【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体，尤其涉及一种芯片的自动化测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、相关技术中，通过手动设置信号发生器产生正弦波，经过adc芯片将正弦波转换为数字信号，通过逻辑分析仪将数字信号由二进制转换为十进制数据，数据存放成txt文档，将txt文件中数据交由算法软件计算，获得ac性能参数值，手动记录每一颗样品测试结果。该方法流程复杂，效率低下，无法实现自动化测试。
技术实现思路
1、本专利技术解决的技术问题是提供一种芯片的自动化测试方法、装置及存储介质，可以自动选取芯片，并生成芯片测试所需的正弦波信号，对芯片进行自动化测试，减少了芯片的测试时长，提高了芯片测试效率。
2、为了解决上述技术问题，本申请的技术方案如下：
3、根据本申请实施例的第一方面，提供一种芯片的自动化测试方法，所述方法应用于测试系统中的控制主机，所述测试系统包括芯片测试设备、信号发生器、芯片分选机以及所述控制主机，所述信号发生器、所述芯片分选机均与所述控制主机电连接，所述芯片测试设备与所述控...
【技术保护点】
1.一种芯片的自动化测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统中的控制主机，所述测试系统包括芯片测试设备、信号发生器、芯片分选机以及所述控制主机，所述信号发生器、所述芯片分选机均与所述控制主机电连接，所述芯片测试设备与所述控制主机通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述测试数据进行解析，得到测试结果之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述接收所述芯片测试设备发送的所述测试数据，并对所述测试数据进行解析，得到测试结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于...
【技术特征摘要】
1.一种芯片的自动化测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统中的控制主机，所述测试系统包括芯片测试设备、信号发生器、芯片分选机以及所述控制主机，所述信号发生器、所述芯片分选机均与所述控制主机电连接，所述芯片测试设备与所述控制主机通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述测试数据进行解析，得到测试结果之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述接收所述芯片测试设备发送的所述测试数据，并对所述测试数据进行解析，得到测试结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述若至少一个芯片性能参数超出所述至少一个芯片性能参数对应的芯片指标参考范围，确定所述当前芯片的测试结果为测试失败结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述向所述芯片分选机发送所述当前芯片的测试结果，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试系统还包括芯片压合装置以及印刷电路板，所述芯片压合装置包括弹簧针以及芯片底座，所述印刷电路板的金属接触点与所述弹...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄海辉，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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