【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路测试，具体涉及一种集成电路测试数据记录系统以及记录方法。
技术介绍
1、随着现在在集成电路芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高、超大规模集成电路制造工艺的不断进步，对集成电路的测试也是必不可少的一项工作，这些测试数据能够被充分地加以统计和分析，对于芯片整体的特性，以及设计、工艺、封装等方面的问题非常具有价值。
2、如公告号为cn112526317a的专利技术所公开的一种集成电路测试数据记录方法，1)将本批次电路的所有编号记录在编号池中；2)在测试时，根据测试电路板上的位置定义好各个电路的位置，操作人员只需要根据电路板上的电路在软件中对应位置输入编号；3)比对输入的电路编号是否在编号池中；4)比对输入的电路编号在之前测试中是否已经出现过；5)根据sql中记录的编号和结果生成报表，该方案可以简化操作人员的操作，降低操作人员的操作难度，提高测试操作人员的生产质量，减少测试统计员数据检查、实物核对所需要的时间，方便快速生成报表。
3、但是上述方案在数据记录时，无法对集成电路测试数据中的异...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，包括数据源模块、数据采集模块以及数据分析模块；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，所述集成电路测试的结构化数据包括标准测试数据(STDF)，所述标准测试数据(STDF)包括文件属性记录(FAR)、主信息记录(MIR)、位置描述记录(SDR)、引脚映射记录(PMR)、部件信息记录(PIR)、参数测试记录(PTR)、功能测试记录(FTR)、数据日志记录(DTR)、部件结果记录(PRR)。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，所述数据采集模块用...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，包括数据源模块、数据采集模块以及数据分析模块；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，所述集成电路测试的结构化数据包括标准测试数据(stdf)，所述标准测试数据(stdf)包括文件属性记录(far)、主信息记录(mir)、位置描述记录(sdr)、引脚映射记录(pmr)、部件信息记录(pir)、参数测试记录(ptr)、功能测试记录(ftr)、数据日志记录(dtr)、部件结果记录(prr)。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，所述数据采集模块用于将集成电路测试的结构化数据进行提取、清洗、转换、合并和加载，使其整合呈标准化的集成电路测试数据。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试数据记录系统，其特征在于，所述集成电路测试的结构化数据提取，具体为：使用sql查询、api调...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚佳琪，唐皓，
申请(专利权)人：江苏航顺集成电路技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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