本实用新型专利技术公开了一种光源试验装置，包括试验腔，试验腔内设置两个或两个以上被测光源，被测光源与可程控供电电源电连接，试验腔内设置能接收来自每一个被测光源发射光的取样装置，取样装置与测量仪表相连接，测量仪表和供电电源置于试验腔外，并且测量仪表和供电电源与上位机电连接。测量仪表和可程控供电电源通过程控联动，被测光源和测量仪表可按照一定的时序工作，这样最少使用一个光测量取样装置，能实现多个光源光学参数的测量，在不影响精度的前提下，测量成本大幅降低，且操作简单方便。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
一种光源试验装置
本技术属于试验装置领域，具体为一种光源试验装置。
技术介绍
寿命和温度特性是表征光源可靠性十分重要的指标，特别是对于LED这样的新光 源。以LED产品为例，目前通用的是用LED产品达到50%或70%初始光通量时间作为其寿 命时间，因此在寿命试验中，在老炼LED产品的同时还需要监视其光通量的相对变化；为了 缩短试验时间，有时还采用加速寿命方法，即提高光源所在的环境温度或者增大电流/电 压。LED等光源的光色电性能随温度的影响很大，因此光源的高低温耐受性、最高环境温度 等都是需要测试的指标。这些性能和指标的测量都可以在具有光学测量功能的试验箱内实 现，目前的方案一般有两种，一是在一个试验腔中仅试验一个光源，这种方法的测量成本较 高，尤其当测量一些体积较小的光源时，会浪费巨大的空间和其它资源(如将试验腔内的 温度升高到一定程度所需要的能量)；另一种方法是在一个试验腔中试验多个光源，同时 沿每个光源的光轴方向设置多个带遮光筒的测光采集装置，遮光筒是为了隔离其它光源发 出的光，每个测光采集装置都配备一个测量仪表，测量相应被测光源的光学参数，这种方法 需要设置多个测光采集装置和测量仪表，其测量成本也较高。
技术实现思路
本技术旨在解决上述现有技术中的缺陷，提供成本较低但测量精度较高的寿 命和温度特性试验方法及其装置。本技术是通过以下技术方案实现的一种光源试验装置，其特征在于包括试 验腔，试验腔内设置两个或两个以上被测光源，被测光源与可程控供电电源电连接，试验腔 内设置能接收来自每一个被测光源发射光的取样装置，取样装置与测量仪表相连接，测量 仪表和供电电源置于试验腔外，并且测量仪表和供电电源与上位机电连接。试验腔为光源的老炼寿命试验和温度特性试验提供了一个杂散光很低的试验环 境，并且在多数情况下，试验腔中的温度可控。上述的测量仪表和供电电源都与上位机连 接，实现自动化控制和记录，操作简单方便。光源在试验过程中，它在一定位置产生的照度 与其光通量成正比，在该位置的色度变化一般也与光源的平均颜色的变化相一致，因此通 过使测量仪表和可程控供电电源通过程控联动，被测光源和测量仪表均按照一定的时序工 作，这样最少使用一个取样装置和一个测量仪表就能够取样测量两个或两个以上被测光源 在一定试验时间内、在一定外部条件如温度、电流/电压下的光学参数，并可计算出光学参 数的相对变化量，如光通维持率、颜色漂移等，在不影响测量精度的前提下，大幅降低了测 量成本。本技术的光源试验装置还可以通过以下技术方案进一步限定上述的光测量取样装置为光纤取样器，所述的测量仪表为光度计或/和光谱辐射 计，光纤取样器通过光纤将采集的光信号传输给测量仪表。或者，上述的取样装置为光度探3头，所述的测量仪表为与光度探头相配合的光度计。上述的试验腔是具有温度控制功能的试验腔，在试验腔内设置监测腔内环境温度 的环境温度探头，在试验腔内或试验腔外设置加热冷却装置。在本技术方案中，可以通过对 环境温度的监控，实现光源的高低温循环耐受力、光源的最高允许环境温度以及加速寿命 试验等温度特性和寿命的测量。上述每个被测光源或与光源相接触的夹具上设置一个或一个以上监视光源自身 温度的光源温度测量探头，相对与环境温度的监测，被测光源自身温度的监测更加直观。上述的光源试验装置中仅有一台供电电源，该供电电源为所有光源提供一定时序 的供电；或者光源试验装置中有多台供电电源，每台供电电源为一个或多个光源供电。本技术的有益效果是仅需一个光测量取样装置，通过设定的光源工作和测量 时序就能实现多个光源光学参数的测量，在不影响精度的前提下，测量成本大幅降低，且操 作简单方便。