内存工作电压范围测量方法技术

技术编号:5139641 阅读:1050 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种内存工作电压范围测量方法,包含:使一内存插设于一计算机。其中,计算机包含一重新开机接口。令一参考电压作为一工作电压,以提供给内存,并使计算机使用内存执行一内存测试程序。持续侦测计算机是否正常运作。在计算机执行完成内存测试程序时,将内存的工作电压记录为一先前电压。将工作电压加上一偏移量。提供加上后的工作电压给内存,并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不正常运作时,判定先前电压为内存的一第一电压临界值,透过重新开机接口,触发计算机重新开机,并测量内存的一第二电压临界值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种电压范围测量方法,且特别是有关于一种内存工作电压范围 测量方法。
技术介绍
只要打开计算机,计算机中的数据或程序,都需要靠内存(Memory)来暂时储存管 理。所以内存可以说是计算机系统中的最佳仓储管理员。内存其实不止一种,按功能又可 分成只读存储器(Read Only Memory,ROM)、闪存(Flash Memory)以及随机存取内存(Read Access Memory, RAM)等三种。其中,随机存取内存亦可称为主存储器,可用以随时读写,且具有极快得数据传输 速度。因此,通常使用随机存取内存作为操作系统或其它正在执行中的程序的临时数据储 存媒介。随机存取内存可分为静态随机存取内存(StaticRAM,SRAM)和动态随机存取内存 (Dynamic RAM,DRAM)。其中,SRAM具有快速存取的优点。但由于SRAM生产成本较为昂贵, 常被应用在快取(cache)。而DRAM由于具有较低的单位容量价格,所以被大量的采用作为 系统的主存储器。然而,在内存的使用时,需提供内存正确的工作电压,才能使内存正常运作。因此, 如何测量内存正常工作的工作电压范围,作为内存电压的设定依据,实为目前亟待解决的 问题之一。
技术实现思路
因此,本专利技术的一目的是在提供一种,用以测量内 存的工作电压范围。通过陆续提供不同工作电压给内存,并进行内存测试程序(memory stress),以取得内存的一第一电压临界值。在计算机不正常运作时,通过重新开机接口触 发计算机重新开机,以继续取得内存的一第二电压临界值。如此一来,通过第一电压临界值 以及第二电压临界值,即可得知内存的工作电压范围。依据本专利技术一实施例,一种包含使一内存插设于一 计算机。其中,计算机包含一重新开机接口。令一参考电压作为一工作电压,以提供给内 存,并使计算机使用内存执行一内存测试程序。持续侦测计算机是否正常运作。在计算机 执行完成内存测试程序时,将内存的工作电压记录为一先前电压。将工作电压加上一偏移 量。提供加上后的工作电压给内存,并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不 正常运作时,判定先前电压为内存的一第一电压临界值,透过重新开机接口,触发计算机重 新开机,测量内存的一第二电压临界值。其中,测量内存的第二电压临界值包含令参考电压减去偏移量作为工作电压,以 提供给内存,并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机执行完成内存测试程序时, 将内存的工作电压记录为另一先前电压。将工作电压减去偏移量。提供减去后的工作电压 给内存,并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不正常运作时,判定另一先前电3压为内存的第二电压临界值。其中,可判定内存的一工作电压范围为第一电压临界值以及 第二电压临界值之间。其中,持续侦测计算机是否正常运作包含持续自计算机接收一确认回复。在自计 算机收到确认回复时,判定计算机仍正常运作。其中,还包含持 续传送一确认要求至计算机。确认回复是透过一确认接口所取得。一确认接口可为内部整 合电路(Inter-Integrated Circuit,I2C)、串 亍端口 (Communication port, COM)或网络。其中,重新开机接口可为基板管理控制器(Base Management Controller,BMC)。 工作电压是透过一可调整电压的治具提供给内存。偏移量可透过一使用者接口设定。应用本专利技术具有下列优点。可通过陆续提供多组不同工作电压给内存,而取得内 存的工作电压范围,作为设定内存电压时的依据。此外,即使所提供的电压不在内存的工作 电压范围内,而造成计算机无法继续正常运作,仍可在计算机重新开机后,重新设定所提供 的工作电压,而使得计算机继续执行。因此,在测量内存工作电 压范围的过程中,不需使用人力在一旁随时准备将计算机重新开机。另外,在使用者透过使 用者接口设定较小的偏移量时,可使所测得的工作电压范围较为精确;在使用者透过使用 者接口设定较大的偏移量时,可使测量时所需提供的工作电压的组数减少,因而减少测量 所需的时间。附图说明为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说 明如下图1是依照本专利技术一实施例的一种的流程图;图2是图1中步骤210的一实施例。