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本公开实施例公开了一种芯片测试方法、设备及存储器芯片。芯片测试方法包括：进入压缩读写测试模式，通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据；进入正常读写测试模式，在待测芯片内部，将测试数据通过数据焊盘进行预设次数的内部循环...
该专利属于长鑫闵科存储技术（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫闵科存储技术（上海）有限公司授权不得商用。

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