一种大科学装置真空室检测系统及装调方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种大科学装置真空室检测系统及装调方法，该系统包括基准支架、两轴正交运动控制系统、点激光测距组网模组以及遥控系统，所述基准支架用于承载真空室；所述遥控系统控制所述两轴正交运动控制系统带动所述点激光测距组网模组沿X轴和Y轴移动；所述点激光测距组网模组包括顶部内外两个第一点激光测距仪，用于采集所述真空室上表面平面度数据；底部内外两个第二点激光测距仪，用于采集所述基准支架的平面度数据；中部一个第三点激光测距仪，用于采集所述真空室侧面直线度数据。本发明专利技术通过优化真空室检测系统和装调步骤，能够实时检测装调精度，减少人工干预环节，提升装配智能化水平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及大科学装置建造，尤其涉及一种大科学装置真空室检测系统及装调方法。

技术介绍

1、当前全球科技领域竞争加剧，以粒子加速器为代表的大科学装置建设逐步提速，这对大科学装置元部件空间大尺度准直、定位、装配的精度和效率都提出了更高要求，安装精度通常要求达到亚毫米甚至数十微米。激光跟踪仪在大测量范围内具有高精度、靶球自动捕捉、采集效率高、便携性好等优点，是粒子加速器领域实现精准装调的核心设备。而大型超导直线加速器大科学装置在建造过程中需要安装高精度真空室，真空室平面度精度要求是4m范围内小于0.1mm，真空室直线度精度要求是4m范围内小于0.2mm，这对工程设计带来了新的挑战。现有采用激光跟踪仪来辅助真空室装调精度的方法存在以下问题：

2、(1)装调基准不一致：针对每一副真空室支架，激光跟踪仪需要重复建立基准面，导致真空室装调精度基准不一致；

3、(2)装调随机误差大：真空室平面度精度通过多组螺栓(每组螺栓包含内外两个调节螺栓)来调节，人工随机放置激光跟踪仪靶球采集数据的方式存在检测位置随机性大，装调前后对比度不高，随机误差大等问本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大科学装置真空室检测系统，其特征在于，包括基准支架、两轴正交运动控制系统、点激光测距组网模组以及遥控系统，

2.如权利要求1所述的大科学装置真空室检测系统，其特征在于，所述大科学装置真空室检测系统包含第一坐标系和第二坐标系，所述第一坐标系以所述两轴正交运动控制系统的零位为X轴、Y轴零位，以底部内侧的所述第二点激光测距仪的测量零位为Z轴零位来表征空间任意位置三维坐标值；所述第二坐标系以所述两轴正交运动控制系统的零位为X轴零位，以Y轴运动到检测位置时中部的所述第三点激光测距仪的测量零位为Y轴零位来表征任意位置二维坐标值。

3.如权利要求1所述的大科学装置真空室...

【技术特征摘要】

1.一种大科学装置真空室检测系统，其特征在于，包括基准支架、两轴正交运动控制系统、点激光测距组网模组以及遥控系统，

2.如权利要求1所述的大科学装置真空室检测系统，其特征在于，所述大科学装置真空室检测系统包含第一坐标系和第二坐标系，所述第一坐标系以所述两轴正交运动控制系统的零位为x轴、y轴零位，以底部内侧的所述第二点激光测距仪的测量零位为z轴零位来表征空间任意位置三维坐标值；所述第二坐标系以所述两轴正交运动控制系统的零位为x轴零位，以y轴运动到检测位置时中部的所述第三点激光测距仪的测量零位为y轴零位来表征任意位置二维坐标值。

3.如权利要求1所述的大科学装置真空室检测系统，其特征在于，所述真空室包括上表面和侧面，所述真空室的上表面设有多组用于调节所述真空室上表面平面度的第一螺栓，每组所述第一螺栓包含内外两个，所述点激光测距组网模组顶部的内外两个所述第一点激光测距仪分别与同组中的两个所述第一螺栓一一对应；所述真空室的侧面设有多个用于调节真空室侧面直线度的第二螺栓，所述点激光测距组网模组中部的第三点激光测距仪与所述第二螺栓对应。

4.一种如权利要求1至3中任一项所述的大科学装置真空室检测系统的装调方法，其特征在于，包括如下步骤：

5.如权利要求4所述的装调方法，其特征在于，步骤1中，将所述真空室放置到所述基准支架上，调整所述基准支架的位置，使所述第一点激光测距仪能够采集到所述真空室上表面的平面度数据；调整所述真空室上表面的第一螺栓，使所述第三点激光测距仪能够采集到所述真空室侧面的直线度数据。

6.如权利要求5所述的装调方法，其特征在于，步骤2中，利用所述两轴正交运动控制系统带动...

【专利技术属性】
技术研发人员：王丽，罗海燕，陈晓明，袁山山，张磊，宗旭，周峰，江强，金华，张诚诚，秦刚旺，秦跃忠，钱凯明，金婷，
申请(专利权)人：上海市激光技术研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：