光盘设备和驱动该光盘设备的方法技术

一种光盘设备和一种驱动该光盘设备的方法，所述光盘设备包括：光聚焦元件，被布置为将从光源发射的光聚焦在盘上；致动器，根据施加到所述致动器的电压将光聚焦元件向着盘移动或远离盘移动；光强度检测单元，检测从盘反射的光的强度；伺服单元，产生间隙误差信号和第三电压，第三电压是第一电压和第二电压之和，并且所述伺服单元将产生的第三电压施加到致动器；控制单元，当光聚焦元件向着盘移动时，根据间隙误差信号和第三电压控制伺服单元以执行间隙拉入操作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的各方面涉及一种光盘设备和一种驱动该光盘设备的方法，更具体地讲，涉及一种近场光盘设备和一种驱动该光盘设备的方法，以防止由于在间隙拉入(pull-in) 方法中产生的过冲(overshoot)导致光聚焦元件和盘彼此碰撞，并且当致动器接近近场时 提供盘的快速加载。
技术介绍
近来，已经建议了实现大存储容量和高数据传输率(DTR)的近场光盘设备。近场 光盘设备还以近场记录系统为人们所知。近场光盘设备通过使用近场中的光在盘中记录和 /或再现数据，在近场中光不衍射。因此，近场光盘设备必须控制附在光聚焦元件(诸如物 镜)上的固体浸没透镜(Solid ImmersionLens, SIL)的端面和光盘之间的间隙距离，使得 间隙距离变得非常小(例如，几纳米)。基于SIL的近场光学系统必须在近场范围内跟踪盘的扰动，因此不能使用在传统 远场光盘驱动器中使用的聚焦伺服方法。因此，近场光学系统使用模式切换拉入方法。模 式切换拉入方法具有三个阶段接近阶段、交接阶段和间隙伺服阶段。在接近阶段，通过开 环将线性输出电压施加到致动器，以将致动器向近场区域移动，在近场区域中可执行感测 操作。随着致动器向近场区域移动并穿过近场区域，致动器接近盘。在交接阶段，通过规 则的输入来控制致动器的速度，以将致动器向目标位置移动和/或将致动器移动到目标位 置，从而防止与盘碰撞。在间隙伺服阶段，在目标位置执行盘的扰动。间隙伺服阶段与传统 远场光盘驱动器中的聚焦伺服阶段对应。
技术实现思路
技术问题模式切换拉入方法可过冲目标位置，这导致SIL和盘之间的碰撞，并且模式切换 拉入方法需要确定/获得关于盘的位置的信息以加载盘，这花费了时间。技术方案本专利技术的各方面提供一种，以解决由于过冲以 及确定/获得关于盘的位置的信息所花费的时间导致的延迟加载问题，所述过冲导致与盘碰撞。有益效果在根据本专利技术各方面的近场光盘设备中，在致动器持续向着盘移动的同时，或者 在致动器控制光聚焦元件持续向着盘移动的同时，致动器搜索近场区域，而不需要确定/ 获得关于盘的位置的信息，由此搜索从远场进入近场的点。另外，由于在检测到近场的点， 致动器的移动速度或致动器使得光聚焦元件移动的速度减小，因此可减小在间隙拉入操作 中产生的过冲。过冲的减小可防止盘和SIL碰撞，并且可减小拉入时间，这是因为不需要确 定/获得关于盘的位置的信息。附图说明通过参照附图详细描述本专利技术的示例性实施例，本专利技术的以上和/或其它特点及优点将会变得清楚，其中图1是示出根据本专利技术实施例的近场光盘设备的配置的框图；图2示出了当图1中的致动器上升时产生的间隙误差信号的示例；图3是示出根据本专利技术另一实施例的伺服单元和致动器的框图；图4A至图4C是示出根据本专利技术另一实施例的施加到致动器的驱动电压的图形；图5是示出根据本专利技术实施例的间隙拉入方法的图形；以及图6是根据本专利技术实施例的间隙拉入方法的流程图。最佳模式根据本专利技术的一方面，提供一种光盘设备，包括光聚焦元件，被布置为面对盘并将从光源发射的光聚焦在盘上；致动器，根据施加到所述致动器的电压将光聚焦元件向着 盘移动或远离盘移动；光强度检测单元，检测通过光聚焦元件反馈回的光的强度；伺服单 元，产生间隙误差信号和第三电压，第三电压是第一电压和第二电压之和，并且所述伺服单 元将产生的第三电压施加到致动器；控制单元，当光聚焦元件向着盘移动时，根据间隙误差 信号和第三电压控制伺服单元以执行间隙拉入操作。根据本专利技术的各方面，伺服单元可包括第一电压产生单元，产生第一电压；第二电压产生单元，产生第二电压；加法器，将第一电压和第二电压相加。根据本专利技术的各方面，第一电压可线性增大，第二电压可收敛于预定值。根据本专利技术的各方面，第一电压可以是斜坡电压，第二电压可以是低通滤波后的阶跃电压。根据本专利技术的各方面，斜坡电压的斜率可以是可变的。