蓝宝石凹、凸透镜粗加工曲率半径的测量方法技术

本发明专利技术涉及一种蓝宝石凹、凸透镜粗加工曲率半径的测量方法，将千分表的测杆穿过检测支架上半部孔，千分表的测量头伸出检测支架，形成蓝宝石透镜粗加工曲率半径的专用测量装置，将所述的专用测量装置放在检验平板上，调零；用专用测量装置检测蓝宝石凹或凸透镜的曲率半径，根据其Ｈｍａｘ和Ｈｍｉｎ数值，判断被测蓝宝石透镜的曲率半径是否合格。采用本发明专利技术方法能够保证在蓝宝石透镜粗加工过程中，透镜（直径≥１０．００ｍｍ，公差±０．１０ｍｍ）曲率半径的测量准确性，有操作简单、快速的优点，非常适合生产现场的批量检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量方法，特别涉及一种大直径蓝宝石凹、凸透镜粗加工曲率半 径的测量方法。
技术介绍
在蓝宝石透镜粗加工过程中，我们常常会遇见大直径透镜(透镜直径> 10. 00mm、 公差士0. 10mm)曲率半径的快速批量测量问题。蓝宝石透镜曲率半径可以采用球径仪、50倍卧式投影仪或万能工具显微镜检测。 由于粗加工时蓝宝石透镜表面比较粗糙(RzO. 8 Rz3. 2)，加上蓝宝石透镜为大直径(透镜 直径彡10. 00mm、公差士0. 10mm)时，因此采用上述方法检测，有以下缺点球径仪检测，蓝 宝石透镜表面与球径仪直接接触容易损伤球径仪的红宝石测量头(红宝石测量头比较昂 责)，且不适合生产现场批量检测；采用50倍卧式投影仪检测，由于50倍卧式投影仪的最 大测量范围是7. 00mm,对于直径> 7. 00mm的蓝宝石透镜不能完全投影，另外，由于蓝宝石 透镜直径> 10. 00mm，50倍卧式投影仪投影成像(尤其是凹透镜)不清晰，测量误差较大； 采用万能工具显微镜检测，由于通过万能工具显微镜观测到的蓝宝石凸透镜曲面线条不清 晰(凹透镜无法检测)，加上视觉误差等因素影响，同样有测量误差很大的缺点，且不适合 生产现场批量检测。千分表的测量精度虽可以达到0. 001mm，但是千分表无法直接检测蓝宝石透镜粗 加工曲率半径的数值。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种，本专利技术 方法测量准确性，有操作简单、快速的优点，非常适合生产现场的批量检测。实现本专利技术的技术方案是蓝宝石透镜粗加工曲率半径的测量方法，其特征在于有以下步骤(1)将千分表的测杆穿过检测支架上半部的孔，千分表的测量头伸出检测支架上 半部的孔，形成蓝宝石透镜粗加工曲率半径的专用测量装置。检测支架沿中心线设置有阶 梯孔，其中阶梯孔中直径较小的孔位于检测支架上半部，阶梯孔中直径较大的孔位于检测 支架下半部，检测支架的侧面设有螺孔，锁紧螺钉插入螺孔将测杆锁紧固定，所述检测支架 的外径和下半部孔的内径小于被测件弧面的最大弦长；(2)将步骤(1)所述的专用测量装置放在检验平板上，使检测支架的下端面以及 千分表的测量头与检验平板接触，旋转千分表，使千分表长表针对准0刻度线，将千分表调 零；(3)将经粗加工的蓝宝石透镜放在检验平板上，将专用测量装置放在蓝宝石透镜 的球面上，检测支架下半部孔的外径或内径的边缘分别与蓝宝石凹或凸透镜的球面圆线接 触，千分表的测头下降或上升，表针偏移数值为H，读出千分表显示的数值H ；(4)根据计算公式:权利要求一种，其特征在于有以下步骤(1)将千分表的测杆穿过检测支架上半部孔，千分表的测量头伸出检测支架的上半部孔，形成蓝宝石透镜粗加工曲率半径的专用测量装置，检测支架沿中心线设置有阶梯孔，其中阶梯孔中直径较小的孔位于检测支架上半部，阶梯孔中直径较大的孔位于检测支架下半部，检测支架的侧面设有螺孔，锁紧螺钉插入螺孔将测杆锁紧固定；(2)将步骤(1)所述的专用测量装置放在检验平板上，使检测支架的下端面以及千分表的测量头与检验平板接触，旋转千分表，使千分表长表针对准0刻度线，将千分表调零；(3)将经粗加工的蓝宝石透镜放在检验平板上，将专用测量装置放在蓝宝石透镜的球面上，检测支架下半部孔的外径或内径的边缘分别与蓝宝石凹或凸透镜的球面圆线接触，千分表的测头下降或上升，表针偏移数值为H，读出千分表显示的数值H；(4)根据计算公式 <mrow><mi>H</mi><mo>=</mo><mi>SR</mi><mo>-</mo><msqrt> <mrow><mo>(</mo><msup> <mi>SR</mi> <mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup> <mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mn>2</mn><mo>/</mo><mn>2</mn><mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn></msup><mo>)</mo> </mrow></msqrt> </mrow>式中SR为蓝宝石凹、凸透镜曲率半径、D2为测量装置测臂下端面的外侧或内侧两点之间的距离，令SR公差±0.10mm，D2的公差±0.01mm，计算出Hmax数值和Hmin数值，当千分表表针显示的数值H在Hmax和Hmin之间，则被测蓝宝石透镜的曲率半径SR合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述两测臂的下端面为水平端面。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述检测支架下半部孔的高度为检测支 架的高度的1/3。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述千分表测量头为球面。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述检测平板采用高强度、耐磨损的灰口 铸铁材料制备，其精度等级为1级，平面度为10·。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述检测支架的外径和下半部孔的内径 小于被测件弧面的最大弦长。全文摘要本专利技术涉及一种，将千分表的测杆穿过检测支架上半部孔，千分表的测量头伸出检测支架，形成蓝宝石透镜粗加工曲率半径的专用测量装置，将所述的专用测量装置放在检验平板上，调零；用专用测量装置检测蓝宝石凹或凸透镜的曲率半径，根据其Hmax和Hmin数值，判断被测蓝宝石透镜的曲率半径是否合格。采用本专利技术方法能够保证在蓝宝石透镜粗加工过程中，透镜(直径≥10.00mm，公差±0.10mm)曲率半径的测量准确性，有操作简单、快速的优点，非常适合生产现场的批量检测。文档编号G01B5/213GK101995203SQ20091010457公开日2011年3月30日 申请日期2009年8月10日 优先权日2009年8月10日专利技术者柏教林, 牟方财, 邓远东 申请人:重庆川仪自动化股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种蓝宝石凹、凸透镜粗加工曲率半径的测量方法，其特征在于有以下步骤：（１）将千分表的测杆穿过检测支架上半部孔，千分表的测量头伸出检测支架的上半部孔，形成蓝宝石透镜粗加工曲率半径的专用测量装置，检测支架沿中心线设置有阶梯孔，其中阶梯孔中直径较小的孔位于检测支架上半部，阶梯孔中直径较大的孔位于检测支架下半部，检测支架的侧面设有螺孔，锁紧螺钉插入螺孔将测杆锁紧固定；（２）将步骤（１）所述的专用测量装置放在检验平板上，使检测支架的下端面以及千分表的测量头与检验平板接触，旋转千分表，使千分表长表针对准０刻度线，将千分表调零；（３）将经粗加工的蓝宝石透镜放在检验平板上，将专用测量装置放在蓝宝石透镜的球面上，检测支架下半部孔的外径或内径的边缘分别与蓝宝石凹或凸透镜的球面圆线接触，千分表的测头下降或上升，表针偏移数值为Ｈ，读出千分表显示的数值Ｈ；（４）根据计算公式：　＊＊＊式中：ＳＲ为蓝宝石凹、凸透镜曲率半径、Ｄ２为测量装置测臂下端面的外侧或内侧两点之间的距离，令ＳＲ公差±０．１０ｍｍ，Ｄ２的公差±０．０１ｍｍ，计算出Ｈｍａｘ数值和Ｈｍｉｎ数值，当千分表表针显示的数值Ｈ在Ｈｍａｘ和Ｈｍｉｎ之间，则被测蓝宝石透镜的曲率半径ＳＲ合格。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：牟方财，柏教林，邓远东，
申请(专利权)人：重庆川仪自动化股份有限公司，
类型：发明
国别省市：85[中国|重庆]