主要组件符号说明100 110 219:步骤具体实施例方式请参照图1,其是依照本专利技术一实施例的一种的流程 图。在中,通过陆续提供不同工作电压给内存,并进行内存测试 程序,以取得内存的一第一电压临界值。在计算机不正常运作时,通过重新开机接口触发计 算机重新开机,以继续取得内存的一第二电压临界值。其中,为了能提供不同工作电压给内 存,工作电压是透过一可调整电压的治具提供给内存。100包 含在步骤110中,使一内存插设于一计算机。其中,计算机包含一重新开机接口。重 新开机接口可为基板管理控制器或其它可用以触发计算机重新开机的数据传输接口。令一参考电压作为一工作电压(步骤120),并提供工作电压给内存(步骤130)。 在步骤140中,使计算机使用内存执行一内存测试程序。在步骤150中,侦测计算机是否正常运作。由于计算机在不正常运作(如当机或 出现错误)时,计算机将无法进行任何回复。因此,步骤150的侦测可通过持续自计算机接4收一确认回复而达成。其中,确认回复可透过一确认接口,如内部整合电路、串行端口、网络 或其它数据传输接口,所取得。在自计算机收到确认回复时,则判定计算机仍正常运作。此 外,在侦测计算机是否正常运作(步骤150)时,可持续传送确认要求至计算机,以使得计算 机回传确认回复。另外,亦可使计算机在执行内存测试程序时,自动传送确认回复。在其它 实施例中,亦可通过其它方式侦测计算机是否正常运作(步骤150),并不限于本实施例。在计算机正常运作时,判断计算机是否执行完成内存测试程序(步骤160)。其中, 可使计算机在执行完成内存测试程序时,回传一完成信息,作为步骤160的判断依据。在计 算机未完成内存测试程序时,持续侦测计算机是否正常运作(步骤150)。在计算机执行完成内存测试程序时,将内存的工作电压记录为一先前电压(步骤 170)。接下来,将工作电压加上一偏移量(步骤180),并提供加上后的工作电压给内存(步 骤130),以继续使计算机使用内存执行内存测试程序(步骤140)。其中,使用者可透过一 使用者接口自行设定偏移量。在计算机不正常运作时,则判定先前电压为内存的一第一电压临界值(步骤 190),并透过重新开机接口,触发计算机重新开机(步骤200)。在计算机重新开机后,便可 继续测量内存的一第二电压临界值(步骤210)。如此一来,即使提供的工作电压超出内存 的正常工作电压范围,而造成计算机无法继续正常运作,仍可在计算机重新开机后,重新设 定所提供的工作电压,而使得计算机继续执行。参照图2,其是图1中步骤210的一实施例。测量内存的第二电压临界值(步骤 210)包含令参考电压减去偏移量作为工作电压(步骤211),并提供减去后的工作电压给内 存(步骤212)。在步骤213中,使计算机使用内存执行内存测试程序。在步骤214中,侦测计算机是否正常运作。由于计算机在不正常运作(如当机或 出现错误)时,计算机将无法进行任何本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存工作电压范围测量方法,其特征在于,包含:使一内存插设于一计算机,其中该计算机包含一重新开机接口;令一参考电压作为一工作电压,以提供给该内存,并使该计算机使用该内存执行一内存测试程序;持续侦测该计算机是否正常运作;在该计算机执行完成该内存测试程序时,将该内存的该工作电压记录为一先前电压;将该工作电压加上一偏移量;提供该加上后的工作电压给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及在该计算机不正常运作时,判定该先前电压为该内存的一第一电压临界值,透过该重新开机接口,触发该计算机重新开机,并测量该内存的一第二电压临界值。

【技术特征摘要】
1.一种内存工作电压范围测量方法,其特征在于,包含 使一内存插设于一计算机,其中该计算机包含一重新开机接口 ;令一参考电压作为一工作电压,以提供给该内存,并使该计算机使用该内存执行一内 存测试程序;持续侦测该计算机是否正常运作;在该计算机执行完成该内存测试程序时,将该内存的该工作电压记录为一先前电压; 将该工作电压加上一偏移量;提供该加上后的工作电压给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及在该计算机不正常运作时,判定该先前电压为该内存的一第一电压临界值,透过该重 新开机接口,触发该计算机重新开机,并测量该内存的一第二电压临界值。2.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,测量该内存的该 第二电压临界值包含令该参考电压减去该偏移量作为该工作电压,以提供给该内存,并使该计算机使用该 内存执行该内存测试程序;在该计算机执行完成该内存测试程序时,将该内存的该工作电压记录为另一先前电压;将该工作电压减去该偏移量;提供该减去后的工作电压给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及在该计算机不正常运作时,判定该另一先前电压...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙佑良
申请(专利权)人:英业达股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术