用于测量感兴趣对象的方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种测量感兴趣对象（１０１）的系统和方法。依照本发明专利技术，该系统包括：框架（１２０），其具有布置在已知位置和沿已知方向延伸的多个孔（１２１），每个孔被设置成与包括传感器（１３２）的棒（１３０）配合；以及装置（１４０），其用于当把棒插入到孔（１２１）中并且传感器（１３２）与感兴趣对象（１０１）的表面接触时测量每个传感器（１３２）的位置。此外，该系统包括处理器（１５０），该处理器（１５０）用于根据所述多个传感器的位置导出感兴趣对象的形状。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于测量感兴趣对象（１０１）的系统（１００），所述系统包括：－框架（１２０、２２０、３２０），其具有布置在已知位置和沿已知方向延伸的多个孔（１２１、２２１、３２１），每个孔被设置成与包括传感器（１３２）的棒（１３０）配合；以及－用于当把棒插入到孔（１２１）中并且传感器（１３２）与感兴趣对象（１０１）相接触时测量每个传感器（１３２）的位置的装置（１４０）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫铭，靳华，张莘，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[]