本发明专利技术公开了一种金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法及其电解池装置，金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法包括敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法，以及敞开液膜厚度单独测控的方法。金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法采用的电解池装置包括：螺旋测微器、外螺纹绝缘棒、铂探针、内螺纹绝缘管、电极台、环形电极、圆形电极、辅助电极、电极负载台、容器、参比电极、零阻电流计。本发明专利技术适用于研究基体金属同时敞开和闭塞液膜关联环境下的腐蚀电化学行为；同时又可单独测控敞开液膜厚度，因此也适用于研究基体金属处于敞开薄层液膜单一环境下的腐蚀电化学行为。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法及其装置，特别是敞开液膜和闭 塞液膜联合测控方法及其电解池装置。
技术介绍
薄液膜腐蚀是金属材料遭受的最普遍一种腐蚀失效形式，尤其对于服役于大气环 境中的金属材料。对于大气环境中使用的金属材料，其遭受的薄液膜腐蚀环境存在不同 的形式，一种是敞开形式的薄层液膜，其特征是金属表面上形成的薄层液膜直接与大气相 通，薄层液膜裸露于大气中，即敞开薄层液膜，如裸露的金属或金属构件上形成的液膜 ’另 一种为闭塞形式的薄层液膜，其特征是金属表面上的薄层液膜不能直接与大气相通，如涂 层与基体金属间形成的电解质薄层，这种薄层电解质处于闭塞状态下，即闭塞薄液膜。目 前，已建立或报道的薄液膜腐蚀研究的装置只能模拟或适用敞开液膜或者闭塞液膜单一 环境，例如，安百刚、张学元、韩恩厚发表的“Si在模拟酸雨溶液及其液膜下的腐蚀”，《金 属学报》2004，40 :202-206，设计了一种用于研究金属在闭塞环境下腐蚀行为的电解池，采 用与螺旋测微器连接的有机玻璃棒来测量和控制金属表面上的闭塞液膜厚度，该电解池 只能测控处于大量溶液中金属表面上的闭塞液膜厚度，因而只适用于研究闭塞环境下金 属的腐蚀行为。曹楚南研究组为研究铝合金的大气腐蚀，设计了一种测控铝合金表面敞 开液膜厚度的电解池(Y.L.Cheng，Ζ. Zhang, F. H. Caoet al.，A study of the corrosion of aluminum alloy 2024-T3 under thin electrolyte layers, Corrosion Science 46 (2004) 1649-1667.)，该电解池采用与螺旋测微器连接的探针来测量金属表面的敞开液 膜厚度，但该电解池无法模拟闭塞液膜环境，只能用于研究金属处于敞开液膜单一环境的 腐蚀行为。然而，敞开液膜和闭塞液膜这两种形式的液膜通常同时存在并相互关联。如户 外应用的金属材料几乎都有涂层保护，但这种金属/涂层系统在服役过程中几乎都会发生 涂层的局部破损而使基体金属局部裸露，导致涂层沿局部破损区剥离并扩展。在涂层破损 区域，裸露金属表面形成的是敞开的薄层液膜，而由于毛细作用，裸露金属周边的涂层与基 体金属间也会形成电解质薄层，这种薄层电解质处于闭塞状态下，即闭塞薄液膜。对于涂层 局部破损区域，从局部裸露基体金属表面到其邻近涂层下的基体金属间能够形成连续的电 解质薄层，使基体金属同时处于敞开和闭塞薄层液膜关联环境下，因此发生于这两种形式 薄层液膜下的腐蚀过程也必然相互关联。例如，我们经常发现大气环境中应用的金属/涂 层体系，其涂层剥离沿着局部裸露金属区域扩展，这说明裸露金属在敞开薄液膜下的大气 腐蚀影响了相邻区域涂层下基体金属的腐蚀过程，即影响了处于闭塞液膜下的金属腐蚀过 程，从而影响了涂层的剥离失效过程。然而，目前仍没有适用于研究这种敞开和闭塞液膜关 联环境下金属电化学腐蚀行为的电解池装置。
技术实现思路
