全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置制造方法及图纸

全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置，结构光法三维测量技术在实际应用中，受各测量设备几何位置的限制，一次测量难以获得被测物的完整表面，最理想的结果是，在尽可能维持各设备不动的前提下，只需简单操作即能测量到被测物的完整表面，这就需要一种简单实用、操作灵活的被测物装夹定位装置。本实用新型专利技术的组成包括：夹具底座（１），所述的夹具底座上有垂直贯穿整个底座的圆孔系（２）和水平贯穿整个底座的圆孔（３），所述的圆孔中间穿过导轨（４），所述的导轨两端分别连接导轨端面（５），所述的导轨端面下面分别连接定位架（６）。本实用新型专利技术用于结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置。？（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置。技术背景 光学三维测量技术是获取物体三维信息最有效的手段之一。它具有非接触测量、 不需接触被测物表面、高采样密度等诸多优点。 目前，光学三维测量技术的主要实现途径有激光雷达法、莫尔法、结构光法、立体 视觉法等等。其中，结构光法是根据测量系统中各设备的空间几何位置关系，测得最终的三 维信息。近年来，基于结构光的三维测量方法得到了广泛应用。 结构光法三维测量技术在实际应用中，受各测量设备几何位置的限制，一次测量 难以获得被测物的完整表面。最理想的结果是，在尽可能维持各设备不动的前提下，只需简 单操作即能测量到被测物的完整表面。这就需要一种简单实用、操作灵活的被测物装夹定 位装置。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位 装置，在用于实际的三维测量时，可根据用户需求灵活的调整被测物的位置和角度，从而实 现对被测物表面的完整测量。 上述的目的通过以下的技术方案实现 全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置，其组成包括夹具底座，所 述的夹具底座上有垂直贯穿整个底座的圆孔系和水平贯穿整本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置，其组成包括：夹具底座，其特征是：所述的夹具底座上有垂直贯穿整个底座的圆孔系和水平贯穿整个底座的圆孔，所述的圆孔中间穿过导轨，所述的导轨两端分别连接导轨端面，所述的导轨端面下面分别连接定位架。

【技术特征摘要】
一种全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置，其组成包括夹具底座，其特征是所述的夹具底座上有垂直贯穿整个底座的圆孔系和水平贯穿整个底座的圆孔，所述的圆孔中间穿过导轨，所述的导轨两端分别连接导轨端面，所述的导轨端面下面分别连接定位架。2. 根据权利要求1所述的全角度结构光三维测量系统中的被测物装夹定位装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：于舒春，范剑英，王洋，林立军，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：实用新型
国别省市：93[中国|哈尔滨]