一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法技术

本发明专利技术提供一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，所述方法包括使用LightGBM算法分析测试模式之间的相关性；提取可预测模式及其特征重要性排名；使用贪婪前向特征选择算法提取预测所需的最少特征模式；剔除特征集合中的不可预测模式并建立有向图；对可预测模式进行拓扑排序并提取可删除模式；建立预测模型并对可删除模式进行预测。本方法能在保持低逃逸率水平的情况下删减一部分测试模式并输出完整的测试模式结果，减少了测试时间，有效提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于集成电路测试领域，涉及机器学习领域，具体涉及一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法。

技术介绍

1、随着集成电路工艺的迅速发展以及摩尔定律的提出，如今芯片中所集成的晶体管数量已达上亿之多，内部电路的复杂度也越来越高，传统的故障模型逐渐难以涵盖新的缺陷，新的故障模型使得测试向量和测试项数目呈指数增加，传统测试若要实现高故障覆盖率，就要尽可能考虑所有的故障类型，所需要的测试向量和测试项数目则会更多，这就导致自动测试设备(ate)的测试时间显著增加，测试成本不断攀升。在传统的测试过程中，所有的测试项和测试模式都将被应用在待测芯片上，这样做的好处是能够对芯片进行全面的检测，保证出厂的芯片全部符合要求，缺点是将耗费大量的测试时间。现如今每一款量产的芯片其产量都将达到成千上万颗，在测试过程中会产生大量的测试数据，基于数据分析的适应性测试方法开始逐渐取代传统测试方法。适应性测试可以根据以往的测试结果动态调整之后的测试方案，从而缩短整体的测试流程。

2、测试模式是由自动测试向量生成(atpg)基于芯片的触发器单元及组合逻辑电路生成的用本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤1包括：

3.根据权利要求2所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤2包括：

4.根据权利要求3所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤3包括：

5.根据权利要求4所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤4包括：

6.根据权利要求5所述的一...

【技术特征摘要】

1.一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤1包括：

3.根据权利要求2所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，其特征在于：所述步骤2包括：

4.根据权利要求3所述的一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘成亮，刘文盛，夏豪杰，宋仁成，黄亮，李若琛，党帆，李梓源，
申请(专利权)人：合肥工业大学，
类型：发明
国别省市：