一种测试夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试夹具，包括主支架，设于所述主支架上至少一个用以固定被测试部件的定位板、设有探针的测试针盘及可抵推所述定位盘使被测部件的测试点与所述探针点触的顶针组件，所述测试针盘连接有测试电路，所述测试电路与相应的测试仪器连接。本实用新型专利技术提供的这种测试夹具，结构简单、操作方便，能准确、快速地将探针与被测试点良好接触，从而完成对被测试部件的检测，较现有技术中导线连接的方式，生产效率大大提高。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子
，更具体地说，是涉及一种用于电子检测的测试夹具。
技术介绍
目前应用于电子产品的电路板、芯片等集成度起来越高，电子元件越来越多，布线 也越来越复杂，这些电路板、芯片在应用于电子产品前要经过100%的检验，在没有测试工 装的情况下，在检测时一般要通过焊接导线，连接外围电路与相应的测试仪器、仪表连接。 这种方式不仅效率低，同时增加焊接导线的次数可能对电路板或芯片造成损伤，降低可靠 性。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于提供一种测试夹具，这种测试夹具结构简 单、成本低，能准确、快速地对被测试部件进行检测。为解决上述技术问题，本技术的技术方案是提供一种测试夹具，包括主支 架，设于所述主支架上至少一个用以固定被测试部件的定位板、设有探针的测试针盘及可 抵推所述定位盘使被测部件的测试点与所述探针点触的顶针组件，所述测试针盘连接有测 试电路，所述测试电路与相应的测试仪器连接。进一步地，所述主支架包括一水平基座及与水平基座垂直设置的至少一支撑架， 所述测试针盘、定位板依次叠设于所述基座上，所述定位板底部设有可穿入所述测试针盘 的连接柱以及与所述探针对应的贯穿孔，所述顶针组件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李明清，赵素芳，
申请(专利权)人：深圳市瑞必达电源有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94