对裂变室测量信号进行处理的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于确定可裂变物质沉积物的有效质量的方法，该方法的特征在于包括以下步骤：Ａ）测量步骤（Ｅ１），测量有效质量已知的可裂变物质沉积物的计数率，以形成矩阵［Ｃ］０，Ｂ）测量步骤（Ｅ２），测量可裂变物质沉积物的计数率，以形成矩阵［Ｃ］，以及Ｃ）计算步骤（Ｅ３），计算矩阵［ｍ］形式的待确定有效质量，使得：［ｍ］＝［Ｃ］．Ｉ（［ａ］×（［ａ］０－１×［ｍ］０－１×［Ｃ］０）），矩阵［ａ］是有效质量待确定的可裂变物质沉积物的同位素分析的已知矩阵，矩阵［ａ］０－１是与有效质量已知的可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵［ａ］０的逆矩阵，矩阵［ｍ］０－１是已知矩阵［ｍ］０的逆矩阵，其中，矩阵［ｍ］０的系数是已知有效质量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
及
技术介绍
本专利技术涉及无损测量技术的领域。更具体来讲，本专利技术涉及一种对测量信号进行处理的方法，其中，所述测量信号由 裂变室提供并通过有源中子探询法获得。本专利技术的处理方法尤其适用于处理由裂变室校准装置提供的原始信号，所述裂变 室校准装置例如是由本申请人在同一天提交的、名为“Deviceto measure count rates and associated fission chamber calibration device”的专利申请中所述的装置，本申请中 对这些装置进行了复述。裂变室用于检测中子。裂变室包含可裂变物质以及能够被电离的气体。在中子的 作用下，可裂变物质发射使所述气体电离的粒子。电离气体量反映了裂变室中接收的中子 的数量。仅有一部分被称为“有效质量”的可裂变物质参与了使所述气体电离的所述粒子 的发射。实际上，有关有效质量的精确信息对于确定绝对物理量(即，中子通量或谱指数) 而言是必需的。本专利技术的处理方法可用于根据由诸如上述装置的校准装置提供的测量值来 计算可裂变同位素的有效质量。截至目前，在核反应堆中，裂变室的校准是以热谱(或热柱)或者裂变谱的方式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定分别放置在Ｎ个测量裂变室中的Ｎ个可裂变物质沉积物的有效质量的方法，其中，Ｎ是１或更大的整数，所述方法的特征在于包括以下步骤：Ａ）第一测量步骤（Ｅ１），在此期间测量分别放置在Ｎ个校准裂变室中的有效质量已知的Ｎ个可裂变物质沉积物的计数率，以形成已知可裂变物质沉积物的计数率矩阵［Ｃ］↓［０］，其中，所述Ｎ个校准裂变室的外部尺寸分别与所述Ｎ个测量裂变室相同，Ｂ）第二测量步骤（Ｅ２），在此期间测量放置在所述Ｎ个测量裂变室中的Ｎ个可裂变物质沉积物的计数率，以形成可裂变物质沉积物的计数率矩阵［Ｃ］，所述第二测量步骤是在与执行所述第一测量步骤的测量条件相同的测量条件下执行的，以及Ｃ）计算步骤（Ｅ３...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：珍妮帕斯卡哈德洛特，珍妮米歇尔吉拉德，
申请(专利权)人：原子能和替代能源委员会，
类型：发明
国别省市：FR