本专利技术提供了一种金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法及其电解池装置，用于研究基体金属处于敞开和闭塞液膜关联环境下，或者敞开液膜单一环境下的电化学腐蚀行 为。本专利技术提供的金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法，具体为金属在敞开液膜和闭 塞液膜关联环境下，敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法，和金属在敞开液膜单 一环境下，敞开液膜厚度的测控方法。敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法如 下以同种材料加工的两个具有相同形状的金属为研究电极，并将其用环氧树脂涂 封，研究电极间用环氧树脂绝缘填充绝缘，然后经打磨使研究电极上表面处于同一水平面； 用一连有钼探针的螺旋测微器，将其中一个电极与钼探针间连接一个零阻电流计，缓慢旋 动螺旋测微器使钼探针向电极表面移动，直至零阻电流计显示有电流通过，计下螺旋测微 器读数，然后反向移动探针至离开电极表面，之后向电极表面添加一定量的溶液至整个表 面形成完整的水膜，此时两个电极都处于敞开液膜下，之后再向下缓慢旋动测微器至电流 计显示有电流通过，此时记下测微器读数，通过计算两次读数差，得到金属电极表面敞开液 膜厚度，通过增减注入溶液的体积，并结合敞开液膜厚度测量，控制敞开液膜厚度。在测定 敞开液膜厚度后，将与金属电极具有相同形状，且下端面面积大于等于金属电极上表面面 积的绝缘体(如有机玻璃或聚四氟等)与螺旋测微器连接，绝缘体内穿埋有钼丝，其一端与 绝缘体下端面处于同一水平面，另一端从绝缘体上端引出，用于连接零阻电流计；与螺旋测 微器连接的绝缘体置于电极之一的正上方，将绝缘体与其正下方的电极间用零阻电流计连 接；然后向下旋动螺旋测微器至其显示有电流通过，此时绝缘体恰好与电极表面的敞开液 膜接触，并且使其正下方的电极处于闭塞液膜下，且闭塞液膜厚度与敞开液膜厚度相同。在 确定闭塞液膜厚度后，可固定绝缘体位置，即保持闭塞液膜厚度不变，然后下电极表面添加 溶液，增加敞开液膜厚度，然后用敞开液膜测量方法，再次测量敞开液膜厚度，因而可使闭 塞和敞开液膜具有不同的厚度。依此方法，可使金属材料处于敞开液膜和闭塞液膜关联环 境下，并可同时测控金属表面上的敞开液膜和闭塞液膜的厚度。敞开液膜厚度单独测控的方法如下当研究金属在敞开液膜单一环境下的腐蚀行为时，以其中一个电极为研究电极， 按照上述测控敞开液膜厚度测控方法进行测控。本专利技术提供的金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法采用的电解池装置，其特征在 于该电解池装置包括螺旋测微器、外螺纹绝缘棒、钼探针、内螺纹绝缘管、电极台、环形 电极、圆形电极、辅助电极、电极负载台、容器、参比电极、零阻电流计，其中螺旋测微器在电 解池上部，下面连接外螺纹绝缘棒，外螺纹绝缘棒内穿有钼丝，其一端在绝缘棒底端探出， 作为钼探针，另一端在侧面引出，与零阻电流计连接；内螺纹绝缘管套通过螺纹连接在外螺 纹绝缘棒下部，内螺纹绝缘管管壁穿埋有钼丝，其一端与绝缘管底端处于同一水平面，另一 端从绝缘管上端引出；电极台为带外罗纹连接的绝缘圆柱体，其上端面加工有圆形凹槽和 环形凹槽，电极台置于钼探针正下方，圆形电极置于电极台的圆形凹槽内，环形电极置于电 极台的圆形凹槽内，置入电极台的圆形和环形电极侧面用环氧树脂涂封，只暴露它们的上 端面；圆形电极和环形电极之间加工有一环形凹槽，此环形凹槽内放入辅助电极，容器形状 为圆筒形，电极负载台装在容器中心，容器上部加工有与电极台连接的内螺纹，电极台通过 螺纹连接在电极负载台上，在连接处通过0形圈密封，电极台上的电极引线从电极负载台底部引出容器外，参比电极装在容器上部一侧。所述的金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法采用的电解池装置，其特征在于所 说的内螺纹绝缘管管体上开有通气孔。所述的金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法采用的电解池装置，其特征在于所 说的圆形电极和环形电极与电极台上表面处于同一水平面。