用于光学位置测量装置的检测元件阵列制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于光学位置测量装置的检测元件阵列，通过它可以将在检测平面中引起的条纹图转换成电的扫描信号。该检测元件阵列由许多矩阵式地设置在行和列中的光敏检测元件组成。对至少一部分检测元件附设不多于两个的开关，通过它们使每个检测元件有选择地与一个或多个相邻的检测元件连接。对至少一部分检测元件附设存储元件，在其中可以寄存信息，它们给出，通过开关一个确定的检测元件在调整的扫描配置中与哪些相邻的检测元件连接。通过两个开关有选择地建立与在相同列中的相邻检测元件的直接连接和／或与在相邻行的相邻列中的倾斜相邻的检测元件的直接连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于光学位置测量装置的检测元件阵列。
技术介绍
已知的光学位置测量装置通常包括测量工具以及为此在测量方向上运动的扫描 单元。该扫描单元和测量工具通过两个物体连接，要确定它们相互间的相对位置和/或绝 对位置。在长度测量的情况下测量工具由直线测量尺构成，具有在测量方向上延伸的测量 分度，在旋转测量的情况下测量工具由分度盘构成，具有圆环形的测量分度。所述扫描单元 除了 一个或多个光源和光学元件如透镜、扫描光栅等以外，通常还包括检测装置。通过检测 装置在增量的位置测量装置的情况下在接触平面中扫描周期的条纹图，它根据测量工具与 扫描单元的相对运动调制。在检测装置的输出上提供与位移相关的调制的扫描信号在后面 电路中进行再处理。在此，在检测装置中越来越多地使用所谓的检测元件阵列。这种检测元件阵列由 许多窄的、大多矩形的发光二极管组成，它们在测量方向上相互相邻地设置并且适合地接 通。在此通常使那些发光二极管相互连接，它们在扫描测量工具时提供同相位的扫描信号。因此，通过设计这种检测元件阵列并使其匹配于不同的扫描配置带来相对较大的 费用。因此长期以来存在这种要求，使一种检测元件阵列本文档来自技高网...

【技术保护点】
一个用于光学的位置测量装置的检测元件阵列，通过它可以将在检测平面中引起的条纹图转换成电的扫描信号，该检测元件阵列由许多矩阵式地设置在行（Ｚ）和列（Ｓ）中的光敏检测元件（２４，２４０）组成，－其中对至少一部分检测元件（２４，２４０，３４０，４４０）附设开关（２５．１，２５．２，２５０．１，２５０．２，３５０．１，３５０．２，４５０．１，４５０．２），通过它们使每个检测元件（２４，２４０，３４０，４４０）有选择地与一个或多个相邻的检测元件（２４，２４０，３４０，４４０）连接和－其中对具有附属开关的检测元件（２４，２４０，３４０，４４０）附设至少一个存储元件（２６，２６０，３６０，４６０），在其中可...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：J奥伯豪泽，
申请(专利权)人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]