一种铁电晶体管、FeFET存储器阵列及芯片制造技术

技术编号:46573931 阅读:2 留言:0更新日期:2025-10-10 21:18
本申请提供了一种铁电晶体管、FeFET存储器阵列及芯片。铁电晶体管,包括:自下而上依次堆叠的半导体沟道、中间介电层、反铁电层、铁电层和栅极层;或者,自下而上依次堆叠的半导体沟道、中间介电层、反铁电层、阻挡层、铁电层和栅极层;或者,自下而上依次堆叠的半导体沟道、中间介电层、铁电层、反铁电层、阻挡层和栅极层;阻挡层为、、、或ONO;反铁电层为或,x为0.07至0.15。铁电层在硅晶圆厂工艺中常用且无污染,在掺杂浓度、厚度、温度和应力变化方面有稳定性;改善NVM在耐久性周期和数据保持方面的特性;能防止干扰,避免读写的延迟。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及存内计算存储器,尤其涉及一种铁电晶体管、fefet存储器阵列及芯片。


技术介绍

1、铁电场效应晶体管(ferroelectric field effect transistor,fefet)是一种金属氧化物半导体(metal oxide semiconductor,mos)晶体管,由栅电极、铁电介电层和带有源极与漏极的半导体沟道组成。我们可以在半导体沟道与铁电介电层之间插入介电中间层(inter dielectric layer,il),以防止铁电介电层与半导体层之间的相互扩散。fefet的工作原理是利用铁电介电材料剩余极化的切换,通过在栅电极上施加外部正电压或负电压来诱导down偶极子和up偶极子,如图1所示。由于铁电介电层内部存在永久偶极子,半导体沟道的电导率将根据铁电介电层中down偶极子或up偶极子的场效应而变化,因此,可以通过铁电晶体管阈值电压(vt)的变化来确定其处于on状态(较低的vt)还是off状态(较高的vt)。铁电材料的重要参数包括:剩余极化(pr)、矫顽场(ec)和饱和极化(psat),剩余极化(pr)是去除外部电场后可切换本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.种铁电晶体管,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的铁电晶体管,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的铁电晶体管,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

5.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

6.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

7.一种FeFET存储器阵列,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的FeFET存储器阵列,其特征在于,

9.根据权利要求7所述的FeFET存储器阵列,其特征在于,对选中的铁电晶体管进行写操作时,

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【技术特征摘要】

1.种铁电晶体管,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的铁电晶体管,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的铁电晶体管,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

5.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

6.根据权利要求3所述的铁电晶体管,其特征在于,

7.一种fefet存储器阵列,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的fefet存储器阵列,其特征在于,

9.根据权利要求7所述的fefet存储器阵列,其特征在于,对选中的铁电晶体管进行写操作时,

10.根据权利要求7所述的fefet存储器阵列,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱志龙
申请(专利权)人:上海深明奥思半导体科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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