一种光谱仪波长标定方法及装置制造方法及图纸

技术编号:46593537 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:27
本发明专利技术涉及光谱标定技术领域,具体涉及一种光谱仪波长标定方法及装置,包括:基于光谱仪的光栅旋转和预设探测器,获取光谱仪的定标数据;对定标数据中预设探测器对应的全局虚拟像素阵列进行虚拟中心求解,得到定标数据对应的入射角和虚拟像素中心位置;基于定标数据、入射角和虚拟像素中心位置,构建全局物理模型;基于全局物理模型,构建物理约束样条模型;基于物理约束样条模型将定标数据转换为预测入射角;基于所局物理模型和预测入射角,确定定标数据对应的目标波长。该方法通过建立光学参数与数学模型的联合优化机制,在保证光学定律物理真实性的前提下,仅需少量标定点即可实现光谱仪的高精度标定,提高了光谱标定稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱标定,具体涉及光谱标定中一种光谱仪波长标定方法及装置


技术介绍

1、现有基于多项式拟合的光栅光谱仪波长定标方法,其核心原理是通过标准光源(如汞灯、氩灯)的特征谱线峰值位置与探测器像素的对应关系,建立波长与像素位置的多项式模型。利用最小二乘法拟合系数,实现像素到波长的映射。该方法虽在小角度衍射的线性场景下计算简便,但精度与稳定性不足而且缺失物理约束。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种光谱仪波长标定方法及装置,所采用的技术方案具体如下:

2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种光谱仪波长标定方法,该方法包括:

3、基于光谱仪的光栅旋转和预设探测器,获取所述光谱仪的定标数据;

4、对所述定标数据中所述预设探测器对应的全局虚拟像素阵列进行虚拟中心求解,得到所述定标数据对应的入射角和虚拟像素中心位置;

5、基于所述定标数据、入射角和虚拟像素中心位置,构建用于计算光谱仪的波长的全局物理模型;

6、基于所述全局物理模型,构建表征波本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述光谱仪波长标定方法包括:

2.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于光谱仪的光栅旋转和预设探测器,获取所述光谱仪的定标数据,包括:

3.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于所述定标数据、入射角和虚拟像素中心位置,构建用于计算光谱仪的波长的全局物理模型,包括:

4.根据权利要求3所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于光栅衍射原理,确定波长与所述入射角、衍射角以及光栅结构之间的内在联系,包括:

5.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定...

【技术特征摘要】

1.一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述光谱仪波长标定方法包括:

2.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于光谱仪的光栅旋转和预设探测器,获取所述光谱仪的定标数据,包括:

3.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于所述定标数据、入射角和虚拟像素中心位置,构建用于计算光谱仪的波长的全局物理模型,包括:

4.根据权利要求3所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于光栅衍射原理,确定波长与所述入射角、衍射角以及光栅结构之间的内在联系,包括:

5.根据权利要求1所述的一种光谱仪波长标定方法,其特征在于,所述基于所述全局物理模型,构建表征波长与所述定标数据对应的光学参数之间的映射关系的物理约束样条模型,包括:

6....

【专利技术属性】
技术研发人员:刘鸿飞陈新华刘斌邹强
申请(专利权)人:奥谱天成湖南信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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