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本发明提供一种基于测试模式相关性分析的集成电路适应性测试方法，所述方法包括使用LightGBM算法分析测试模式之间的相关性；提取可预测模式及其特征重要性排名；使用贪婪前向特征选择算法提取预测所需的最少特征模式；剔除特征集合中的不可预测模式并...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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