一种提高原子荧光检测性能的电路系统及实现方法技术方案

本发明专利技术公开了一种提高原子荧光检测性能的电路系统及实现方法，其系统增加一电流补偿器，通过调节补偿器改变输入放大器的参考电位，并和由光电倍增管接收到的杂散光信号值保持平衡，使得输入放大器的输出为零，达到完全补偿杂散光本底的目的。其方法包括如下步骤：（１）状态设置；（２）原子荧光本底补偿；（３）测试原子荧光值。本发明专利技术可将原子荧光检测分析灵敏度和检出限性能提高５倍左右，特别是在高杂散光本底原子荧光分析时具有重要意义，并使得为微弱荧光信号检测成为可能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种原子荧光光谱分析技术，尤其涉及提高原子荧光分析中的检测 灵敏度和检出限性能的电路系统以及该系统实现的方法。
技术介绍
原子荧光光谱法(AFS)是介于原子发射光谱(AES)和原子吸收光谱(AAS)之间 的光谱分析技术；它是使用激发光源照射含有一定浓度的待测元素的原子蒸气，从而使 基态原子跃迁到激发态，发出原子荧光；测定原子荧光的强度即可求得待测样品中该元素的含量。原子荧光是原子光谱的重要分支，其优点是光谱干扰少，因为样品中的待测原 子要经过吸收和发射两个过程，因而很多的原子荧光元素分析不使用色散系统，而只用 相应的狭带滤色片或者只用截止滤色片，利用初级光源的调制来区别不同待测元素的原 子荧光信号。原子荧光最重要的缺陷是原子化器和其中共存物产生的光散射暂无有效的克 服方法。因而在国际上除了单独的原子荧光测汞方法外其他原子荧光方法均未列入标准 方法。有文献报道，通过利用塞曼效应和对空心阴极灯施加脉冲调制磁场，对光散射 进行校正的方法，然而，这使得空心阴极灯结构复杂、价格昂贵，因而还未能够用于实践。原子荧光检测灵敏度和检出限是反映原子荧光光谱分析仪器性能好坏的两个关 键本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高原子荧光检测性能的电路系统，该系统主要包括光电倍增管、电流放大部分、模数转换部分，其特征在于，所述系统中还包括一电流补偿部分，光信号由所述光电倍增管接收放大后，传至电流放大部分，所述电流补偿部分调节改变输入电流放大部分的参考电位，并和由光电倍增管接收到的杂散光信号值保持平衡，使得电流放大部分的输出为零，实现完全补偿杂散光本底；所述电流放大部分将补偿过后的光信号放大后送至模数转换部分进行变换处理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建钢，刘志高，杨啸涛，
申请(专利权)人：上海光谱仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：31