【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种通用光电位置检测装置，尤其是通过反射式光耦来精确地检 测物体位置的装置。
技术介绍
用反射式光耦来检测物体的有无或位置，是最常用的一种技术方法。为了能够探 测目标的位置，通常被测物应具有合适的反射标记面，并且这个面有足够的反射率。但是， 通常这样的探测方式并不能给出目标的精确位置，因为物体的标记，比如说一个被测凸台， 总有一定的面积，我们容易知道这个被测标记面是否在反射式光耦的有效探测范围内，但 要知道它的准确位置，比如中心线位置，一个简单的光耦是无能为力的。这一点可以从图1 的示意结构中很容易得出。这实际上是一个零位检测问题，成熟的方法包括反射式的零位光栅和透射式的零 位光栅，它们可以给出良好的(窄的)零位检测信号，但前者需要相对复杂精密的光学系 统，后者在很多应用场合在结构上是无法布置的。
技术实现思路
本技术针对上述诸多问题进行了改正，旨在提出一种结构简单，易于布置的 光电反射零位检测方案，适合应用在各种自动化设备中。具体的技术方案为一种平衡式光电位置检测装置，其包括检测台和反射式光耦探测器，所述检测台 位于被测物上；其特征在于其包括两个反射式光耦探...
【技术保护点】
一种平衡式光电位置检测装置，其包括检测台和反射式光耦探测器，所述检测台位于被测物上；其特征在于：其包括两个反射式光耦探测器，所述检测台的宽度与所述两个反射式光耦探测器中心线之间的宽度相等，检测的目标位置是所述检测台的中心线，所述两个反射式光耦探测器同时探测所述检测台的两个边缘，所述两个反射式光耦探测器分别连接有的Ｑ１，Ｑ２两个接受管，所述Ｑ１，Ｑ２两个接受管连接有平衡式检测电路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓东，黄小刚，
申请(专利权)人：深圳市东方宇之光电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]
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