【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测温技术,尤其涉及一种基于双CCD(ChargeCoupled Device,电荷耦合器件)融合的四通道辐射温度场测量装置及方法。
技术介绍
在石油化工、冶金、钢铁、水泥、玻璃等工业生产行业的高温检测领域,辐射测温仪器具有巨大的市场需求和广阔的应用空间。例如,冶金行业的高温炉膛内部温度测量与控制对于生产过程有着重要的作用。在这些典型的应用领域,传统的热电偶接触式测温手段,由于测量的局限性以及高成本的材料消耗,目前正在逐步被价格较低、性能稳定、低消耗使用、非接触式的光学测温设备所取代。光学测温设备的应用将成为高温测量的主流趋势,现有技术已有的应用与研究现状可概括如下 一种是以点测量的光电/热释电传感器作为光学测温设备的探测传感器,通过在多个特定波长下的辐射强度测量,基于比色测温原理、多波长测温原理,实现高温物体的单点温度测量。例如,孙利群等人提出一种基于黑体辐射的双波长光电测温仪(公开号CN1687722),其应用于金属冶炼测温领域,利用和钢水达到热平衡的石英玻璃作为发光体,通过透镜、分光滤光片、窄带滤光片和光电转换器件实现两路波长信号的传输采集和转换,结合比色测温原理,以实现温度测量;刘玉芳等人提出了一种利用钽酸锂热释电探测器实现的实用化双波长光纤测温仪(光学技术,31(1)142-145,2005);戴景民等人先后建立了多波长辐射测温仪、便携式比色高温计(红外与毫米波学报,14(6)461-466,1995;热能动力工程,14(3)185-187,1999)。然而,上述几种设备都仅能实现单点温度测量,难于对具有一定几何形 ...
【技术保护点】
一种双CCD温度场测量装置,其特征在于,该装置包括:光学镜头、分光棱镜组、黑白CCD面阵传感器、彩色CCD面阵传感器及数据采集分析单元, 所述光学镜头,用于光学成像,将待测物体的辐射聚焦在所述分光棱镜组的入射面上; 所述分光棱镜组,将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射,分别从两个出射面出射; 所述黑白CCD面阵传感器,对所述分光棱镜组出射的近红外波段辐射进行成像,获取待测物体的近红外波段辐射信号; 所述彩色CCD面阵传感器,对所述分光棱镜组出射的可见光波段辐射进行成像,并分解转换为待测物体的红、绿、蓝三路波段辐射信号; 所述数据采集分析单元,采集所述近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号,并利用多光谱测温法进行温度场计算。
【技术特征摘要】
1、一种双CCD温度场测量装置,其特征在于,该装置包括光学镜头、分光棱镜组、黑白CCD面阵传感器、彩色CCD面阵传感器及数据采集分析单元,所述光学镜头,用于光学成像,将待测物体的辐射聚焦在所述分光棱镜组的入射面上;所述分光棱镜组,将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射,分别从两个出射面出射;所述黑白CCD面阵传感器,对所述分光棱镜组出射的近红外波段辐射进行成像,获取待测物体的近红外波段辐射信号;所述彩色CCD面阵传感器,对所述分光棱镜组出射的可见光波段辐射进行成像,并分解转换为待测物体的红、绿、蓝三路波段辐射信号;所述数据采集分析单元,采集所述近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号,并利用多光谱测温法进行温度场计算。2、如权利要求1所述的双CCD温度场测量装置,其特征在于,所述数据采集分析单元利用多光谱测温法进行温度场计算是根据以下方程组完成其中,上角标(i,j)表示传感器成像焦平面上任一点的坐标;分别表示彩色CCD面阵传感器在点(i,j)上的红、绿、蓝三路辐射强度输出值,表示黑白CCD面阵传感器在点(i,j)上的一路辐射强度输出值,为分别根据所述四路测量信号得到的已知量;为彩色CCD面阵传感器测量的非光谱因子,为黑白CCD面阵传感器测量的非光谱因子,并且通过光路校正调节使为未知量;λmin1~λmax1为可见光波段,λmin2~λmax2为近红外波段;SR(λ)、SG(λ)、SB(λ)分别表示彩色CCD面阵传感器的红、绿、蓝三个不同光谱响应与所述光学镜头、分光棱镜组光谱响应的综合光谱分布曲线,SIR(λ)为黑白CCD面阵传感器的光谱响应与所述光学镜头、分光棱镜组光谱响应的综合光谱分布曲线,均为已知量;Ti,j表示待测物体在点(i,j)上的温度,为未知量;Ib,λ(Ti,j)为与待测物体相同温度Ti,j下的黑体光谱功率分布函数,仅与温度Ti,j相关;ελ(Ti,j)为待测物体的光谱发射率函数,包含三个以下的待定参数。3、如权利要求2所述的双CCD温度场测量装置,其特征在于,所述待测物体的光谱发射率函数采用二阶多项式函数表征如下ελ(Ti,j)=a0+a1·λ+a2·λ2 (2)则方程组(1)的各方程左边为四个已知量右边包括Ti,j、Φi,j·a0、Φi,j·a1、Φi,j·a2四个未知量,因此方程组(1)的求解是封闭的。4、如权利要求3所述的双CCD温度场测量装置,其特征在于,根据以下步骤建立测温数据库实现温度场的实时计算将式(2)代入方程组(1)得到方程组(3),定义公式中仅与温度Ti,j相关的12个积分量为βIR,0、βIR,1、βIR,2、βR,0、βR,1、βR,2、βG,0、βG,1、βG,2、βB,0、βB,1、βB,2,其中,则将方程组(3)改写为方程组(4),预先对于每个温度求解所述12个积分量并建立存储温度与12个积分量对应关系的测温数据库,之后利用所述测温数据库及四个已知量对方程组(4)进行迭代运算,反演得到温度Ti,j。5、如权利要求1所述的双CCD温度场测量装置,其特征在于,所述待测物体为温度范围为1000K~300...
【专利技术属性】
技术研发人员:符泰然,余景文,龚玮,程晓舫,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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