根据本专利技术的各方面，光聚焦元件可包括固体浸没透镜(SIL)。根据本专利技术的另一方面，提供一种用于光盘设备的间隙拉入方法，所述间隙拉入方法包括产生第一电压和第二电压；产生作为第一电压和第二电压之和的第三电压；将 产生的第三电压施加到致动器，所述致动器将光聚焦元件向着盘移动或远离盘移动；根据 施加的第三电压将光聚焦元件向着盘移动，以聚焦从光源发射的光，从光源发射的光被盘 反射；当光聚焦元件到达目标点时开始间隙伺服操作，所述目标点位于从盘反射的光的近 场区域内。本专利技术的另外方面和/或优点将在下面的描述中部分地阐明，并且从描述中部分是清楚的，或者通过本专利技术的实施可以被理解。具体实施例方式现在将详细描述本专利技术的实施例，其示例在附图中示出，其中，相同的标号始终表示相同的部件。下面通过参照附图来描述这些实施例以解释本专利技术的各方面。图1是示出根据本专利技术实施例的近场光盘设备100的配置的框图。参照图1，近场光盘设备100包括光源102、光处理单元103、光聚焦元件104、致动器105、光强度检测单元 106、伺服单元107和控制单元108。光聚焦元件104包括固体浸没透镜(SIL) 109。光源102可以是激光二极管。当光源102通过伺服单元107通电时，光源102发射光。光处理单元103将从光源102发射的光传递到光聚焦元件104，并且将从光聚焦 元件104反馈回的光传递到光强度检测单元106。为了执行该操作，光处理单元103可包 括准直透镜、变形棱镜(anamorphic prism)、光束分离器、波片、消色差透镜(achromatic lens)、放大透镜、沃拉斯顿(Wollaston)棱镜、光聚焦透镜等。然而，光处理单元103不限 于此，从而光处理单元103可将从光源102发射的光的一部分直接传递到光强度检测单元 106而不被盘101反射。光聚焦元件104面对盘101，并且包括SIL 109。光聚焦元件104将通过光处理单 元103输入其上的光聚焦在盘101上作为近场光，以将数据记录在盘101上或读取记录在 盘101上的数据。光聚焦元件104通过SIL 109接收被盘101反射或衍射的光，并且光聚 焦元件104将该光传播到光处理单元103。当驱动电压施加到致动器105时，致动器105上下移动，以将光聚焦元件104竖直 向上向着盘101移动，或者将光聚焦元件104远离盘101向下移动。因此，当致动器105竖 直上升时，光聚焦元件104接近盘101，当致动器105竖直下降时，光聚焦元件104远离盘 101。但是，本专利技术的各方面不限于此，从而当致动器105竖直下降时，光聚焦元件104可接 近盘101，当致动器105竖直上升时，光聚焦元件104可远离盘101。此外，当驱动电压施加 到致动器105时，致动器105不需要上下移动，而是致动器105可进行操作以将光聚焦元件 104向着盘移动或使光聚焦元件104远离盘移动，即，致动器105可一起移动，或保持静止， 并通过控制信号来控制光聚焦元件104的移动，或者是这两种方式的结合。当反射或衍射的光从光处理单元103输入时，光强度检测单元106检测输入到其 上的光的强度，从而产生间隙误差信号。此时，检测的光强度可对应于全反射反馈光的强 度。检测的光强度被发送到伺服单元107。光强度检测单元106可被配置为光电检测器的 形式。伺服单元107根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘设备，包括：光聚焦元件，被布置为将从光源发射的光聚焦在盘上；致动器，根据施加到所述致动器的电压将光聚焦元件向着盘移动或远离盘移动；光强度检测单元，检测经由光聚焦元件从盘反射的光的强度；伺服单元，产生间隙误差信号和第三电压，第三电压是第一电压和第二电压之和，并且所述伺服单元将产生的第三电压施加到致动器；控制单元，当光聚焦元件向着盘移动时，根据间隙误差信号和第三电压控制伺服单元以执行间隙拉入操作。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑安植，郑浚，金重坤，梁贤锡，郑钟三，朴鲁喆，李坰根，李镇京，辛钟玄，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，延世大学校产学协力团，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]