附图说明附图1 本技术的光源试验装置实施例1的结构示意图；附图2 本技术的一种光源老炼和测量的时序图；附图3 本技术的光源老炼试验装置实施例2的结构示意图；附图4 本技术的另一种光源老炼和测量时序图。具体实施方式实施例1 如图1所示为本技术的一种光源试验装置结构示意图。包括一个杂散光较低 的试验腔1，试验腔1内可设置多个被测光源2，在本实施例中的试验腔1的下方老炼了 1# 到6#共6个大功率封装LED 2，这些LED 2被夹装在一个功位较多的夹具10上，且它们的 发光面向上。所有LED 2与同一个可程控供电电源3电连接，该供电电源3可为多路LED 提供正向电流、频率和占空比可调的供电。试验箱内的上方设置光测量光纤取样器4，光纤 取样器4下方设置有阻挡被测光源直射光的挡光板14。光纤取样器4通过传导光纤6与光 度计5相连，上述光度计5和供电电源3置于试验腔外。试验腔1具有温度监视和控制功 能，如图1所示，试验腔中设置有环境温度探头7，在试验腔外部还设置有加热制冷装置8， 该环境温度探头7和加热制冷装置8与试验控制单元9电连接；此外在每一个LED基板下 方的夹具10上设置光源温度测量探头11，光源温度测量探头11与多路温度计13连接，多 路温度计13与上位机12电连接，上述的供电电源3、光度计5、试验腔控制单元9都与上位 机连接，实现自动控制和结果显示。如图2所示为LED老炼试验的6个LED 2工作和光度计5取样的时序图。这些 LED 2逐个点亮并熄灭，在每一个LED点亮时，其它LED都处于熄灭状态。光度计5在每个 LED点亮时测量它在光线取样器4位置产生的照度，如在图2所示的周期内，光度计5在时刻测量1#LED产生的照度，在t2时刻测量2#LED产生的照度，以此类推。在某一个老 炼周期内，在、时间内1#LED产生的照度，将该值与上述周期内、时刻测得的照度值的 比值，用百分数表示，该值即为该老炼时间下1#LED的的光通维持率；同理，测量t2时间的4照度值并于上述1\周期内t2时刻测得的照度值相比，得到2#LED在该老炼时间的光通维持 率，以此类推得到每一个LED 2在某一老炼时间的光通维持率。在测量中，若试验腔内的温度保持为LED 2工作的额定温度(一般为室温)，则上 述过程测量的是常温下LED 2的光通维持率；若实验腔内具有较高的温度，则上述过程实 现LED2的加速老化试验。对试验腔的温度进行其它控制，如逐步升高试验腔内的环境温度，待在某一设定 温度下达到热平衡后逐个点亮和熄灭被测光源，测得每个被测光源在该温度下的光学参 数；或者使试验腔内的环境温度交替升高或者降低，并在达到热平衡一定时间后测量6个 LED 2的光度量，得到LED 2的相应温度特性。实施例2 如图3所示，为本技术的另一种光源老炼试验装置结构示意图。包括一个杂 散光很低的试验腔1，在试验腔1的下方老炼了 4个发光面向上的LED模组2，这些LED模 组2都各有一个可程控供电电源3对其单独供电，每个供电电源3的输出电压/电流、开关 频率和占空比均可调。试验腔1内的上方设置光纤取样器4，光纤取样器4下方设置有挡光 板14，光纤取样器4通过漫射器14能够接收到来自各个LED模组2的光线。光纤取样器4 通过传导光纤6与试验腔1外的光谱辐射计5相连。试验腔1具有温度监视和控制功能， 如图3所示，试验腔中设置有环境温度探头7，试验腔外围包裹加热制冷装置8，该环境温度 探头7和加热制冷装置8与试验腔本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光源试验装置，其特征在于包括试验腔（１），试验腔（１）内设置两个或两个以上被测光源（２），被测光源（２）与可程控供电电源（３）电连接，试验腔（１）内设置能接收来自每一个被测光源（２）发射光的取样装置（４），取样装置（４）与测量仪表（５）相连接，测量仪表（５）和供电电源（１）置于试验腔（１）外，并且测量仪表（５）和供电电源（１）与上位机（１２）电连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，李倩，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息有限公司，
类型：实用新型
国别省市：86[中国|杭州]
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