【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种对焦装置，尤其涉及一种影像测量仪的对焦装置。
技术介绍
影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法，该方法不仅精度高，而 且量测速度快。影像量测主要用于零件或者部件的尺寸物差和形位误差的测量，对保证产 品质量起着重要的作用。一般而言，在测量待测工件的轮廓或表面高度前，通常需要进行影像对焦，使得待 测工件的表面到镜头的距离等于焦距，能否准确的对焦，对保证测试的精度起着重要的作 用。影像自动对焦方法为在一定范围内移动电荷耦合装置(charge coupled deviCe，CCD) 的镜头，并不断获取待测工件表面的影像，然后根据获取的影像计算出CCD镜头的焦点位 置。然而，在对焦的过程中，通常被测工件表面会出现受光不均勻现象，使对焦的准确性降 低，况且，当所述被测工件表面的光滑度非常高的时候，比如光滑的玻璃片，由于光射到待 测工件的光滑表面反射回CCD时，所获取的影像中的轮廓信息非常少，在计算影像的清晰 度时准确度不高，从而也影响对焦的准确性。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种影像测量仪的对焦装置，其可以对光滑的被测工 件表面或粗糙的被测工件表面进行对焦，使被测工件表面受光均勻，提高了对焦的准确性。一种影像测量仪的对焦装置，包括一光学装置、一图案光装置、一同轴光装置、一 分光镜、一影像攫取装置及一光源，所述光源用于照射一待测工件，所述光学装置用于根据 图案光装置或同轴光装置所发出的光线对所述待测工件进行光学成像，所述影像攫取装置 用于通过所述光学装置感应所述待测工件的图像并将其转换为电信号以传输给一电脑系 统进行对焦分析，所述...
【技术保护点】
一种影像测量仪的对焦装置，包括一光学装置、一图案光装置、一同轴光装置、一分光镜、一影像攫取装置及一光源，所述光源用于照射一待测工件，所述光学装置用于根据图案光装置或同轴光装置所发出的光线对所述待测工件进行光学成像，所述影像攫取装置用于通过所述光学装置感应所述待测工件的图像并将其转换为电信号以传输给一电脑系统进行对焦分析，其特征在于：所述图案光装置通过所述分光镜与上述光学装置相连；所述同轴光装置通过所述分光镜与上述光学装置相连；所述图案光装置与同轴光装置以该分光镜为垂点成９０度夹角；及所述分光镜用于将所述图案光装置或同轴光装置发出的光线传送到所述光学装置。
【技术特征摘要】
1.一种影像测量仪的对焦装置，包括一光学装置、一图案光装置、一同轴光装置、一分 光镜、一影像攫取装置及一光源，所述光源用于照射一待测工件，所述光学装置用于根据图 案光装置或同轴光装置所发出的光线对所述待测工件进行光学成像，所述影像攫取装置用 于通过所述光学装置感应所述待测工件的图像并将其转换为电信号以传输给一电脑系统 进行对焦分析，其特征在于所述图案光装置通过所述分光镜与上述光学装置相连；所述同轴光装置通过所述分光镜与上述光学装置相连；所述图案光装置与同轴光装置以该分光镜为垂点成90度夹角；及所述分光镜用于将所述图案光装置或同轴光装置发出的光线传送到所述光学装置。2.如权利要求1所述的影像测量仪的对焦装置，其特征在于所述光学装置包括第一 透镜与第二透镜，及位于该第一透镜与第二透镜之间且与该第二透镜不平行的半透半反射^Ml O3.如权利要求1或2其中任一项所述的影像测量仪的对焦装置，其特征在于所述同 轴光装置包括依次安装在该同轴光装置内部的一同轴光源、一第三透镜及一第四透镜。4.如权利要求3所述的影像测量仪的对焦装置，其特征在于当所述待测工件表...
【专利技术属性】
技术研发人员：张旨光，李东海，蒋理，陈贤艺，洪毅容，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[]
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