一种特殊不连续镀膜测试系统技术方案

本实用新型专利技术属于镀膜产品测试技术领域，特别涉及一种特殊不连续镀膜测试系统，它包括用于测试产品的导电性能的射频网络分析仪、用于放大信号的信号放大器、用于输出信号的输出数据设备、用于接收信号的接收数据设备，射频网络分析仪分别与信号放大器、接收数据设备电连接，信号放大器与输出数据设备电连接；本系统能对镀膜后的成品的导电性能进行测试，从而判断产品是否合格，本实用新型专利技术的测试准确率为１００％，测试结果准确可靠。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于镀膜产品测试
，特别涉及一种特殊不 连续镀膜测试系统。技术背景塑胶结构件常常通过镀膜使其具有良好的金属质感和透光率， 与此同时，镀膜也会对塑胶结构件的性能带来一定的影响，主要体 现在对电子产品信号接收、发射性能的影响，因此，往往需要对电 镀后的塑胶结构件对电子产品信号接收发射影响程度进行测量，以 判断产品是否合格。原始的测试系统通常采用万能表进行低端测周 高频端测频，采用以上测量系统，存在中界频率测量误差很大即存 在测量死角区域的问题。且原始的测试系统通常在塑胶结构件没有 进行镀膜、半成品时就进行测试，测试结果不够准确可靠。
技术实现思路
本技术的目的在于针对现有技术的不足而提供一种特殊不 连续镀膜测试系统，该系统能对镀膜后的成品的导电性能进行测试， 从而判断产品是否合格，测试结果准确可靠。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案 一种特殊不连续镀膜测试系统，它包括用于测试产品的导电性 能的射频网络分析仪、用于放大信号的信号放大器、用于输出信号的输出数据设备、用于接收信号的接收数据设备，射频网络分析仪 分别与信号放大器、接收数据设备电连接，信号放大器与输出数据 设备电连接。还包括防干扰器，所述的防干扰器与射频网络分析仪电连接。所述的射频网络分析仪包括高分辨率信号发生器、低谐波扫频 信号发生器和网络分析仪，网络分析仪分别与高分辨率信号发生器、 低谐波扫频信号发生器电连接。所述的射频网络分析仪还包括高灵敏度检波器和高方向驻波比 测试器，网络分析仪分别与高灵敏度检波器、高方向驻波比测试器 电连接。本技术有益效果为一种特殊不连续镀膜测试系统，它包括用于测试产品的导电性 能的射频网络分析仪、用于放大信号的信号放大器、用于输出信号 的输出数据设备、用于接收信号的接收数据设备，射频网络分析仪 分别与信号放大器、接收数据设备电连接，信号放大器与输出数据 设备电连接。将未镀膜的产品放在输出数据设备与接收数据设备中 间，测试该未镀膜的产品的导电性能，射频网络分析仪自动记录数 据，定义该数据为标准值；取出未镀膜的产品，放置镀膜后的成品， 测试该镀膜后的成品的导电性能，记录数据，定义该数据为测定值；以测定值与标准值对比，若测定值的损耗值不超过1%，即接收数据设备接收到经由镀膜后的成品的大于99%的信号，则判断镀膜后的 成品为不导电物即为合格品；若测定值的损耗值等于或大于1%，即接收数据设备接收到经由镀膜后的成品的小于99%的信号，则判断镀膜后的成品为导电物即为不合格品。本技术的测试准确率为100%，测试结果准确可靠。附图说明图1是本技术的原理框图。 附图标记1——射频网络分析仪2——信号放大器 3——输出数据设备4——接收数据设备 5——防干扰器具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的说明，见附图l。 一种特殊不连续镀膜测试系统，它包括用于测试产品的导电性 能的射频网络分析仪l、用于放大信号的信号放大器2、用于输出信 号的输出数据设备3、用于接收信号的接收数据设备4，射频网络分 析仪1分别与信号放大器2、接收数据设备4电连接，信号放大器2 与输出数据设备3电连接。射频网络分析仪1发出的信号源较微弱， 经由信号放大器2放大信号，再传输到输出数据设备3。镀膜后的成 品放置在输出数据设备3与接收数据设备4之间，输出数据设备3 输出的信号，经由镀膜后的成品，传输到接收数据设备4;输出数据 设备3输出的信号传输到接收数据设备4的过程中，会因外部干扰 因素如导电物造成空间数据损耗，导电物会接收部分信号，阻止接 收数据设备4对信号的接收。还包括防干扰器5，所述的防干扰器5与射频网络分析仪1电连接。