【技术实现步骤摘要】
本公开涉及但不限于一种芯片测试方法、设备及存储器芯片。
技术介绍
1、在集成电路领域，芯片测试是一项至关重要的工作。芯片测试是对芯片能够检测出芯片中的缺陷和错误，尽可能筛选出合格的芯片，确保芯片在各种应用场景下的可靠性和稳定性。同时，芯片测试可以分析芯片的性能和功能，了解芯片在各种工作负载下的表现。
2、随着集成电路技术的不断发展，芯片的集成度呈指数级增长，这对芯片测试工作也提出了更高的要求，需要更高的测试覆盖率、信号完整性和能效评估。
技术实现思路
1、有鉴于此，本公开实施例提供了一种芯片测试方法、设备及存储器芯片，能够提高测试效率、降低测试成本并提高良率。
2、本公开实施例的技术方案是这样实现的：
3、本公开实施例提供了一种芯片测试方法，所述芯片测试方法包括：进入压缩读写测试模式，通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据；进入正常读写测试模式，在所述待测芯片内部，将所述测试数据通过数据焊盘进行预设次数的内部循环读写；进入所述压缩...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，每次所述内部循环读写对应一个第二目标地址；
3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述进入压缩读写测试模式，通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据之前，所述芯片测试方法还包括：向所述待测芯片发送激活命令；
4.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，
5.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述数据时...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，每次所述内部循环读写对应一个第二目标地址；
3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述进入压缩读写测试模式，通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据之前，所述芯片测试方法还包括：向所述待测芯片发送激活命令；
4.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，
5.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述数据时钟是基于所述系统时钟而得到的，包括：
7.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：
8.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：张瑞，杨勇，
申请(专利权)人：长鑫闵科存储技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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