本发明专利技术公开了一种宽光谱微光器件阴极有效直径测试装置及方法，包括像增强器、宽光谱ＬＥＤ阵列、毛玻璃、显微镜、多维调节台和底座，毛玻璃位于像增强器和宽光谱ＬＥＤ阵列之间，第一Ｘ方向调节台位于第一Ｙ方向调节台之上，第二Ｘ方向调节台位于第二Ｙ方向调节台之上，构成多维调节台；显微镜位于多维调节台之上，像增强器夹持在夹具上，显微镜正对像增强器的荧光屏，位于另一个多维调节台之上；利用显微镜对光电阴极点亮区域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结构实现阴极有效直径的测试。本发明专利技术主要应用于紫外、红外和可见光像增强器的阴极有效直径测试，结构简约，功能实用，便于操作，测试速度较快，效果良好。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于紫外、红外和可见光像增强器的阴极有效直径测试领域，特别是宽光 谱微光器件阴极有效直径测试的装置及方法。
技术介绍
像增强器(也称像管、微光管)是一种重要的微光成像器件，它的主要作用是将夜 天光照明下的微弱目标图像进行增强，从而达到夜间观察的目的。像增强器通常由光电阴 极、电子倍增器、荧光屏、高压电源模块等功能部件组成。像增强器发展至今，经历了一代、二代、三代几个阶段，目前西方国家正在着手四 代像增强器的研制，但技术尚未成熟。伴随着NEA光电阴极的发展，三代像增强器成为世界 上众多国家的研究重点。与第二代像增强器相比，以GaAs光电阴极为核心的三代像增强器 由于阴极灵敏度高，大大扩展了夜视仪器的长波阈，将仪器的视距提高了 2 3倍，改善了 观察效果，开拓了微光夜视仪在远距离侦查、夜航和卫星定位等方面的应用。三代微光器件 广泛应用于车载、机载和单兵的微光夜视镜中，在现代战争，特别是夜战中发挥重要作用。 1982年的马岛战争，1990年的海湾战争，1999的科索沃战争和2003年的第二次海湾战争， 都是典型的战例。像增强器阴极有效直径是像增强器性能的重要表征，通过像增强器阴极有效直径 可以得到很多关于光电阴极的有用信息，从而为改进像增强器的光电阴极制备工艺提供了 依据。目前对阴极有效直径测试方法是辐射照在阴极面上后凭人眼判断有效区域的边 界，使用千分尺直接进行测量。此方法的缺点是测量者的主观因素影响较大，如视力、经验、心理等。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种简便快捷的像增强器阴极有效直径测试装置及方法。实现本专利技术目的的技术解决方案为本专利技术宽光谱微光器件阴极有效直径测试装 置，包括像增强器、宽光谱LED阵列、毛玻璃、显微镜、多维调节台和底座；毛玻璃位于像增 强器和宽光谱LED阵列之间，以使宽光谱LED阵列发出的光辐射经过毛玻璃后，均勻地照 射在像增强器上，物镜和目镜直接通过镜筒相连构成显微镜，物镜、目镜均有十字分划线结 构；第一 X方向调节台位于第一 Y方向调节台之上，第二 X方向调节台位于第二 Y方向调 节台之上，构成多维调节台；显微镜位于多维调节台之上，像增强器夹持在夹具上，显微镜 正对像增强器的荧光屏，像增强器夹具、宽光谱LED阵列、毛玻璃位于另一个多维调节台之 上；多维调节台、显微镜、像增强器、毛玻璃、宽光谱LED阵列均固定在底座上封装成一个整 体；利用显微镜对光电阴极点亮区域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结 构实现阴极有效直径的测试。本专利技术宽光谱微光器件阴极有效直径测试方法，利用显微镜对光电阴极点亮区域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结构实现阴极有效直径的测试；水平方向有效直径的测量接通宽光谱LED阵列，使辐射照在阴极面上，首先使像 增强器和显微镜物镜空间上对准，然后调节多维调节台，使显微镜的十字分划线交点对准 视场的一侧，沿着水平方向X方向移动像增强器，直至十字分划线交点对准视场的另一侧， 此时像增强器的移动距离就代表其水平方向的有效直径；垂直方向有效直径的测量首先使像增强器和显微镜物镜空间上对准，然后调节 多维调节台，使显微镜的十字分划线交点对准视场的最下侧，沿着水平方向Y方向移动像 增强器，直至十字分划线交点对准视场的最上侧，此时像增强器的移动距离就代表其垂直 方向的有效直径。本专利技术与现有技术相比，其显著优点本专利技术结构简约，功能实用，便于操作，测试 速度较快，效果良好。附图说明图1是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的结构示意图。图2是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的宽光谱LED阵列布 局示意图。图3是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的宽光谱LED阵列电 路板实物图，其中图(a)是LED阵列电路板正面，图(b)是LED阵列电路板反面。图4是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的像增强器引脚实 物图。