防干扰器5采用屏蔽罩，将输出数据设备3与接收数据设备4 用固定架固定好，将输出数据设备3、接收数据设备4及固定架放入 屏蔽罩内，将屏蔽罩与射频网络分析仪1电连接。用屏蔽罩将输出 数据设备3与接收数据设备4的干扰源包围起来，防止干扰电磁场 向外扩散，同时防止它们受到外界干扰源的影响，保证测试的准确 性。所述的射频网络分析仪1包括高分辨率信号发生器、低谐波扫 频信号发生器和网络分析仪，网络分析仪分别与高分辨率信号发生 器、低谐波扫频信号发生器电连接。所述的射频网络分析仪1还包 括高灵敏度检波器和高方向驻波比测试器，网络分析仪分别与高灵 敏度检波器、高方向驻波比测试器电连接。采用上述组件的射频网 络分析仪l，可方便测试射频、微波频段元器件和部件的传输损耗、 反射损耗及绝对输出功率。本技术的操作步骤如下第一步将射频网络分析仪1和信号放大器2的电源插头插在 市电电源上，射频网络分析仪1和信号放大器2电连接；第二步先打开射频网络分析仪l，再打开信号放大器2; 第三步设定射频网络分析仪1波周线 a、反射性测试调整步骤操作利用射频网络分析仪l，设定反射性测试参数(1)按下射频 网络分析仪的MENU键，显示菜单；(2)按下S11键，打开设置选 择；(3)按下START键，显示射频网络分析仪1的设定频率；(4)按下STOP键，关闭设定频率；(5)按下CAL键，校正设定频率；(6)按下CALIBRATE MENU键，保存校正频率；(7)按下SCALE REF键，发射射频频率；(8)输入参考值0.08;b、 传输性测试调整步骤操作利用射频网络分析仪l，设定传输性测试参数(1)按下射频网络分析仪l的MENU键，显示菜单；(2)按下S21键，打开设置 选择；(3)按下START键，显示射频网络分析仪1的设定频率；(4) 按下STOP键，关闭设定频率；(5)按下CAL键，校正设定频率；(6)按下CALIBRATE MENU键，保存校正频率；(7)按下SCALE REF键，发射射频频率；(8)输入参考值0.08; (9)按下XI键，确 定开始测试；c、 射频网络分析仪l的显示屏出现波周线； 将未镀膜的产品放在输出数据设备3与接收数据设备4中间，测试该未镀膜的产品的导电性能，记录数据，定义该数据为标准值； 取出未镀膜的产品，放置镀膜后的成品，测试该镀膜后的成品的导 电性能，记录数据，定义该数据为测定值；以测定值与标准值对比， 若测定值的损耗值不超过1 % ，即接收数据设备4接收到经由镀膜后 的成品的大于99。％的信号，则判断镀膜后的成品为不导电物即为合 格品；若测定值的损耗值等于或大于1%，即接收数据设备4接收到 经由镀膜后的成品的小于99%的信号，则判断镀膜后的成品为导电 物即为不合格品。该测试系统的测试准确率为100%，测试结果准确 可靠。以上所述仅是本技术的较佳实施方式，故凡依本技术 专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均 包括于本技术专利申请范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种特殊不连续镀膜测试系统，其特征在于：它包括用于测试产品的导电性能的射频网络分析仪（１）、用于放大信号的信号放大器（２）、用于输出信号的输出数据设备（３）、用于接收信号的接收数据设备（４），射频网络分析仪（１）分别与信号放大器（２）、接收数据设备（４）电连接，信号放大器（２）与输出数据设备（３）电连接。

【技术特征摘要】
1、一种特殊不连续镀膜测试系统，其特征在于它包括用于测试产品的导电性能的射频网络分析仪(1)、用于放大信号的信号放大器(2)、用于输出信号的输出数据设备(3)、用于接收信号的接收数据设备(4)，射频网络分析仪(1)分别与信号放大器(2)、接收数据设备(4)电连接，信号放大器(2)与输出数据设备(3)电连接。2、 根据权利要求1所述的一种特殊不连续镀膜测试系统，其特征在于还包括防干扰器(5)，所述的防干扰器(5)与射频网...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧胤，张学章，刘红彪，
申请(专利权)人：东莞劲胜精密组件股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[]