【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于机器视觉领域，尤其涉及一种图像传感器瑕疵矫正方法、系统及介质。
技术介绍
1、图像传感器广泛应用于各类成像设备，其成像质量直接影响最终图像的准确性和可靠性。然而，图像传感器在生产过程、封装环节或长期使用中，容易引入各种瑕疵。这些瑕疵主要表现为两类：传感器半导体层自身的物理缺陷（如坏点）和覆盖在传感器表面的滤光片的污染、划伤或材料退化。这些瑕疵的一个典型表现是导致传感器特定位置的像素点响应率（responsivity）下降，即该像素对入射光信号的转换效率低于正常水平，反映在采集的图像数据上即为局部区域的像素值异常偏低（偏暗）。
2、这种局部响应率下降造成的图像瑕疵严重影响了成像质量，在高精度检测、科学成像、安全监控等场景下可能引发误判或信息丢失。目前解决此类问题的主要方式分为前端标定和后端处理两种。前端标定通常在工厂进行，通过拍摄标准光源或标靶识别坏点信息并生成校正映射表，但这只能解决出厂时存在的瑕疵，无法应对设备使用过程中因环境、老化等因素产生的新瑕疵。后端处理则依赖于复杂的图像处理算法，尝试在软件层面识别并修...
【技术保护点】
1.一种图像传感器瑕疵矫正方法，利用图像传感器采集不同图像数据，以确认图像传感器瑕疵位置并进行矫正，其特征在于，所述矫正方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，计算调整前后图像传感器所获取的两次图像数据中同一标靶位置对应的两个像素值的比值包括：
3.根据权利要求2所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，筛选所述比值超出预设阈值时，所对应的图像传感器瑕疵位置包括：根据两个像素值的比值确认两个像素值中的较小值，并标记较小值对应的图像传感器像素位置，以作为图像传感器瑕疵位置。
4.根据权利要求3所...
【技术特征摘要】
1.一种图像传感器瑕疵矫正方法，利用图像传感器采集不同图像数据，以确认图像传感器瑕疵位置并进行矫正，其特征在于，所述矫正方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，计算调整前后图像传感器所获取的两次图像数据中同一标靶位置对应的两个像素值的比值包括：
3.根据权利要求2所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，筛选所述比值超出预设阈值时，所对应的图像传感器瑕疵位置包括：根据两个像素值的比值确认两个像素值中的较小值，并标记较小值对应的图像传感器像素位置，以作为图像传感器瑕疵位置。
4.根据权利要求3所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，所述矫正系数计算方法包括：
5.根据权利要求3所述的一种图像传感器瑕疵矫正方法，其特征在于，所述矫正系数计算方法包括：统计图像传感器正常位置的实际像素值的平均值，从而计算该平...
【专利技术属性】
技术研发人员：张光宇，邵云峰，杨晨飞，曹桂平，董宁，
申请(专利权)人：合肥埃科光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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