图5是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的像增强器接线实 物图。图6是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置及方法的像增强器用高压 电源示意图。其中，12为总电源，13为-3000V电源输出开关，14为-3000V电源调节旋 钮，15为-3000V电压数显表，16为-2000V电源输出开关，17为-2000V电源调节旋钮，18 为-2000V电压数显表，19为7000V电源输出开关，20为7000V电源调节旋钮，21为7000V电压数显表。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步详细描述。结合图1，本专利技术是本专利技术宽光谱像增强器阴极有效直径测试装置，包括像增强器 7、宽光谱LED阵列9、毛玻璃8、显微镜5、多维调节台和底座1 ；毛玻璃8位于像增强器7和 宽光谱LED阵列9之间，以使宽光谱LED阵列9发出的光辐射经过毛玻璃8后，均勻地照射 在像增强器7上，物镜6和目镜3直接通过镜筒相连构成显微镜5，物镜6、目镜3均有十字 分划线结构；第一 X方向调节台4位于第一 Y方向调节台2之上，第二 X方向调节台11位 于第二 Y方向调节台10之上，构成多维调节台；多维调节台具有螺旋测微器的刻度结构， 实现三维位移调节，多维调节台具有千分尺刻度，多维调节台旋钮每旋转100格，位移改变 Imm,精度为0. Olmm,像增强器7的位移量可通过多维调节台的读数得出，显微镜5位于多维 调节台之上，像增强器7夹持在夹具上，显微镜5正对像增强器7的荧光屏，像增强器7夹具、宽光谱LED阵列9、毛玻璃8位于另一个多维调节台之上；多维调节台、显微镜5、像增强 器7、毛玻璃8、宽光谱LED阵列9均固定在底座1上封装成一个整体；利用显微镜5对光电 阴极点亮区域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结构实现阴极有效直径的 测试。本专利技术宽光谱微光器件阴极有效直径测试装置，像增强器7的电源由裸管专用高 压电源提供，像增强器用高压电源示意图如图6，从左到右的三个旋钮都是输出电压调节， 对应的量程分别是0 -3000V，0 -2000V，0 7000V，最左边的黑色按钮是电源开关，右 面三个绿色按钮是分电压开启按钮；像增强器7的阴极与处理器MCP的前端、MCP的前端与 MCP的后端、MCP的后端与荧光屏之间的电压分别为1000V、2000V、7000V，且阴极、MCP的前 端、MCP的后端、荧光屏电位逐次升高，如图4所示。本专利技术宽光谱微光器件阴极有效直径测试装置，宽光谱LED阵列9提供测试所需 的紫外到红外波段的均勻辐射，由稳压直流电源驱动，宽光谱LED阵列9由不同光谱的LED 相间排列，LED光源采用4个白光LED和8个紫外LED排成阵列形式，其布局如附图2所示， 目的是提供宽光谱的光源，宽光谱LED阵列9的面积大于阴极面的面积，宽光谱LED阵列9 与毛玻璃8配合使光均勻化，白光LED与紫外LED分别进行控制，可独立工作，亦可组合工 作，以实现宽光谱测量。自行设计的宽光谱LED阵列电路板实物图如附图3所示。本专利技术宽光谱微光器件阴极有效直径测试方法，利用显微镜5对光电阴极点亮区 域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结构实现阴极有效直径的测试；水平方向有效直径的测量接通宽光谱LED阵列9，使辐射照在阴极面上，首本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种宽光谱微光器件阴极有效直径测试装置，其特征在于：包括像增强器［７］、宽光谱ＬＥＤ阵列［９］、毛玻璃［８］、显微镜［５］、多维调节台和底座［１］；毛玻璃［８］位于像增强器［７］和宽光谱ＬＥＤ阵列［９］之间，以使宽光谱ＬＥＤ阵列［９］发出的光辐射经过毛玻璃［８］后，均匀地照射在像增强器［７］上，物镜［６］和目镜［３］直接通过镜筒相连构成显微镜［５］，物镜［６］、目镜［３］均有十字分划线结构；第一Ｘ方向调节台［４］位于第一Ｙ方向调节台［２］之上，第二Ｘ方向调节台［１１］位于第二Ｙ方向调节台［１０］之上，构成多维调节台；显微镜［５］位于多维调节台之上，像增强器［７］夹持在夹具上，显微镜［５］正对像增强器［７］的荧光屏，像增强器［７］夹具、宽光谱ＬＥＤ阵列［９］、毛玻璃［８］位于另一个多维调节台之上；多维调节台、显微镜［５］、像增强器［７］、毛玻璃［８］、宽光谱ＬＥＤ阵列［９］均固定在底座［１］上封装成一个整体；利用显微镜［５］对光电阴极点亮区域进行二维扫描，通过多维调节台的螺旋测微器刻度结构实现阴极有效直径的测试。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：富容国，常本康，钱芸生，邱亚峰，魏殿修，徐登高，詹启海，高频，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]
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