的光；将光引导进入光学组件的第一端；以及测量从光学组件的反射部分反射的光的量，其中，所反射的光的量是光学组件 的长度的函数。在实施例中，所述光学组件是如前面限定的那样。根据本专利技术的第七方面，提供了一种磨损传感器，用于测量对象的磨损量，所 述磨损传感器包括透光长形主体，在使用中被布置在对象内，所述长形主体包括多个标记，所述 多个标记沿着所述长形主体的长度并且与所述长形主体的长度交叉地分隔开，使得从长 形主体的端部可以看见每个标记，所述标记被布置为使得随着长形主体的长度由于对象的磨损而磨损，所述标记相继磨损；其中，剩余标记的数量提供对对象经受的磨损的量的指示。磨损传感器可以包括用于评估剩余标记的数量的设备。长形主体的一部分可以 总体上呈渐缩形状。所述标记可以沿着长形主体的总体上呈渐缩形状的部分分隔开。磨损传感器可以包括对于所述标记的对比背景。所述对比背景可以包括在标记 上的不透明背衬。用于评估剩余标记的数量的设备可以被配置为使光在标记上通过，并且对剩余 标记的数量进行计数。根据本专利技术的第八方面，提供了一种确定磨损传感器经受的磨损的量的方法， 所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量磨损的设备，所述设备包括：　　主体，在第一端处具有可磨损部分；以及　　所述主体的导光区域，　　其中，所述导光区域在所述可磨损部分内具有反射部分，　　其中，所述射部分被配置为使被引导经过所述导光部分并且在所述反射部分处的光沿着所述导光部分向后反射，其中，由所述反射部分反射的光的一个或更多个特性与所述可磨损部分的磨损程度有关。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：布赖恩戴维斯，
申请(专利权)人：布赖恩投资有限公司，
类型：发明
国别省市：AU[澳大利亚]