非易失性纳米管二极管和非易失性纳米管区块与使用其的系统及其制造方法技术方案

技术编号:5453764 阅读:263 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在本发明专利技术的一方面,非易失性纳米管二极管器件包括:第一端子及第二端子;半导体元件,包括阴极及阳极,且能响应于施加至该第一导电端子的电刺激,在该阴极与阳极之间形成导电路径;以及纳米管开关元件,包括与该半导体元件电连通的纳米管结构制品,该纳米管结构制品设在该半导体元件与该第二端子之间,且能在该半导体元件与该第二端子之间形成导电路径,其中施加在该第一及第二端子上的电刺激造成多个逻辑状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及具有纳米管元件的非易失性开关器件,以及形成这些器件的方法。现有技术的讨论对于允许更大存储器功能的更高密度的存储器,有持续增加的需求,包括 独立式及嵌入式,其范围为从数百KB至超过1 GB的存储器。这些所需要具 有越来越高的密度、贩卖数量越来越多、以及每位价格更低的更大的存储器向 半导体行业提出挑战,以迅速地改进几何结构工艺特征。例如,这种需求将光 刻技术推动至更小的线宽及间距尺寸、各层之间有相对应的经改进对准、诸如 例如更小晶体管及储存元件的经改进的工艺特征/结构,但也包括容纳更大的存 储器功能、或组合的存储器与逻辑功能所需的增加的芯片大小。由于更小的几 何结构,对于更小大小的缺陷的敏感度增加,同时总缺陷密度必须显著地减少。当转换至新的更高密度的技术节点时,光刻及相对应的工艺改变对逻辑电 路与存储器支持电路而言,通常造成绝缘体与导体在X与Y方向尺寸减小0.7 倍,或者面积縮减2倍。通常加入对该存储单元而言独特的工艺特征,从而导 致除光刻改进所造成的面积縮减外额外面积縮减典型的0.7倍,以致存储单元 达到约2.8倍的单元面积縮减。在DRAM中,例如,诸如埋入式沟槽或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非易失性纳米管二极管器件,包括: 第一端子及第二端子; 半导体元件,包括阴极及阳极,且能响应于施加至所述第一导电端子的电刺激,在所述阴极与阳极之间形成导电路径;以及 纳米管开关元件,包括与所述半导体元件电连通的纳米管结 构制品,所述纳米管结构制品设置在所述半导体元件与所述第二端子之间,且能在所述半导体元件与所述第二端子之间形成导电路径; 其中施加在所述第一及第二端子上的电刺激造成多个逻辑状态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:CL伯廷T鲁克斯XMH黄R斯瓦拉贾EG根丘SL孔瑟科M梅恩霍德
申请(专利权)人:南泰若股份有限公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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