本专利技术提供的金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法及其电解池装置，与现有方法 及装置相比，其显著的优点在于可联合测控基体金属表面的敞开液膜和闭塞液膜厚度，适 用于研究基体金属同时敞开和闭塞液膜关联环境下的腐蚀电化学行为；同时又可单独测控 敞开液膜厚度，也适用于研究基体金属处于敞开薄层液膜单一环境下的腐蚀电化学行为研 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种金属液膜腐蚀的薄层液膜测控方法，其特征在于：该方法包括敞开液膜和闭塞液膜关联环境下，敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法，及敞开液膜单一环境下，敞开液膜厚度单独测控的方法，敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法如下：以同种材料加工的两块金属为研究电极，并将其用环氧树脂涂封，研究电极间用环氧树脂绝缘填充绝缘，然后经打磨使研究电极上表面处于同一水平面；用一连有铂探针的螺旋测微器，将其中一个电极与铂探针间连接一个零阻电流计，缓慢旋动螺旋测微器使铂探针向电极表面移动，直至零阻电流计显示有电流通过，计下螺旋测微器读数，然后反向移动探针至离开电极表面，之后向电极表面添加一定量的溶液至整个表面形成完整的水膜，此时两个电极都处于敞开液膜下，之后再向下缓慢旋动测微器至电流计显示有电流通过，此时记下测微器读数，通过计算两次读数差，得到金属电极表面敞开液膜厚度，通过增减注入溶液的体积，并结合敞开液膜厚度测量，控制敞开液膜厚度；在测定敞开液膜厚度后，将与金属电极之一具有相同形状，且下端面面积大于等于金属电极上表面面积的绝缘体与螺旋测微器连接，绝缘体内穿埋有铂丝，其一端与绝缘体下端面处于同一水平面，另一端从绝缘体上端引出，用于连接零阻电流计；与螺旋测微器连接的绝缘体置于电极之一的正上方，将绝缘体与其正下方的电极间用零阻电流计连接；然后向下旋动螺旋测微器至其显示有电流通过，此时绝缘体下端面恰好与电极表面的敞开液膜接触，并且使其正下方的电极处于闭塞液膜下，且闭塞液膜厚度与敞开液膜厚度相同，而另一电极仍处于敞开液膜下。在确定闭塞液膜厚度后，可固定绝缘体位置，即保持闭塞液膜厚度不变，然后下电极表面添加溶液，增加敞开液膜厚度，然后用敞开液膜测量方法，再次测量敞开液膜厚度，因而可使闭塞和敞开液膜具有不同的厚度。依此方法，可使金属表面处于敞开液膜和闭塞液膜关联环境下，并可同时测控金属表面上的敞开液膜和闭塞液膜的厚度。敞开液膜厚度单独测控的方法如下：当研究金属在敞开液膜单一环境下的腐蚀行为时，以其中一个电极为研究电极，按照上述测控敞开液膜厚度测控方法进行测控。...
【技术特征摘要】
1.一种金属液膜腐蚀的薄层液膜测控方法，其特征在于该方法包括敞开液膜和闭塞 液膜关联环境下，敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法，及敞开液膜单一环境下， 敞开液膜厚度单独测控的方法，敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法如下以同种材料加工的两块金属为研究电极，并将其用环氧树脂涂封，研究电极间用环氧 树脂绝缘填充绝缘，然后经打磨使研究电极上表面处于同一水平面；用一连有钼探针的螺 旋测微器，将其中一个电极与钼探针间连接一个零阻电流计，缓慢旋动螺旋测微器使钼探 针向电极表面移动，直至零阻电流计显示有电流通过，计下螺旋测微器读数，然后反向移动 探针至离开电极表面，之后向电极表面添加一定量的溶液至整个表面形成完整的水膜，此 时两个电极都处于敞开液膜下，之后再向下缓慢旋动测微器至电流计显示有电流通过，此 时记下测微器读数，通过计算两次读数差，得到金属电极表面敞开液膜厚度，通过增减注入 溶液的体积，并结合敞开液膜厚度测量，控制敞开液膜厚度；在测定敞开液膜厚度后，将与金属电极之一具有相同形状，且下端面面积大于等于金 属电极上表面面积的绝缘体与螺旋测微器连接，绝缘体内穿埋有钼丝，其一端与绝缘体下 端面处于同一水平面，另一端从绝缘体上端引出，用于连接零阻电流计；与螺旋测微器连接 的绝缘体置于电极之一的正上方，将绝缘体与其正下方的电极间用零阻电流计连接；然后 向下旋动螺旋测微器至其显示有电流通过，此时绝缘体下端面恰好与电极表面的敞开液膜 接触，并且使其正下方的电极处于闭塞液膜下，且闭塞液膜厚度与敞开液膜厚度相同，而另 一电极仍处于敞开液膜下。在确定闭塞液膜厚度后，可固定绝缘体位置，即保持闭塞液膜厚 度不变，然后下电极表面添加溶液，增加敞开液膜厚度，然后用敞开液膜测量方法，再次测 量敞开液膜厚度，因而可使闭塞和敞开液膜具有不...
【专利技术属性】
技术研发人员：安百钢，李莉香，
申请(专利权)人：辽宁科技大学，
类型：发明
国别省市：21
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